- •Предисловие
- •I. Электронные ключи
- •Глава 1. Электронный ключ на биполярном транзисторе
- •1.1. Статические свойства ключа
- •1.1.1. Режим отсечки
- •1.1.2. Режим насыщения
- •1.2. Динамические свойства ключа
- •1.2.1. Время задержки
- •1.2.2. Время положительного фронта
- •1.2.3. Накопление носителей
- •1.2.4. Время рассасывания
- •1.2.5. Время среза
- •Глава 2. Повышение быстродействия ключей на биполярных транзисторах
- •2.1. Переключатели тока на биполярных транзисторах
- •Глава 3. Ключи на полевых транзисторах
- •Часть вторая исследование ключа на транзисторе
- •1. Цель работы
- •2. Описание лабораторной установки
- •3. Методические указания
- •4. Предварительное расчётное задание
- •5. Рабочее задание
- •5.1. Исследовать ключевую схему на биполярном транзисторе
- •II. Простейшие комбинационные
- •Интегральные микросхемы
- •Часть первая
- •Логические интегральные схемы
- •Глава 1. Основные параметры логических схем
- •1.1. Транзисторно-транзисторная логика
- •1.2. Эмиттерно-связанная логика
- •Часть вторая исследование интегральных логических элементов
- •1. Цель работы
- •2. Описание лабораторной установки
- •3. Методические указания
- •4. Предварительное расчётное задание
- •5. Рабочее задание
- •5.1. Исследование ключевых схем на интегральных логических элементах (илэ) (по выбору преподавателя).
- •6. Контрольные вопросы
- •Глава 1. Триггеры на интегральных микросхемах
- •1.1. Общие сведения и классификация
- •1.2. Триггеры rs-типа
- •1.3. Триггеры d-типа
- •1.4. Триггеры, управляемые перепадом синхроимпульса
- •1.5. Триггеры т-типа
- •Глава 2. Регистры
- •Глава 3. Счётчики импульсов
- •Часть вторая исследование схемы универсального регистра
- •1. Цель работы
- •2. Описание лабораторной установки
- •3. Предварительное расчётное задание
- •4. Рабочее задание
- •5. Контрольные вопросы
- •3. Предварительное расчётное задание
- •4. Рабочее задание
- •5. Контрольные вопросы
- •Регистра интегральные счётчики в программной среде ewb
- •IV. Генераторы прямоугольных импульсов
- •Глава 1. Общие сведения о работе генераторов
- •1.1. Мультивибратор на биполярных транзисторах
- •Мультивибратора
- •1.2. Интегральный аналог дискретного mb
- •Примером такой практической реализации являются выпускаемые интегральные мв на микросхемах 119гг1,2 серий 119 (1гф192а - 1гф192в, к1гф192) и 218 (2гф181, к2гф181).
- •1.3. Мультивибраторы на илэ
- •1.3.1. Мультивибраторы симметричного вида
- •1.3.2. Мультивибраторы несимметричного вида
- •1.4. Мультивибратор на операционном усилителе
- •1.5. Ждущие мультивибраторы
- •1.6. Таймеры
- •Часть вторая исследование схем мультивибраторов
- •1. Цель работы
- •2. Описание лабораторной установки
- •3. Предварительное расчётное задание
- •4. Рабочее задание
- •Мультивибраторы в программной среде ewb
- •Глава 1. Укоротители импульсов на илэ
- •Глава 2. Расширители импульсов на илэ
- •2. Описание лабораторной установки
- •3. Предварительное расчётное задание
- •4. Рабочее задание
- •5. Контрольные вопросы
- •VI. Генераторы линейно изменяющегося
- •Глава 1. Разновидности генераторов линейно изменяющегося сигнала
- •1.1. Глин с токостабилизирующим элементом
- •1.2. Глин с компенсирующей эдс
- •1.3. Глин на операционном усилителе
- •1.4. Автогенератор с компаратором
- •Часть вторая исследование параметров схем глиНов
- •1. Цель работы
- •2. Описание лабораторной установки
- •3. Предварительное расчётное задание
- •4. Рабочее задание
- •Часть третья генераторы линейно изменяющегося напряжения в программной среде ewb
- •Библиографический список
1.1. Статические свойства ключа
Д
ля
анализа и расчёта ключевых схем на
биполярных транзисторах используют их
эквивалентные схемы. Существующие
методы, программы и точности расчётов
обуславливают большое количество этих
схем, и лишь некоторые из них получили
наибольшее распространение. Часто
используемой является модель Эберса-Молла,
которая различается в двух разновидностях:
полная и идеализированная (одномерная)
модели (рис. 1.4а, б).
Полная модель (рис. 1.4а)) учитывает объёмные сопротивления слоёв, включая эффект модуляции толщины базы (эффект Эрли), и ёмкости p-n переходов. Модель использует параметры для нормального и инверсного включений и применяется для учёта инерционных (частотных) свойств транзистора.
Анализ статических состояний ключа проще проводить, используя идеализированную модель биполярного транзистора, включённого по схеме с ОБ (рис. 1.4б), и по формулам Эберса-Молла, так как они позволяют рассматривать работу ключа при любых сочетаниях напряжений на р-n переходах транзистора.
В этой схеме
токи эмиттера IЭ
и коллектора IК
содержат по две составляющие: инжектируемую
(I1
и I2)
и собираемую (
и
),
то есть:
;
.
Токи I1
и I2
- это прямые токи открытых эмиттерного
и коллекторного переходов. С
учётом изложенного уравнения Эберса-Молла
имеют вид:
где
IЭБ0,
IКБ0
– значения обратных токов эмиттерного
и коллекторного переходов измеренных
в режимах холостого хода (обрыве)
коллектора и эмиттера.
Между
обратными токами переходов существует
зависимость:
.
Считая значения коэффициентов
,
можно полагать, что
.
Это позволяет упростить формулы
Эберса-Молла, а также анализ работы
ключа.
1.1.1. Режим отсечки
При
подаче на эмиттерный переход транзистора,
запирающего напряжения UБЭ<0,
будут закрыты оба перехода транзистора.
Величины запирающих напряжений UБЭ
и UКБ
(ЕП)
должны значительно превышать величину
температурного потенциала
,
то есть UЭБ>>T,
UКБ>>T
и считая N>>I.
Переход транзистора в режим отсечки осуществляется при подаче на эмиттерный переход запирающего напряжения, когда выполняется условие
Тогда из приведённых уравнений Эберса-Молла можно получить выражения для токов закрытого транзистора:
.
Полученные значения токов будут минимальными и имеют место при режиме, называемым режимом глубокой отсечки.
Эквивалентная схема ключа в режиме отсечки будет иметь вид, приведённый на рис. 1.5.
С
читая
величины напряжений UБЭ=0
и UКБ>>T,
в приведённых уравнениях, получим
значения токов для ещё закрытого
транзистора, но уже находящегося на
границе между областью отсечки и
нормального активного режима (линейной
активной области):
.
Токи IЭ и IК увеличиваются и, кроме того, IЭ меняет знак при практически неизменном IБ, что отражено на рис. 1.2.
Напряжение
на эмиттерном переходе, которое
соответствует граничному значению при
,(
)
между режимами ЛАО и областью отсечки,
будет равно:
,
где знак “─” соответствует транзистору n-p-n типа, а знак “+“ транзистору p-n- p - типа.
Количественно
глубина режима отсечки характеризуется
коэффициентом отсечки, который часто
называют коэффициентом запирания. Он
зависит от сопротивления резистора
,
включённого в цепь базы транзистора:
.
Оптимальное
значение коэффициента отсечки составляет
значение
.
Минимальную величину сопротивления
можно найти из неравенства:
.
