3.1.4.2 Дефектоскоп сд-12д

Дефектоскоп СД-12Д складається з НВЧ датчика і низькочастотної електронної стійки, що включає блок живлення клістрона, блок джерела стабілізованої напруги, що забезпечує живлення ланцюгів, і пристрій індикації та сигналізації. Всі низькочастотні блоки зібрані на транзисторах і уніфіковані.

Прилад дозволяє виявити будь-які неоднорідності матеріалу вироби або локальні зміни товщини стінки виробу, що приводить до появи різницевого сигналячи па рівні 55 дБ від потужності генератора. Виходячи з цього для розшифровки дефекту-нмми виробів необхідно відпрацювати рочки контролю на еталонних спільних з штучно закладеними них дефектами.

Технічна характеристика приладу СД-12Д

Межі товщини контрольованого матеріалу, мм 1-30.

Робоча частота, ГГц .... 10,3 -0,1

Допустиме зміна відстані від антени до поверхні контрольованого виробу, мм ... 0-10

Допустимий перекіс антен при базі 50 мм відносно поверхні контрольованого

виробу, мм. Не більше 0,1

Контроль проводиться шляхом сканування об'єкту контролю

На рис. 3.9,в наведено спрощений варіант схеми амплітудно-фазового дефектоскопа з двома антенами, розташованими поруч, одна з яких Передавальна, інша - приймальня. Завзятим сигналом тут служить сигнал зв'язку між антенами, який може регулюватися шляхом зміни їх відносного положення. Через дії великого фонового сигналу, що є наслідком відображень хвиль від бездефектного ділянки вироби, чутливість схеми до дефектів нижча, ніж у варіантах, описаних вище. Цей сигнал можна

зменшити поворотом приймальної антени навколо її оптичної осі на 90 °, що буде відповідати випадку схрещених поляризацій приймальної і передавальної антен. Схема в цьому випадку буде максимально чутлива тільки до таких неоднородностям і

дефектам, при відбитті від яких відбувається максимальний (до 90 °) поворот площини поляризації хвиль: схема стає поляризаційної

На рис. 3.9,г наведено варіант схеми амплітудно-фазового дефектоскопа, що стає амплітудним дефектопом при просторово рознесених і розташуванні антен таким чином, що приймальна антена реагує тільки на розсіяний дефектом сигнал. Спосіб контролю отримує оптимальне застосування при дефектоскопії виробів з розмірами, сумірними у всіх трьох вимірах: кубів, паралелепіпедів і т. д.

3.1.5 Теплова контроль

3.1.5.1 Тепловізор flir b40

Тепловізор FLIR b40 - новітня інфрачервона (ІЧ) камера компанії FLIR для визначення локальних проблем в будівлях та спорудах (будівельний тепловізор); ідентифікації протечек і місць порушення ізоляції; оцінці пошкоджень, викликаних вологою і економії енергії. При масі всього лише 600 г і невеликих розмірах камера може легко переноситися оператором на будь-які об'єкти контролю. Разом з цим, вона оснащена відеокамерою, має функцію «картинка-в-картинці» і багато інших можливостей аналізу зображень.

Рисунок 3.10 – Зовнішний вигляд тепловізора Flir b40

Технічні характеристики

Параметри візуалізації
Поле зору / мінімальна фокусна відстань	25°х25°/ 0.12 м
Температурна чутливість	0,1°С при 30 °С
Частота кадрів	9Гц
Фокусування	Ручна
Тип детектора	Матриця у фокальній площині (FPA), неохолоджуваних
Спектральний діапазон	від 7,5 до 13 мкм
Вбудована відеокамера	0,6 Мпикс, 2 світлодіоди для підсвічування
Представлення зображення
Дисплей	Кольоровий РК дисплей з розміром по діагоналі 3,5 дюйма (8,9 см), 16000 кольорів
Вимірювання
Інтервал температур	від -20°С до +120°С
Точність	±2°С или ± 2% від абсолютної температури (в °С )
Режим вимірювання	Фіксована точка, колірна сигналізація вище / нижче заданого рівня, сигналізація точки роси, колірна сигналізація порушення теплоізоляції
Вимоги до умов навколишнього середовища
Інтервал робочих температур	Від –15°С до +50°С
Інтервал температури зберігання	Від –40°С до +70°С
Герметичність	IP 54
Фізичні характеристики
Маса	0,6 кг, включаючи батарею и 25° объектив
Габарити	243 мм х 81 мм х 103 мм
Корпус	Пластик і гума