
- •Лабораторная работа 1 Изучение статистических закономерностей в ядерной физике
- •Особенности измерений в ядерной физике, вывод рабочих формул
- •Порядок выполнения работы. Проверка распределения Пуассона.
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 2 Снятие характеристики счетчика Гейгера-Мюллера по космическому излучению
- •Общие указания
- •Порядок выполнения работы
- •Вопросы для самоконтроля
- •Лабораторная работа 3 Изучение работы сцинтилляционного детектора
- •Общие указания
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа 6 Структурный анализ поликристаллических тел.
- •Основные указания
- •2. Экспериментальное получение рентгенограмм и електронограмм
- •3. Расшифровка рентгенограмм и электронограмм
- •Порядок проведения исследований
- •4.1. Индицирование дифрактограммы
- •4.2.Индицирование электронограммы
- •Лабораторная работа № 7 Изучение температурной зависимости электросопротивление металлов и полупроводников.
- •Основные .Указания
- •2. Приборы и принадлежности, схема опыта
- •Порядок проведения исследований
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 8 Определение работы выхода электронов из металла
- •Описание установки
- •Метод определения работы выхода
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа №9 Изучение фотоэффекта определение постоянной планка. Основные положения
- •Задание Изучение внешнего фотоэффекта и определение постоянной Планка
- •Вопросы для самоконтроля
- •Лабораторная работа №10 Контактные явления в полупроводниках Основные положения
- •Лабораторная работа № 10.1 Исследование явления испускания света полупроводниками
- •Вывод рабочих формул и описание установки
- •Порядок выполнения работы
- •Вопросы для самоконтроля
- •Лабораторная работа № 10.2 Изучение работы полупроводникового выпрямительного диода
- •Вывод рабочих формул и описание установки
- •Порядок выполнения работы
- •Вопросы для самоконтроля
- •Лабораторная работа № 10.3. Изучение работы биполярного транзисторе
- •В ывод рабочих формул и описание установки
- •. Условные обозначения транзисторов обоих типов в электрических схемах приведены на рис.10.9. Кружок у транзистора типа означает, что кристалл помешен в корпус.
- •Порядок выполнения работы
- •Вопросы для самоконтроля
- •Лабораторная работа № 11 Снятие кривой намагничивания и петли гистерезиса с помощью осциллографа.
- •Вывод рабочих формул и описание установки
- •Порядок выполнения работы
- •Упражнение 2. Снятие петли гистерезиса к определение потерь на перемагничивание
- •Порядок выполнения работы
- •Вопросы для самоконтроля
- •Лабораторная работа №12 Определение точки Кюри
- •Вывод рабочих формул и описание установки
- •Порядок выполнения работы
- •Вопросы для самоконтроля
- •Лабораторная работа №13 Определение концентрации носителей тока в полупроводниках с помощью эффекта Холла
- •Вывод рабочих формул и описание установки
- •Порядок выполнения работы
- •Примерная форма таблицы результатов
- •Вопросы дли самоконтроля
- •Лабораторная работа № 14 Изучение сериальных закономерностей в спектре атома водорода и определение постоянной Ридберга
- •Порядок выполнения работы
- •Вопросы для самоконтроля
- •Лабораторная работа № 15.1 Определение постоянной Стефана-Больцмана
- •Порядок выполнения работы
- •Лабораторная работа № 15.2 Изучение поглощательной способности серых тел
- •Порядок выполнения работы
- •Вопросы для самоконтроля
Лабораторная работа № 7 Изучение температурной зависимости электросопротивление металлов и полупроводников.
Цель работы: 1. Исследовать зависимость сопротивления металлического образца от температуры и определить термический коэффициент сопротивления.
2.Исследовать зависимость сопротивления полупроводникового образца от температуры и определить энергию активации
Основные .Указания
Для выполнения данной работы студентам необходимо детально ознакомиться с теорией электропроводности кристаллов
Особое
внимание следует обратить на различие
величины удельной электропроводимости
;
у металлов
,
у полупроводников
у диэлектриков
.
Важно помнить, что качественное объяснение такого широкого спектра изменения величины удельной электропроводимости различных кристаллических тел заключается в следующем. Энергетический спектр электронов в кристалле имеет зонную структуру, т.е. области разрешенных значений энергий разделены интервалами запрещенных энергий. Последнюю, заполненную полностью или частично, зону называют валентной (В.З.) , выше валентной имеется полностью свободная от электронов зона, которую называют зоной проводимости (3.Пр.) (Рис.1).
; называется энергией активации.
Следует иметь в виду, что электрический ток в полупроводниках обусловлен одновременным переходом электронов и в зоне проводимости, и в валентной зоне. При перемещении электронов валентной зоны вверх по шкале энергий освобождающийся энергетический уровень движется вниз. Такой уровень отождествляется с фиктивной частицей - дыркой, которая имеет заряд, равный по величине заряду электрона, но противоположного знака.
Для
металлов температурная зависимость
удельной электропроводимости
,
где е- заряд электрона, n.
- концентрация электронов, определяется
зависимостью подвижности электронов
от
средней длины свободного пробега
, т.к. число свободных электронов и их
скорость v
не зависят от температуры.
Необходимо помнить, что вероятность рассеяния электронов пропорциональна числу фотонов, которое при температурах выше температуры Дебая пропорционально температуре. Поэтому средняя длина свободного пробега с ростом температуры уменьшается, подвижность электронов падает, а сопротивление растет
,
где
- сопротивление образца при 0°С;
-
термический коэффициент сопротивления.
Следует
знать, что в полупроводниках от температуры
зависят: число электронов и дырок
,
длина свободного пробега
и скорость движения .электронов
.
Окончательно
Здесь
-
постоянная Больцмана.
2. Приборы и принадлежности, схема опыта
Образцы металла и полупроводника; прибор для измерения сопротивления-вольтметр B7-I6; нагреватель; термопары для измерения температуры; вольтметр универсальный В7-21А для измерения термоэдс.
Схема измерительной установки представлена на рис.2.
К образцам металла 3 и полупроводника 8 приклеены термопары 2 и 7, позволяющие с помощью вольтметра 6 измерять их температуру. Сопротивление образцов измеряется универсальным вольтметром I. Два реле 5 и 10 позволяют фиксировать сопротивление металла и полупроводника на вольтметра I при нажатых соответственно кнопках К2 и КЗ. При переводе переключателя KI в среднее положение измерение сопротивлений образцов производится при комнатной температуре. Положение "металл" переключателя KI включает нагреватель 4 образца металла. Это позволяет исследовать температурную зависимость сопротивления металлического образца. Подобным образом исследуется температурная зависимость сопротивления полупроводника за счет подогрева его нагревателем 9 при переводе К1 в положение "полупроводник".
Вольтметр В7-21А позволяет в широком диапазоне измерить ЭДС термопары.