
- •74.Атомно-силовой микроскоп (асм)
- •88,89. Качественный и количественный термический анализ. Определение чистоты хим. Веществ методом дта (дифференциальный термический анализ).
- •82,83.Дифференциальный термический анализ (дта)
- •84,85.Термогравиметрический анализ
- •79.Измерение диэлектрической проницаемости порошков.
- •80.Измерение диэлектрических св-в тв материалов.
- •75.Методы измерения удельного сопротивления
- •77.Однозондовый метод
- •65,66.Оптическая микроскопия
- •97.Потенциометрические сенсоры
- •93. Сенсоры на основе мдп-структур
- •94.Тепловые сенсоры
- •95.Термокаталитические сенсоры
- •78. Измерение диэлектрических сво-в жидкостей
- •76.Четырехзондовый метод
95.Термокаталитические сенсоры
Они работают на эффекте изменения электрофизсв-в чувствительного элемента в процессе нагрева за счет энергии, выдел-ся в результате каталитич. реакции. Наиболее распространены многоэлектродные сенсоры (пеллисторы), предст. собой спираль из платиновой проволоки толщиной 5-25 мкм, покрытой слоем керамики Al2O3, поверх которой нанесен слой катализатора – палладий или платина. Принцип работы основан на тепловом эффекте каталитич окисления газа на поверхности катализатора, сопровождающееся изменением температуры сенсора. В пеллистрах вместо керамического покрытия используется полупроводниковое.
68-70.Электронная микроскопия
Для того, чтобы увеличить разрешающую способность микроскопа в 1930 г. было предложено использовать вместо светового излучения (фотоны hv) поток электронов, длина волны которых определяется по формуле:
h/m,
где - длина волны де-Бройля,
h – постоянная Планка = 6, 62410-34 Джс,
m – масса электронов = 0,910-27 г ,
- скорость электрона, кот можно регулировать с помощью разности потенциалов.
Предельная разрешающая способность электронных микроскопов в тысячи раз больше, чем у оптических, т. к. длина волны электронов в тысячи раз меньше, чем у фотонов.
Для того, чтобы получить изображение объектов в электронном микроскопе используется поток электронов, испускаемые раскаленным катодом. Управляются электроны с помощью внешних электромагнитных полей.
Электронное изображение формируется электрическими и магнитными полями также, как световое, - оптическими линзами.
Устройство фокусировки и рассеивания электронного пучка называют электронными линзами.
Т. к. глаз не может непосредственно воспринимать электронные пучки, они направляются на люминесцентные экраны мониторов.
Nэл107
Наибольшее распространение получил растровый электронный микроскоп (РЭМ). В таком микроскопе тонкий луч электронов диаметром около 10 нм сканирует образец по горизонтальным строчкам точку за точкой и синхронный сигнал передает на монитор (процесс аналогичен работе телевизора). Источник электронов металл (вольфрам), из кот при нагревании в результате термоэлектронной эмиссии испускаются электроны.
Главный недостаток электронной микроскопии – это необходимость работы в полном вакууме, наличие какого-либо газа внутри камеры микроскопа может привести к ионизации атомов газа и существенно исказить результаты анализа. Кроме того электроны оказывают негативное воздействие на биологические объекты, что делает их неприменимыми для исследований во многих отраслях биотехнологий.
Электронный микроскоп позволяет увидеть атомную решетку и различить атомы, однако его разрешение недостаточно, чтобы увидеть внутриатомную структуру или строение химических связей в молекуле. Для этой цели разрабатываются нейтронные микроскопы.
Нейроны имеют в 2 тысячи раз больше массу, чем у электрона, а в 2 тыс раз меньше. Недостаток нейтронных микроскопов – нейтроны не реагируют на воздействие магнитных и электрических полей.