
- •74.Атомно-силовой микроскоп (асм)
- •88,89. Качественный и количественный термический анализ. Определение чистоты хим. Веществ методом дта (дифференциальный термический анализ).
- •82,83.Дифференциальный термический анализ (дта)
- •84,85.Термогравиметрический анализ
- •79.Измерение диэлектрической проницаемости порошков.
- •80.Измерение диэлектрических св-в тв материалов.
- •75.Методы измерения удельного сопротивления
- •77.Однозондовый метод
- •65,66.Оптическая микроскопия
- •97.Потенциометрические сенсоры
- •93. Сенсоры на основе мдп-структур
- •94.Тепловые сенсоры
- •95.Термокаталитические сенсоры
- •78. Измерение диэлектрических сво-в жидкостей
- •76.Четырехзондовый метод
96.Амперометрия – это область вольтамперных измерений электро-хим систем, вкот между парой электродов приклад-ся потенциалы. Ток, протекающий через границу раздела электрод-жидкость, зависит от электрохимических реакций, происходящих на границах раздела.
На вольтампернойхарак-ке обычно имеется область (плато – область применения вольтамперометрии), где ток практически не зависит от приложенного напряжения. Ток в этой области возрастает в результате электрохимич реакции пропорционально конц-и реагирующего агента. (Рисунок)
Схема амперометрич-го сенсора О2:
Амперометрич сенсорные датчики применяются для газового анализа (например для анализа О2). В качестве рабочего электрода исп-т Ag или Pt, а в качестве электрода сравнения – Pb, Zn или Fe.
В жидком электролите протекают химические реакции с участием газообразного кислорода:
O2 + 4H+ + 4e = 2H2O
2H2O + 4e → 4OH-
74.Атомно-силовой микроскоп (асм)
Работа АСМ основана на измерении сил межатомных связей.
По мере приближения иглы к поверхности ее атомы все сильнее притягиваются к атомам образца. Сила притяжения будет возрастать пока игла к поверхности не сблизится настолько, что их электронные облака начнут отталкиваться электростатически.
При дальнейшем сближении электростатич. отталкивание экспоненциально ослабляет силу притяжения. Эти силы уравновешиваются на расстоянии между атомами =0,2 нм.
В качестве зонда АСМ обычно используется алмазная игла с радиусом закругливания =10нм, закрепленная вертикально на конце горизонтальной пластинки-консоли.
Рисунок
Острие сканирующей иглы наз-сятипом, а консоль-контилевером.
Контилевер имеет длину 200мкм, ширина 30мкм, изготовлен из мат-ла с малым коэфф-ом жесткости.
При изменении силы, действующей между поверхностью и острием, контилевер, на котором закреплена игла отклоняется и это регистрируется датчиком.
Т.о. зонд ощупывает поверхность образца в буквальном смысле слова. Мельчайшее отклонение от контилевера детектируют с помощью лазерного луча, отражающегося от его поверхности на фотодиод.
Показания фотодиода передается на компьютер.
Разрешающая способность АСМ достигает 0,1-1,0 нм по горизонтали и 0,01-по вертикали.
Преимущество: возможность исследовать атомную структуру как электропроводящих, так и неэлектропроводящих материалов.
Разновидности АСМ:1.Магнитно-силовой микроскоп; 2.Электро-силовоймик-п; 3.Сканирующе-тепловой мик-п; 4. Сканирующий фрикционный мик-п; 5. Магнитно-резонансный мик-п; 6. Атомно-силовой акустический мик-п.
+77.Бесконтактные методы
являются неразрушающимися, т.е. не надо для измерений изготавливать образцы специальной геометрической формы и не надо наносить контакты.
В качестве бесконтактных наиболее часто применяют индуктивный и емкостный метод. Для измерения ρ индуктивным методом используют катушку индуктивности, по которой пропускают переменный ток, также регистрирующее устройство, позволяющее определять значение и фазу этого тока.
При измерениях в зависимости от типа катушки исследуемый образец помещают внутрь катушки, либо катушку прижимают к поверхности исследуемого образца. В обоих случаях осуществляется индуктивная связь образца с катушкой. Исследуемый образец влияет на электрические параметры катушки индуктивности, в результате чего протекающий через нее ток несет определенную информацию о свойствах образца.
При емкостном методе измерения ρ измеряют активное сопротивление и емкость. Связь образца с измерительной схемой осуществляется с помощью U-образных/ кальциевых контактов, отделенных от образца слоем диэлектрика. Металлический контакт и поверхность образца составляет емкость.
Метод требует предварительной калибровки, диапазон измеренных ρ 10-4 – 10-3 Ом*см.
88,89. Качественный и количественный термический анализ. Определение чистоты хим. Веществ методом дта (дифференциальный термический анализ).
ДТА позволяет определить природу, число фаз в слоях природных минералов, руд, солей. Составляющие механич. смесь компоненты, обнаруживают по тепловым эффектам, свойственным каждому инд. веществу. Эффекты плавления и кипения зависят от наличия примесей и поэтому не могут служить для идент-ции в-ва в смеси. В случае совпадения t эффектов на термограммах смесей, эти в-вам.б. идентиф-ны по эффектам разложения, полимерных превращений и т.д.
Если компоненты системы обр-ют др. с другом хим. соед-ния, то это приводит к изменению хар-ра термограмм (появлению или исчезновению эффектов, присущих отд. веществам). Это служит для качест. опр-ния отдельных фаз и превращений в сложной системе.
90.Опр-ние чистоты хим. вещ-ва методом ДТА.
Термич. методы опред-я примесей в твердых телах основаны на точном измерении tпл. Она уменьшается даже при небольшом кол-ве примесмей (0, 005 %). На этом принципе осн-н криоскопический метод опр-ния чистоты. В криоскоп-х расчетах примен. ур-ние Рауля и Ван Гоффа:
Х=
*
T
Х-
мольная доля примесей в жидкой фазе;
-
понижение tпл.
по отн-ю к чистому вещ-ву;
-
теплота/энтальпия плавления чистого
в-ва (Дж/моль); R-
универсальная
газ. постоянная;
– tпл.
чистого в-ва (К).
Применение ур-ния ограничено след.условиями:
1.Основное в-во и примесь растворимы в жидком состояние и не раст-мы в твердом.
2. Осн-е в-во и примесь обр-ют идеальный раствор, но не обр-ют тверд.р-р.
3.Кол-во примесей менее 5%
4. Тверд.и жидкая фаза нах-ся в термодинамическом равновесии.