
- •Глава 14 электронные приборы для отображения информации и фотоэлектрические приборы
- •14.1. Электронно-лучевые приборы
- •14.1.1. Классификация
- •14.1.2. Устройство и принцип действия элт с электростатическим управлением
- •14.1.3. Электронный прожектор с электростатической фокусировкой
- •14.1.4. Электронный прожектор с магнитной фокусировкой
- •14.1.5. Электростатическая отклоняющая система элт
- •14.1.6. Магнитная отклоняющая система элт
- •14.1.7. Экраны электронно-лучевых трубок
- •14.1.8. Основные типы электронно-лучевых трубок
- •14.2. Электросветовые приборы
- •14.3. Оптоэлектронные индикаторы
- •14.3.1. Классификация
- •14.3.2. Активные индикаторы
- •14.3.3. Пассивные индикаторы
- •14.4. Фотоэлектрические приборы
- •14.4.1. Электровакуумные фотоэлектрические приборы
- •14.4.2. Фотопроводимость полупроводников
- •14.4.3. Фоторезисторы
- •14.4.4. Фотодиоды
- •14.4.5. Фотоэлементы
- •14.4.6 P-I-n-фотодиоды и лавинные фотодиоды
- •14.4.7. Фототранзисторы
- •14.4.8. Полевые фототранзисторы
- •14.4.9. Фототиристоры
- •14.5. Оптопары
14.4.3. Фоторезисторы
Фоторезистор
– полупроводниковый резистор,
сопротивление которого изменяется
под действием излучения. Схема
фоторезистора приведена на рис.
14.21,а. Фоточувствительный слой 2 с
контактами 3 наносится на диэлектрическую
пластину 1.
Если фоторезистор не освещен, то он
обладает большим (104...107
Ом) темповым сопротивлением. Соответствующий
ток через фоторезистор называется
темновым.
При достаточной энергии фотонов в
фоторезисторе происходит генерация
пар носителей, приводящая к уменьшению
сопротивления. При включении в цепь
внешнего резистора (рис. 14.21,б) ток,
протекающий в цепи, будет являться
функцией светового потока Ф
и напряжения U.
Основные характеристики фоторезистора: вольт-амперная I= f(U) при Ф = const (рис. 14.22,а); световая (энергетическая) I = f(Ф) при U = const (рис. 14.22,6). Для аппроксимации световой характеристики используют зависимость
I=+
=
+b
,
где
– темновой ток фоторезистора; b
и n
– постоянные коэффициенты, зависящие
от типа фоторезистора;
– фототок.
Спектральная
характеристика
фоторезистора – зависимость фототока
от длины волны падающего света (рис.
14.22,8). Для каждого фоторезистора существует
свой максимум спектральной
характеристики
.
Это связано с различной шириной
запрещенной зоны используемых материалов.
Максимум спектральной характеристики
может находиться в инфракрасной, видимой
или ультрафиолетовой частях спектра.
Фоторезисторы характеризуют также
интегральной
чувствительностью К,
т.е. отношением фототока
к
световому потоку Ф
при номинальном значении напряжения:
К=
/Ф.
Существенный
недостаток фоторезисторов – значительная
зависимость сопротивления от
температуры и большая инерционность,
связанная с большим временем жизни
электронов и дырок после прекращения
облучения. Переходные процессы в
фоторезисторе происходят с постоянной
времени, примерно равной времени
жизни электронов и дырок в полупроводнике.
14.4.4. Фотодиоды
Полупроводниковым фотодиодом называют полупроводниковый диод, обратный ток которого зависит от освещенности (светового потока). Фотодиоды изготовляются на основе электронно-дырочных переходов, контактов металл-полупроводник и гетеропереходов.
Рассмотрим
процессы в конкретной структуре фотодиода
(рис. 14.23,а). Пусть р-область через
прозрачное защитное окно и тонкий n-слой
освещается потоком фотонов, энергия
которых больше ширины запрещенной
зоны полупроводника. Тогда в n-области
будут образовываться пары носителей
электрон-дырка. Появившиеся
неравновесные электроны являются
основными носителями для n-области.
Поэтому относительное увеличение
концентрации электронов из-за освещения
будет очень малым, и им в первом приближении
можно пренебречь. Незначительная доля
неравновесных электронов может
преодолеть имеющийся для них в n-р-переходе
потенциальный барьер, создаваемый
контактной разностью потенциалов и
обратным напряжением от источника
питания. Вследствие малости исходной
концентрации неосновных носителей
в n-области
относительное увеличение концентрации
дырок (из-за неравновесных дырок,
появившихся за счет освещения) будет
значительным. Если пара носителей
электрон-дырка возникает на таком
расстоянии от границы р-n-перехода,
что время пролета (диффузии) дырок до
этой границы меньше времени ее жизни в
n-полупроводнике
(или, другими словами, путь меньше
диффузионной длины дырок), то дырка,
являясь неосновным носителем, будет
захвачена ускоряющим электрическим
полем перехода. Переход дырки в р-область
означает увеличение обратного тока
перехода. Добавка к обратному току,
связанная с освещением, называется
фототоком
.
Полная величина обратного тока
=
+
,
где
– темновой ток (при нулевом световом
потокеФ
= 0),
т.е. это обратный ток обычного диода.
Фототок
обычно представляют выражением
=
Ф,
а коэффициент пропорциональности
называютинтегральной
токовой чувствительностью фотодиода.
Темновой ток фотодиода (Ф
= 0)
представляется уравнением
,
U<0,
а
семейство вольт-амперных характеристик
при Ф0
.
Это семейство характеристик
изображено
в III
квадранте на рис. 14.24. На рис. 14.23,б показана
схема включения фотодиода с резистором
.
Изменение напряжения на резисторе
и есть полезный эффект, связанный с
освещением. Если
=
0 (режим короткого замыкания), то в цепи
течет так называемый фототек короткого
замыкания
,
соответствующий на рис. 14.24 значению
приU=
0.