- •Лабораторная работа № 6.7 изучение вентильного фотоэффекта Цель работы
- •Краткая теория
- •Описание установки
- •Выполнение работы Задание 1. Построение световой характеристики фотоэлемента
- •Задание 2. Изучение работы фотоэлемента в цепи с нагрузкой
- •Задание 3. Изучение чувствительности фотоэлемента
- •Контрольные вопросы
- •Задачи к лабораторной работе
- •Литература
Лабораторная работа № 6.7 изучение вентильного фотоэффекта Цель работы
Изучение вентильного фотоэффекта. Построение световых характеристик, определение чувствительности фотоэлемента.
Краткая теория
Вентильный фотоэффект заключается
в возникновении электродвижущей силы
в
переходе под действием света.
переход образуется в области контакта
полупроводников с разным типом
проводимости или в области контакта
полупроводника и металла. Наибольшее
практическое значение имеет вентильный
фотоэффект, возникающий в области
контакта полупроводников с разным типом
проводимости. Рассмотрим именно такой
случай.

Имеется монокристалл с
переходом А-А в месте контакта
полупроводников
и
типа, рисунок 7.1а. Толщина одного из
полупроводников, в нашем случае
полупроводника типа
,
очень мала, так, что этот полупроводник
прозрачен для света. При отсутствии
светового потока на контакте
А-А электронного “
”
и дырочного “
”
полупроводников (рисунок 7.1а) благодаря
контактным явлениям возникает контактная
разность потенциалов и контактное
электрическое поле
.
Причем полупроводник типа “
”
заряжен положительно, а полупроводник
типа “
”-
отрицательно.

При освещении
перехода полупроводников светом (рисунок
7.1б) фотоны света взаимодействуют с
валентными электронами полупроводников
в
переходе и стремятся передать электронам
свою энергию
.
Если энергия фотонов больше ширины
запрещенной зоны основного полупроводника:
,
(1)
то из валентной зоны электроны могут
перебрасываться в зону проводимости,
а в валентной зоне при таких переходах
появляются дырки (рисунок
7.2). Благодаря этому в
переходе возникают дополнительные
свободные носители заряда, электроны
и дырки.
Под действием контактного поля
фотоэлектроны из
перехода перемещаются в полупроводник
-
типа, а дырки перемещаются в полупроводник
-
типа (рисунок 7.1б). Этот
процесс приводит к накоплению добавочных
отрицательных зарядов в “
”
полупроводнике и положительных зарядов
в “
”
полупроводнике. На границах
перехода появляется дополнительная
разность потенциалов, которая и
представляет собойфотоэлектродвижущую
силу (фото-э.д.с.).
Если включить такой
переход в замкнутую электрическую цепь,
то в этой цепи под действием света
возникнет электрический ток, который
называетсяфототоком
.
Возникающий в цепи фототок зависит от
падающего светового потока, сопротивления
цепи и свойств фотоэлемента.Зависимость
фототока
от светового потока
называется световой характеристикой
фотоэлемента.Обычно световая
характеристика строится в виде графика
в режиме короткого замыкания, т.е. при
сопротивлении внешнего участка цепи
.
В нашей установке:
,
(2)
где
- освещенность фотоэлемента, а
- его площадь. Так как мы используем
точечный источник света и луч света
перпендикулярен к поверхности
фотоэлемента, то:
(3)
Здесь
- сила света источника,
- расстояние от источника света до
фотоэлемента.
Тогда:
(4)
Важной характеристикой фотоэлемента
является его чувствительность.
Чувствительностью
называется отношение фототока к падающему
на фотоэлемент световому потоку
:
(5)
Обычно чувствительность измеряется в микроамперах на люмен. Учитывая (4), получим:
(6)
Если перед фотоэлементом установлена
диафрагма с диаметром
,
меньшим диаметра фотоэлемента, то
- это площадь светового пятна, вырезаемого
диафрагмой. Тогда:
(7)
Формула (7) является рабочей
для экспериментального определения
чувствительности фотоэлемента. Еще раз
напоминаем, что обычно в формулу (7)
фототок подставляется в микроамперах.
