- •Елементна база електронних апаратів
- •1.1.2 Напівпровідники з електронною електропровідністю
- •1.1.3 Напівпровідники з дірковою електропровідністю
- •1.2 Струми в напівпровідниках
- •1.2.1 Дрейфовий струм
- •1.2.2 Дифузійний струм
- •1.3 Контактні явища
- •1.3.1 Електронно-дірковий перехід в стані рівноваги
- •1.3.2 Пряме включення p-n переходу
- •1.3.3 Зворотне включення р-п-переходу
- •1.3.4 Теоретична вольтамперная характеристика p-n переходу
- •1.3.5 Реальна вольтамперная характеристика p-n переходу
- •1.3.6 Ємності p-n переходу
- •1.4 Різновиди електричних переходів
- •1.4.1 Гетероперехіди
- •1.4.2 Контакт між напівпровідниками одного типу електропровідності
- •1.4.3 Контакт металу з напівпровідником
- •1.4.4 Омічні контакти
- •1.4.5 Явища на поверхні напівпровідника
- •2 Напівпровідникові діоди
- •2.1 Класифікація
- •2.2 Випрямні діоди
- •2.3 Стабілітрони і стабістори
- •2.4 Універсальні і імпульсні діоди
- •2.5 Варікапи
- •3 Біполярні транзистори
- •3.1 Принцип дії біполярного транзистора. Режими роботи.
- •3.1.1 Загальні відомості
- •3.1.2 Фізичні процеси в бездрейфовом біполярному транзисторі при роботі в активному режимі.
- •3.2 Статичні характеристики біполярних транзисторів
- •3.2.1 Схема із загальною базою
- •3.2.2 Схема із загальним емітером
- •3.2.3 Вплив температури на статичні характеристики бт
- •3.3 Диференціальні параметри біполярного транзистора
- •3.4 Лінійна (малосигнальна) модель біполярного транзистора
- •3.5 Частотні властивості біполярного транзистора
- •3.6 Способи поліпшення частотних властивостей біполярних транзисторів
- •3.7 Робота транзистора в підсилювальному режимі
- •3.8 Особливості роботи транзистора в імпульсному режимі
- •3.8.1 Робота транзистора в режимі посилення імпульсів малої амплітуди
- •3.8.2 Робота транзистора в режимі перемикання
- •3.8.3 Перехідні процеси при перемиканні транзистора
- •4 Польові транзистори
- •4.1 Польовий транзистор з p-n переходом.
- •4.2 Польовий транзистор з ізольованим затвором (мдп-транзистор).
1.2.2 Дифузійний струм
Окрім теплового збудження, що приводить до виникнення рівноважної концентрації зарядів, рівномірно розподілених за об'ємом напівпровідника, збагачення напівпровідника електронами до концентрації np і дірками до концентрації pn може здійснюватися його освітленням, опромінюванням потоком заряджених частинок, введенням їх через контакт (інжекцією) і т.д. В цьому випадку енергія збудника передається безпосередньо носіям заряду і теплова енергія кристалічної решітки залишається практично постійною. Отже, надмірні носії заряду не знаходяться в тепловій рівновазі з гратами і тому називаються нерівноважними. На відміну від рівноважних вони можуть нерівномірно розподілятися за об'ємом напівпровідника (рисунок 1.6, би)
Після припинення дії збудника за рахунок рекомбінації електронів і дірок концентрація надмірних носіїв швидко убуває і досягає рівноважного значення.
Швидкість рекомбінації
нерівноважних носіїв пропорційна
надмірній концентрації дірок (pn
-
)
або електронів (np -
):
;
,
де p - час життя дірок; n - час життя електронів. За час життя концентрація нерівноважних носіїв зменшується в 2,7 разу. Час життя надмірних носіїв складає 0,01...0,001 с.
Носії зарядів рекомбінують в об'ємі напівпровідника і на його поверхні. Нерівномірний розподіл нерівноважних носіїв зарядів супроводжується їх дифузією у бік меншої концентрації. Цей рух носіїв зарядів обумовлює проходження електричного струму, званого дифузійним (рисунок 1.6, би).
Розглянемо одновимірний випадок. Хай в напівпровіднику концентрації електронів n(x) і дірок p(x) є функціями координати. Це приведе до дифузійного руху дірок і електронів з області з більшою їх концентрацією в область з меншою концентрацією.
Дифузійний рух носіїв зарядів обумовлює проходження дифузійного струму електронів і дірок, щільність яких визначається із співвідношень:
;
(1.13)
;
(1.14)
де dn(x) /dx, dp(x) /dx - градієнти концентрацій електронів і дірок; Dn, Dp - коефіцієнти дифузії електронів і дірок.
Градієнт концентрації характеризує ступінь нерівномірності розподілу зарядів (електронів і дірок) в напівпровіднику уздовж якогось вибраного напряму (в даному випадку уздовж осі x). Коефіцієнти дифузії показують кількість носіїв заряду, що перетинають в одиницю часу одиничний майданчик, перпендикулярний до вибраного напряму, при градієнті концентрації в цьому напрямі, рівному одиниці. Коефіцієнти
дифузії зв'язані з подвижностями носіїв зарядів співвідношеннями Ейнштейна:
;
.
Знак "мінус" у виразі (1.14) означає протилежну спрямованість електричних струмів в напівпровіднику при дифузійному русі електронів і дірок у бік зменшення їх концентрацій.
Якщо в напівпровіднику існує і електричне поле, і градієнт концентрації носіїв, струм, що проходить, матиме дрейфову і дифузійну складові. У такому разі щільність струмів розраховується по наступних рівняннях:
;
.
1.3 Контактні явища
