
- •Курс лекцій
- •Курс лекцій
- •6.090803 «Електронні системи»,
- •Передмова
- •1. Елементи фізики напівпровідників та електронно-діркових переходів
- •1.1 Загальні відомості про напівпровідники
- •Власна електропровідність напівпровідників
- •1.1.2 Електронна провідність напівпровідників
- •Діркова провідність напівпровідників
- •1.1.4 Рекомбінація носіїв заряду та тривалість їх життя
- •1.1.5 Види струмів у напівпровідниках
- •1.2 Електонно - дірковий перехід та фізичні процеси в ньому
- •1.2.4 Теоретична вольт-амперна характеристика
- •1.2.5 Параметри p-n-переходу
- •Реальна вах р-n-переходу
- •1.3 Різновиди електричних переходів та контактів
- •1.3.1 Гетеропереходи
- •1.3.2 Та переходи
- •1.3.4 Контакти металу з напівпровідниками
- •1.3.5 Омічні контакти
- •2. Напівпровідникові діоди
- •2.1 Класифікація та система позначень діодів
- •2.2 Випрямні діоди
- •2.3 Напівпровідникові стабілітрони
- •2.4 Універсальні діоди
- •2.5 Імпульсні діоди та перехідні процеси в них
- •2.6. Тунельні та обернені діоди
- •2.7 Варикапи
- •2.8 Діоди Шотткі
- •3. Біполярні транзистори
- •3.1 Будова та принцип дії біполярних транзисторів
- •3.1.1 Загальні відомості про біполярні транзистори
- •3.1.2 Способи вмикання й режими роботи біполярних транзисторів
- •3.1.3 Принцип дії біполярного транзистора в активному режимі
- •3.1.4 Вплив конструкції та режиму роботи транзистора на h21б.
- •3.1.5. Схема включення транзистора зі спільним емітером та спільним колектором
- •3.1.6 Модель Еберса-Молла
- •3.2. Статичні характеристики і параметри біполярних транзисторів
- •3.2.1 Статичні характеристики біполярного транзистора у схемі зі спільною базою
- •3.2.2 Статичні характеристики біполярного транзистора у схемі зі спільним емітером
- •3.2.3 Статичні характеристики біполярного транзистора у схемі зі спільним коллектором
- •3.2.4 Вплив температури на статичні характеристики транзисторів
- •3.2.5 Граничні режими транзистора
- •3.2.6 Диференційні параметри біполярного транзистора
- •3.2.7 Фізичні параметри та еквівалентні схеми біполярних транзисторів
- •3.3 Робота біполярного транзистора у динамічному режимі
- •3.3.1 Принцип дії підсилювального каскаду на біполярному транзисторі
- •3.3.2 Способи забезпечення режиму спокою транзисторного каскаду
- •3.3.3 Динамічні характеристики біполярного транзистора та їх використання
- •3.3.4 Частотні властивості біполярних транзисторів
- •3.3.5 Робота біполярного транзистора у ключовому режимі
- •3.4 Деякі різновиди біполярних транзисторів
- •3.4.1 Одноперехідний транзистор
- •3.4.2 Високочастотні малопотужні транзистори
- •3.4.3 Потужні транзистори
- •3.5 Біполярні транзистори з ізольованим затвором (бтіз)
- •4. Польові транзистори
- •4.1. Польові транзистори з керуючим p-n-переходом
- •4.2 Польові транзистори з ізольованим затвором (мдн - транзистори)
- •4.2.1 Ефект поля
- •4.3 Залежність характеристик і параметрів польових транзисторів від температури.
- •4.4 Динамічний режим роботи польових транзисторів
- •4.4.1 Каскад на польовому транзисторі: розрахунок у статиці і динаміці
- •4.4.2 Частотні властивості польових транзисторів
- •4.5 Потужні польові транзистори
- •4.6 Польові прилади з зарядовим зв’язком
- •5. Тиристори
- •5.1 Будова, принцип дії та режими роботи тиристора
- •5.1.1 Загальні відомості
- •5.1.2 Диністорний режим
- •5.1.3 Триністорний режим
- •5.1.4 Симістори
- •5.2 Способи комутації тиристорів
- •5.2.1 Включення тиристорів
- •5.2.2 Вимкнення тиристорів
- •6. Оптоелектронні напівпровідникові прилади
- •6.1 Загальні відомості
- •6.2 Випромінювальні діоди
- •6.3 Напівпровідникові фотоприймачі
- •6.3.1 Фоторезистори
- •6.3.2 Фотодіоди
- •6.3.3 Фотоприймачі з внутрішнім підсиленням
- •6.4 Оптрони та їх застосування
- •7. Основи мікроелектроніки
- •7.1 Основні поняття і визначення
- •7.2 Гібридні інтегральні схеми
- •7.3 Напівпровідникові інтегральні схеми
- •7.3.1 Технологія
- •7.3.2 Технологія виготовлення інтегральних мдн структур.
- •7.3.3 Біполярні транзистори.
- •7.3.4 Мон (мдн) транзистори.
- •7.3.6 Резистори.
- •7.3.7 Конденсатори.
- •7.4 Інтегральні схеми з інжекційним живленням.
- •7.5 Схемотехнічні особливості мікроелектроніки – вступ у мікросхемотехніку.
- •Позначення основних величин
- •Список скорочень
- •Список літератури
- •Передмова 3
- •1. Елементи фізики напівпровідників та електронно-діркових переходів 5
- •2. Напівпровідникові діоди 44
- •3. Біполярні транзистори 71
- •4. Польові транзистори 172
- •5. Тиристори 211
- •6. Оптоелектронні напівпровідникові прилади 225
- •7. Основи мікроелектроніки 241
- •Позначення основних величин 269
- •Список скорочень 274
- •Список літератури 275
3.4 Деякі різновиди біполярних транзисторів
3.4.1 Одноперехідний транзистор
Одноперехідний
транзистор, або двобазовий діод (рис.
3.62), - це біполярний прилад, що працює в
режимі переключення.
перехід,
що відокремлює високолеговану область
емітера від низьколегованої базової
області, розділяє останню на дві частини:
нижню з довжиною
і верхню базу з довжиною
.
Струм емітера при прямому включенні
цього переходу містить здебільшого
лише діркову складову, і тому перехід
називається інжектором. Принцип дії
приладу грунтується на зміні об’ємного
опору бази під час інжекції.
Рис. 3.62 – Будова одноперехідного транзистора
На омічні
контакти верхньої і нижньої баз подається
напруга, що викликає протікання через
прилад струму
.
Цей струм створює на опорі нижньої бази
падіння напруги
,
яке включає
перехід
в зворотному напрямі. Через закритий
перехід тече його зворотний струм
(Рис. 3.62). При прикладенні
до входу транзистора напруги
перехід не відкривається, і малий струм
залишається практично незмінним.
Транзистор перебуває в закритому стані.
При
перехід включається прямо, і починається
інжекція дірок до баз, внаслідок чого
їх опори зменшуються. Це приводить до
зменшення падіння напруги
,
подальшого відкривання переходу,
збільшення струму
,
подальшого зменшення опорів баз і т.д.
Починається лавинний процес переключення
транзистора, що супроводжується
збільшенням емітерного струму
і зменшенням падіння напруги між
емітером і нижньою базою (
).
На вхідній статичній характеристиці
виникає ділянка з негативним диференційним
опором (рис. 3.63, а). Внаслідок
процесу переключення транзистор
переходить до відкритого стану. В цьому
стані прилад перебуватиме доти, поки
інжекція дірок через перехід буде
підтримувати в базі надлишкову
концентрацію носіїв, тобто поки струм
буде більшим за величину
(рис. 3.63, а).
На рисунку
3.63,б показано вихідні характеристики
одноперехідного транзистора
.
При
=0
вихідна характеристика лінійна, бо
прилад поводить себе як звичайний
резистор. При
>0
вихідні характеристики набирають
нелінійного характеру, оскільки
результуюча напруга на переході
змінюються при зміні вихідного струму
.
Рис. 10.11 – Вхідна (а) і вихідна (б) статичні характеристики одноперехідного транзистора
Одноперехідні транзистори використовуються в різноманітних імпульсних схемах (генератори релаксаційних коливань, підсилювачі тощо).
3.4.2 Високочастотні малопотужні транзистори
Як відомо з
п.3.3.4, частотний діапазон БТ має
задовольнити вимогу
,
з якої випливає, що для роботи на високих
частотах БТ повинен мати малий
розподілений опір бази
і малу бар’єрну ємність КП
.
При виготовленні високочастотних
транзисторів сплавний спосіб не
застосовують, оскільки він не дозволяє
отримати вузьку базу (малий опір
)
і малу площу переходів. Тому такі
транзистори виготовляють за технологією
дифузійного введення домішок. Глибина
проникнення атомів домішок у
напівпровідниковий кристал залежить
від тривалості процесу дифузії та виду
дифундуючих домішок. При цьому в кристалі
створюється нерівномірний розподіл
домішок від поверхні до глибини. Це
сприяє збільшенню концентрації домішок
у базі біля ЕП і, як наслідок, зменшенню
.
Відносне зменшення концентрації домішок
біля КП приводить до зменшення його
бар’єрної ємності за рахунок розширення
переходу в бік бази, а також до збільшення
пробивної напруги колектора.
Прикладом транзисторів, виготовлених за дифузійною технологією, є дрейфові транзистори. В базах цих транзисторів створюється експоненційний розподіл донорних домішок, концентрація яких зменшується від емітера до колектора (рис. 3.64). Внаслідок іонізації атомів домішок у базі виникає так зване вбудоване електричне поле, спрямоване від емітера до колектора. Це поле збільшує швидкість руху дірок через базу. Завдяки цьому усувається суттєвий недолік сплавних транзисторів з точки зору частотних властивостей, тобто зменшується час прольоту дірок через базу. Ємність КП у таких транзисторах мала, тому що він має велику товщину.
Рис. 3.64 – Розподіл концентрації донорних домішок у базі дрейфового БТ
Існують також дифузійно-сплавні транзистори, в яких області колектора і бази виготовляють шляхом дифузії домішок, а ЕП – вплавленням домішок. Розподіл концентрації донорів у базі таких транзисторів подібний до розподілу домішок у базі дрейфового транзистора. Різновидністю таких транзисторів є меза-транзистори із столоподібною структурою (рис. 3.65).
Рис. 3.65 – Структура меза-транзистора
Поширеним сучасним способом виготовлення високочастотних транзисторів є так звана планарна технологія, яка розглядатиметься докладно у розділі з мікроелектроніки.