Часть 4

37) Что такое интегральная ширина рентгеновской линии? Как она рассчитывается?

Интегральная ширина – отношение максимальной интенсивности к интегральной.

Рассчитывается по формуле:

B=max(N(2teta)-N*fi(2teta))/int(N(2teta)-N*fi(2teta)d(fi)

38) Что такое центр тяжести рентгеновской линии?

Центр тяжести рентгеновской линии- точка, где значения интенсивности справа и слева соврадают.

Часть 5

39.Функция Лауэ описывает обратную решетку (главные максимумы – узлы обратной решетки) .

40.cos(alpha)=n*liambda/I

I-период идентичности вдоль оси вращения

Альфа-угол между осью и интерфереционным лучом

n-порядок интерференции

41.2d sinteta=n*liambda

d-межплоскостное расстояние

teta-дифракционный угол

n- порядок отражения

liambda-длина волны

42. Метод. Лауэ, или метод неподвижного кристалла, используют для определения ориентировки кристаллов, симметрии кристалла, а также для выявления некоторых дефектов кристаллической структуры. Рентгенограммы, снятые по методу Лауэ — с неподвижного монокристалла на неподвижную пленку в полихроматическом излучении,называют лауэграммами. Чаще всего лауэграммы снимают на плоскую пленку при прямом или обратном ее расположении в последнем случае рентгенограммы называют эпиграммами. Как правило, эпиграммы2 снимают при работе с крупными и сильно поглощающими кристаллами. При съемке лауэграмм используется сплошное рентгеновское излучение, например излучение от трубки с вольфрамовым анодом при напряжении 40—60 /се1. Первичный луч, прошедший сквозь образец, гасится свинцовой

ловушкой с тонким дном, пропускающим ослабленный пучок, который дает пятно в центре лауэграммы, являющееся началом отсчета и соответствующим 0 = 0°.При съемке эпиграммы регистрируются отражения под углами §>45°, связанные в большинстве с волнами длиной 0,8—1,2 А. Для уменьшения флюоресцентного рассеяния следует использовать трубки со сравнительно легкими анодами (медь, железо и т.д.) и рекомендуется работать, применяя относительно невысокие напряжения—15—30 кв в зависимости от объекта и анода трубки.Ориентировки крупных кристаллов или отдельных зерен крупнозернистых образцов (шлифов) определяют с помощью эпиграмм.'

43. Метод вращающегося кристалла и его видоизменения являются наиболее точными и универсальными при определении кристаллических структур.

44.метод дебая: Узкий параллельный пучок монохроматических рентгеновских лучей, падая на поликристаллический образец и отражаясь от кристалликов, из которых он состоит, даёт ряд коаксиальных, т. е. имеющих одну общую ось, дифракционных конусов (рис. 1). Осью конусов служит направление первичного пучка рентгеновских лучей. Вершины их лежат внутри исследуемого объекта, а углы раствора определяются согласно Брэгга — Вульфа условию: nl = 2dsin q (здесь n — целое положительное число, l — длина волны рентгеновских лучей, d — расстояние между параллельными плоскостями узлов пространственной решётки кристалла, q — угол между отражающей плоскостью и падающим лучом). Угол раствора конуса равен учетверённому углу отражения q . Интенсивность и положение дифракционных конусов фиксируются на фотоплёнке или одним из ионизационных методов (рис. 2). При попадании дифрагирующих лучей на фотоплёнку они оставляют след в виде ряда дифракционных линий, форма которых зависит от геометрии рентгеносъёмки: взаимного расположения образца, фотоплёнки и падающего пучка рентгеновских лучей. В некоторых камерах для съёмки рентгенограмм с поликристаллов фотоплёнка располагается по поверхности цилиндра, ось которого перпендикулярна падающему пучку рентгеновских лучей, а образец помещается на оси цилиндра.