- •Реферат По курсу лекций Тихова с.В.
- •2013 Г.
- •Список основных сокращений и обозначений
- •Квантово-размерные гетероструктуры: энергетический спектр и статистика электронов и дырок, межзонное оптическое поглощение
- •1.1.1. Электронный 2d газ
- •Статистика равновесных электронов и дырок
- •Оптическое поглощение электронного газа пониженной размерности
- •1.3.1. Межзонное оптическое поглощение квантовой ямы
- •Фотоэлектрическая спектроскопия квантово-размерных гетероструктур
- •Фотовольтаические эффекты и фотопроводимость в квантово-размерных гетероструктурах
- •Методика исследования фотоэлектрических спектров
- •Спектроскопия конденсаторной фотоэдс
- •Общая характеристика спектров кфэ
- •Поляризационная фотоэлектрическая спектроскопия
- •Применение спектроскопии кфэ для исследования дефектообразования в полупроводниках
- •Методика получения гкт
- •Влияние толщины слоя InAs на спектры кфэ
- •Связь спектров кфэ с геометрическими параметрами кт
Общая характеристика спектров кфэ
Этот раздел написан по материалам работы [15], посвящённой методическим вопросам спектроскопии КФЭ.
Методика эксперимента. Модельные ГКЯ GaAs/InxGa1-xAs различного типа выращивались методом МОС-гидридной эпитаксии при атмосферном давлении ( образцы получены Б.Н. Звонковым). Использовались
Табл. 3.1 Некоторые параметры ГКЯ
№ ГКЯ |
Тип подл. |
Число КЯ |
x |
Lz, нм яма 1 яма 2 яма 3 |
Lb нм |
Lbs нм
| |||||||||||||||||
1 |
s |
1 |
0.33 |
5.2 |
- |
- |
- |
700 | |||||||||||||||
2 |
s |
1 |
0.27 |
7.6 |
- |
- |
- |
16 | |||||||||||||||
3 |
s |
3 |
0.28 |
9.1 |
4.9 |
2.8 |
49 |
49 | |||||||||||||||
4 |
n |
3 |
0.34 |
5.0 |
2.7 |
1.5 |
21 |
27 | |||||||||||||||
5 |
n |
2 |
0.25 |
7.5 |
3.0 |
- |
5.7 |
21 | |||||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
подложки полуизолирующего (s) и проводящего (n) GaAs c ориентацией (001). В табл. 3.1 приведены некоторые параметры исследованных структур: число ям N, ширина барьерного слоя между ямами Lb, толщина покровного слоя Lbs и др.
ГКЯ с одиночной квантовой ямой. На рис. 3.1 показаны типичные спектры КФЭ в области межзонного поглощения одиночной КЯ при 300К. На спектрах структур высокого качества наблюдается хорошо выраженный пик фоточувствительности, связанный с экситонным поглощением (кривая 1).. Ширина пика близка к kT и ширине пика ФЛ при этой температуре. Отсутствие подобного пика на спектрах некоторых структур (кривая 2) связано с относительно большой неоднородностью слоя InxGa1-xAs по ширине Lz или по составу твёрдого раствора x. Мелкомасштабные по сравнению с радиусом экситона флуктуации ширины и состава гетерослоя приводят к уширению экситонного пика, и он перестаёт выделяться на крае межзонного поглощения.
В достаточно совершенных ГКЯ, в которых структурное размывание спектра размерного квантования не слишком велико, на спектре КФЭ можно обнаружить почти все возможные оптические переходы между подзонами размерного квантования с номерами 1, 2, 3. На рис. 3.1 показаны стрелками рассчитанные методом [20] энергии переходов между подзонами электронов и тяжелых дырок. Они располагаются в следующем порядке: e1-hh1, e1-hh2, e1-hh3, e2-hh1, e2-hh2. Всем им, в том числе и переходам с изменением четности, которые запрещены правилами отбора в бесконечно глубокой прямоугольной КЯ [2], соответствуют более или менее выраженные изломы на спектре КФЭ.
Идентификация двух или большего числа электронных переходов в КЯ позволяет однозначно и достаточно точно определять или уточнять параметры Lz и x. Естественно, что такая идентификация возможна только для
Рис.
3.1. Спектры КФЭ одиночных
КЯ.
Сплошными стрелками показаны
теоретические
значения энергий переходов
с
участием тяжелых дырок, прерывистой
стрелкой
- переход с участием легких
дырок.
ГКЯ с несколькими квантовыми ямами. На рис. 3.2 приведены спектры КФЭ гетероструктур 3 и 4, имеющих по три КЯ разной ширины (табл. 3.1). Поскольку толщина барьерных слоёв между ямами значительно превышает эффективную длину туннелирования (~5 нм), КЯ можно считать изолированными друг от друга. На спектрах достаточно чётко выделяются ступенчатые полосы фоточувствительности от отдельных ям с экситонными пиками на крае некоторых из них. Для структуры 4 края полос для двух ям расщеплены. Для этой ГКЯ наблюдается и расщепление пиков ФЛ от этих ям (рис. 3.3). Подобное явление обычно объясняется крупномасштабными флуктуациями Lz на одну или две моноатомные ступени [21]. Однако в данном случае такой механизм не объясняет наблюдаемую большую величину расщепления (Е~20 мэВ) и его независимость от ширины ямы (согласно теории Е ~ (Lz)-3 [21]). Альтернативное объяснение состоит в том, что расщепление спектров обусловлено наличием в слоях InxGa1-xAs областей с резким изменением состава (состав x скачком должен изменяться от 0.31 к 0.34 в данном случае).
Рис.
3.2. Спектры КФЭ ( 300 К ).
№ ГКЯ:
1 - 3, 2 -4, (3-5) - 5. LП,произв.
ед.:
(1-3)
- 0, 4 -0.25, 5 - 1.
ГКЯ с двойными асимметричными КЯ. Наличие туннельной связи между двумя близко расположенными КЯ в структуре 5 проявляется в полном
Рис.
3.3. Спектры ФЛ (77). № ГКЯ:
1
- 3, 2 - 4.
Рис.
3.4. Спектры ФЛ (1,3) и КФЭ
(2,4)
ГКЯ №5 с туннельно связанными КЯ.
Т,
К: 1,2 - 300, 3,4 - 77.
В отличие от спектров ФЛ на спектре КФЭ при 300 и 77 К хорошо выявляются полосы фоточувствительности от обеих ям с их тонкой структурой (кривые 1 и 4), причём при 77 К становятся заметны и экситонные пики. Заметим, что при расчёте энергетического спектра структуры 5 квантовые ямы можно с хорошим приближением считать квазиизолированными
Нормированная фоточувствительность ГКЯ. Абсолютная величина фоточувствительности в области поглощения КЯ SфW = Vф/J0 зависит от параметров не только самой ямы, но и барьера, с которым КЯ взаимодействует, в частности, от высоты барьера. Основной смысл введения нормированной фоточувствительности SW согласно (2.11) состоит в том, что эта величина почти не зависит от свойств барьера и определяется главным образом коэффициентом поглощения КЯ в соответствии с (2.12) или (2.13). Очевидно, это связано с тем, что изменение характеристик барьера одинаковым образом влияет на SфW и Sф0. Из параметров барьера только квантовая эффективность излучения на данном барьере 0, зависящая от скорости поверхностной и объёмной рекомбинации и некоторых других факторов, влияет на SW. Для барьера Шоттки при 300 К 0 0.5 - 0.3 [22]. По-видимому, и для поверхностного барьера этот параметр имеет такое же значение.
Рассмотрим зависимость SW от параметров КЯ и её положения относительно барьера. Как показано в [15], если КЯ расположена в достаточно сильном поле барьера, то величина SW практически не зависит от ширины и глубины ямы, т. е. от Lz и x, от её дефектности, от высоты поверхностного барьера и температуры в довольно широкой области изменения этих величин. Этот результат вполне согласуется с рассмотренными в разделе 2 теоретическими представлениями о механизме фотоэлектрических явлений в ГКЯ. Действительно, коэффициент поглощения КЯ слабо зависит от параметров ямы [22], а эффективность эмиссии также независимо от параметров ямы и температуры равна единице.
В отличие от КФЭ интенсивность ФЛ квантовых ям сильно зависит от Lz (рис. 3.3). Основной причиной уменьшения интенсивности ФЛ при уменьшении Lz является увеличение вероятности теплового выброса неравновесных носителей из более узких КЯ. При возбуждении ФЛ происходит спрямление поверхностного барьера и закрепление электронного уровня Ферми в приповерхностной области вблизи положения уровня Ферми в объёме. Если при этом концентрация электронов в яме много больше концентрации дырок и слабо зависит от Lz, а концентрация дырок определяется скоростью их термоэмиссии из ямы, то отношение интенсивностей ФЛ двух КЯ разной ширины ( Lz1 и Lz2)должно определяться выражением:
I(Lz1)/ I(Lz2) = exp {Ehh1(Lz1) - Ehh1(Lz2)}/kT. (3.1)
Рассчитанные значения этого отношения для второй и третьей КЯ по отношению к первой ( рис. 3.3, кривая 2) при изменении интенсивности ФЛ на 3 порядка отличаются от экспериментальных значений менее чем в три раза.
Рис.
3.5. Влияние толщины покровного
слоя
на спектр КФЭ. Lbs,
нм: 1,3 - 21, 2,4 -
500.
Т, К: 1,2 - 300, 3,4 - 77.
Определение длины диффузии неосновных носителей в ГКЯ. Квантовую яму, расположенную в квазинейтральной области, можно использовать в качестве плоского -образного источника неравновесных носителей для определения длины диффузии неосновных носителей в барьерной области ГКЯ. Малосигнальная фотоэдс на поверхностном барьере пропорциональна концентрации неосновных носителей, эмиттированных из КЯ и достигших края барьера (рис. 2.1). Она, очевидно, может быть записана в виде
где z2 -расстояние от поверхности до КЯ, W1 - ширина поверхностного барьера. Для определения Lp нужно изменять либо z2, что для поверхностного барьера можно осуществить путём стравливания покровного слоя [13], либо W1, что в случае БШ или p-n-перехода можно сделать изменением напряжения смещения. Определённая этим методом длина диффузии Lp = 0.65 мкм находится в согласии с результатом, полученным другим методом [13].