
- •Глава 14 электронные приборы для отображения информации и фотоэлектрические приборы
- •14.1. Электронно-лучевые приборы
- •14.1.1. Классификация
- •14.1.2. Устройство и принцип действия элт с электростатическим управлением
- •14.1.3. Электронный прожектор с электростатической фокусировкой
- •14.1.4. Электронный прожектор с магнитной фокусировкой
- •14.1.5. Электростатическая отклоняющая система элт
- •14.1.6. Магнитная отклоняющая система элт
- •14.1.7. Экраны электронно-лучевых трубок
- •14.1.8. Основные типы электронно-лучевых трубок
- •14.2. Электросветовые приборы
- •14.3. Оптоэлектронные индикаторы
- •14.3.1. Классификация
- •14.3.2. Активные индикаторы
- •14.3.3. Пассивные индикаторы
- •14.4. Фотоэлектрические приборы
- •14.4.1. Электровакуумные фотоэлектрические приборы
- •14.4.2. Фотопроводимость полупроводников
- •14.4.3. Фоторезисторы
- •14.4.4. Фотодиоды
- •14.4.5. Фотоэлементы
- •14.4.6 P-I-n-фотодиоды и лавинные фотодиоды
- •14.4.7. Фототранзисторы
- •14.4.8. Полевые фототранзисторы
- •14.4.9. Фототиристоры
- •14.5. Оптопары
14.4.6 P-I-n-фотодиоды и лавинные фотодиоды
Фотодиоды
– малоинерционные фотоприемники.
Инерционность их зависит от емкости
р-n-перехода,
условий разделения электронно-дырочных
пар и сопротивления нагрузки. В оптических
линиях связи, системах воспроизведения
звука с компакт-дисков и других устройствах
требуются фотоприборы с высоким
быстродействием (несколько наносекунд
и менее). К фотоприборам, обладающим
малой инерционностью, относятся
p-i-n-фотодиоды
и лавинные фотодиоды. В р-i-n-фотодиоде
(рис. 14.25,a)
на подложке n+
сформирован слаболегированный i-слой
и слой p+
толщиной до 0,3 мкм. При подаче обратного
напряжения обедненным оказывается
весь i-слой.
В результате емкость перехода
уменьшается, расширяется область
поглощения падающего излучения и
повышается чувствительность прибора.
Поглощаемое излучение в структуре
затухает по экспоненте в зависимости
от коэффициента поглощения и вызывает
появление фотовозбужденных носителей.
Электрическое поле обедненного слоя
(напряженность поля около 103
В/см), ускоряет носители до скорости
насыщения (около 107
см/с). За пределами обедненного слоя
носители двигаются диффузионно с
относительно низкой скоростью (примерно
104
см/с). За счет этого быстродействие
несколько снижается, поэтому необходимо
сконцентрировать поглощение излучения
в обедненном слое, что достигается
особенностями структуры р-i-n-диода
(слой p+
делают
очень тонким, а слой i
-– больше длины поглощения излучения).
В лавинном фотодиоде (рис. 14.25,б) излучение также поглощается в обедненном слое. Эффективное лавинное размножение получается при условии, что толщина обедненной области с участком сильного электрического поля превышает длину свободного пробега носителя.
Для создания ударной ионизации фотовозбужденными носителями рядом с р-n-переходом формируют область с высокой напряженностью электрического поля (более 105 В/см), в которой происходит лавинное умножение носителей. Коэффициент умножения при напряжении, близком к напряжению пробоя, может достигать 1000. При напряжении 100... 150 В быстродействие лавинного фотодиода примерно равно 0,3 нс.
Лавинный фотодиод принципиально отличается от других способностью усиливать фототок генерируемых неравновесных носителей, поэтому он используется в фотоприемниках для обнаружения слабых оптических сигналов, сравнимых с шумами фотодиода.
14.4.7. Фототранзисторы
Биполярный
фототранзистор является приемником
излучения и одновременно усилителем
фототока. Чувствительность фототранзистора
гораздо больше, чем у фотодиода, и может
достигать сотен микроампер на люмен.
Световой поток, который является входным
сигналом для фототранзистора, направляют
на область базы через специальное окно,
сделанное в корпусе транзистора. Обычно
биполярный фототранзистор включают по
схеме с общим эмиттером с отключенной
базой и резистором
в
цепи коллектора (рис. 14.26,а). Вольт-амперные
характеристики фототранзистора со
световым потоком а качестве параметра
показаны на рис. 14.26,б. В соответствии с
полярностью источников Е
на рис. 14.26,а транзистор работает в
нормальном активном режиме, т.е. эмиттерный
переход включен в прямом, а коллекторный
– в обратном направлении. Под действием
падающего света происходит генерация
пар носителей заряда в базовой
области. Электроны и дырки диффундируют
к коллекторному переходу, поле которого
разделяет их. Дырки идут из базы в
коллектор и увеличивают ток коллектора,
а электроны накапливаются в базе и
компенсируют заряд неподвижных ионов
примесей на границе эмиттерного перехода.
Потенциальный барьер на границе
перехода понижается, что приводит к
увеличению инжекции носителей через
эмиттерный переход. Соответственно
увеличивается количество неосновных
носителей, прошедших базу и втянутых
полем коллекторного перехода в коллектор.
Ток инжектированных носителей и
соответствующий ему коллекторный ток
во много раз больше, чем первоначальный
фототек, образованный носителями,
появившимися за счет генерации.
Из
теории транзисторов известно, что
коллекторный ток
при
=
0 (база отключена) в (
+1)
раз больше, чем
[см. (5.18)]. В этом случае через транзистор
идет сквозной коллекторный ток
.
Следовательно,
ток фототранзистора при
=
0 и обратном включении коллекторного
перехода будет равен
=
(
+
)
где
– темновой ток фототранзистора;
=
Ф
– световой ток фототранзистора;
–
интегральная фоточувствительность
фототранзистора, которая в
раз больше, чем у фотодиода, при прочих
равных условиях.
Следует заметить, что у фототранзистора можно дополнительно использовать вывод базы для электрического управления фототранзистором, например для компенсации посторонних внешних воздействий.