- •Билет №1
- •1. Понятие о технологическом процессе. Классификация технологических процессов. Этапы процесса и комплекты документации.
- •2. Конвективная диффузия. Влияние газодинамических
- •Билет №2
- •2. Рост кристаллов при химическом взаимодействии на межфазной границе. Кинетический режим. Скорость гетерогенной реакции.
- •Билет №3
- •2. Зародышеобразование при росте кристаллов и полиморфных превращениях, начальные стадии роста.
- •Билет №4
- •1. Технологические процессы, связанные с явлениями на границе раздела
- •Билет №5
- •2. Кристаллизация из расплава (выращивание полупроводниковых кристаллов методом Чохральского, направленная кристаллизация, зонная плавка).
- •Билет №6
- •Билет №7
- •1. Классификация веществ по степени чистоты. Основные примесночувствительные свойства изделий эт.
- •Билет №8
- •1. Характеристика технологических процессов переработки сырьевых материалов.
- •Билет №9
- •2. Рост пленок полупроводниковых соединений из газовой фазы с
- •Билет № 10
- •Билет №11
- •2. Вакуумное осаждение и молекулярно-лучевая эпитаксия.
- •Билет №12
- •2. Физико-химические основы легирования полупроводниковых кристаллов и пленок.
- •Билет №13
- •Билет №14
- •2. Получение плёнок двуокиси кремния и фосфорно-силикатных стёкол методом полного окисления силана.
- •Билет №15
- •Билет №l6
- •Билет №17
- •2. Эпитаксия многослойных гетероструктур, содержащих сверхтонкие полупроводниковые слои.
- •Билет № 18
- •Билет №19
- •2.Способы формирования изделий из полимеров.
- •Билет №20
- •15. Чистые и особо чистые помещения
- •16. Технологическая одежда и поведение персонала в чистых помещениях. Методы контроля технологической гигиены
- •Билет №21
Билет №15
Кинетика и лимитирующие стадии роста кристаллов (гетерогенных процессов).
Среди физических и химических процессов, представляющих собой две их группы, в технологии полупроводниковых мате¬ риалов особое место занимают гетерогенные процессы. С их участием осуществляются процессы получения высокочистых веществ, выращивания монокристаллов, а в технологии микро¬ электроники — процессы получения пленок, эпитаксиальных слоев и сложных композиций на основе полупроводниковых и диэлектрических материалов и металлов.В гетерогенных процессах, протекающих на поверхности с участием адсорбционного слоя, граница раздела фаз нахо¬ дится между поверхностью твердого тела и газом или жид¬ костью, находящимися в движении. На поверхности может об¬ разовываться твердая фаза как при протекании гетерогенных физических процессов — фазовых переходов (например, при кристаллизации из расплава или паровой фазы), так и при протекании гетерогенных химических процессов (взаимодейст¬ вие компонентов парогазовой фазы на поверхности при водо¬ родном восстановлении элементов, термическое разложение со¬ единений при участии химических транспортных реакций; взаи¬
При последовательно протекающих стадиях общая скорость обычно лимитируется скоростью самой медленно протекаю¬ щей стадии. Другие стадии могли бы протекать с большей скоростью, но в стационарных условиях, которые обычно бы¬ стро устанавливаются, их скорость равна скорости лимити¬ рующей стадии. Для ускорения процесса в целом необходимо выявить лимитирующую стадию и найти пути ее интенсифи¬ кации. При этом произойдет смена лимитирующей стадии.
Получение пленок нитрида кремния.
Химическое осаждение нитрида кремния осуществляют за счет реакции между силаном и аммиаком при атмосферном давлении и температуре 700–900 C или за счет реакции дихлорсилана с аммиаком при пониженном давлении и температуре 700–800 C. Происходящие при этом реакции можно записать в виде:
3SiH4 + 4NH3 Si3N4 + 12H2, (4.5)
3SiCl2H2 + 4 NH3 Si3N4 + 6 HCl + 6H2.
Нитрид кремния является керамикой, которая имеет высокуюпрочностьв широком диапазоне температур, умереннуютеплопроводность, низкийкоэффициент теплового расширения, умеренно-высокий коэффициентупругостии необычайно высокую, для керамики, вязкость разрушения. Такое сочетание свойств приводит к отличной тепловойударостойкости, способности выдерживать высокие нагрузки при высоких температурах, сохраняя превосходнуюизносостойкость. Обладая низким удельным весом кристаллический нитрид кремния используется при протезировании человеческих костей[1]. По сравнению сдиоксидом кремния, нитрид ваморфном состоянииимеет более высокую концентрациюэлектронныхидырочныхловушек (около 1019см−3), причём эти ловушки являются относительно глубокими (около 1,5эВ). Это позволяет использовать нитрид кремния в качестве эффективного запоминающего устройства: инжектированные в него электроны и дырки локализуются (захватываются) ловушками и могут находиться в них в течение порядка 10 лет при температуре 85 °C[1]. Также по сравнению с оксидом нитрид кремния обладает высокойдиэлектрической проницаемостью(около 7, в то время как у SiO2— 3,9), поэтому он используется в ряде устройств в качестве изолятора[1].