 
        
        
 
КИЇВСЬКИЙ НАЦІОНАЛЬНИЙ УНІВЕРСИТЕТ ІМЕНІ ТАРАСА ШЕВЧЕНКА
ФІЗИЧНИЙ ФАКУЛЬТЕТ
КАФЕДРА ОПТИКИ
ПРАКТИКУМ “ОПТИКО-ЕЛЕКТРОННІ ПРИЛАДИ І СИСТЕМИ”
3
Дослідження характеристик фотодіода
КИЇВ 2001
Список лабораторних робіт та додаткових матеріалів практикуму
“Оптико-електронні прилади і системи”
--------------------------------------------------------------------------------------------
- Дослідження характеристик фотоелектронного помножувача. 
- Дослідження характеристик фоторезистора. 
- Дослідження характеристик фотодіода.
- Електрометричний вимірювач струму. 
- Синхронний детектор. 
- Метод лічби одноелектронних імпульсів. 
- Вимірювання форми імпульсу випромінювання. 
- Реєстрація спектрів пропускання. 
- Реєстрація спектрів випромінювання. 
- Вимірювання спектральної чутливості фотоприймачів. 
- Вимірювання абсолютної та порогової чутливості фотоприймача. 
- Методи модуляційної спектроскопії. 
- Мікрофотометри. 
- Терміни та визначення 
- Спектр випромінювання абсолютно чорного тіла. Функція Планка. 
- Опис спектрофотометра СФ-5 
У цій лабораторній роботі Ви познайомитеся з принципом роботи, будовою, характеристиками фотодіода (ФД), особливостями режимів його роботи як приймач оптичного випромінювання.
Теоретична частина
Фотодіодами називають фотоприймачі, що містять p-n-перехід, і робота яких як приймачів випромінювання заснована на явищах, що проходять у приконтактній області між двома різними матеріалами (метал-напівпровідник, напівпровідник-напівпровідник).
Розглянемо контакт напівпровідників різної провідності (p- і n-типу). У рівноважному стані рівні Фермі обох напівпровідників вирівнюються, а енергетичні зони утворять потенційний бар'єр для основних носіїв (мал.1а), який приблизно дорівнює ширині забороненої зони.
 
Мал.1. Енергетичні діаграми, що пояснюють вольт-амперні характеристики p-n-переходу.
Така система з внутрішнім потенційним бар'єром знаходиться в рівновазі у відсутності зовнішнього поля і освітлення; потоки електронів та дірок через контактний перехід врівноважують одне одного:
 (для
електронів),   (1)
 (для
електронів),   (1)
 (для
дірок),         (2)
 (для
дірок),         (2)
де nn - концентрація електронів у n-області, nр - те ж у p-області, рn - концентрація дірок у n-області, рр - те ж у p-області. Якщо зовнішні контакти двох областей замкнути через зовнішню ланку, то струм у цій ланці не потече.
При прикладанні до p-n-переходу зовнішньої напруги в прямій полярності (тобто, "+" до p-області та "-" до n-області) бар'єр знижується (мал.1б) і струм основних носіїв буде збільшуватися пропорційно exp(eU/kT), де е - заряд електрона, a U - прикладена напруга. При зворотному зміщенні p-n-переходу зовнішнє поле складається з внутрішнім, підвищуючи потенційний бар'єр (мал.1в) і перешкоджаючи дифузії основних носіїв через бар'єр. При величині зворотної напруги Urev > kT/e дифузійний струм основних носіїв практично припиняється і в зовнішній ланці тече невеликий струм неосновних носіїв.
Вольт-амперна характеристика електронно-діркового переходу, що відбиває описані події і показана на мал.2 (крива 1), достатньо добре представляється наступним виразом:
 ,
  (3)
,
  (3)
	 
		 
 
Мал. 3. Схеми включення фотодіода; а – фотодіодна, б - фотогальванічна,
де i0- зворотний струм p-n-переходу, утворений неосновними носіями. Вольт-амперна характеристика освітленого ФД має вигляд:
	 ,
	  (4)
,
	  (4)
	де
		 - число фотонів, що поглинаються в об`ємі
	напівпровідника за одиницю часу, 
	- коефіцієнт
	збору (при малій глибині залягання
	p-n-переходу
	- близький до одиниці),
	-
	квантовий вихід внутрішнього фотоефекта,
	P
	-
	потужність
	падаючого випромінювання. Ця характеристика
	показана на мал.2 (крива 2).
	- число фотонів, що поглинаються в об`ємі
	напівпровідника за одиницю часу, 
	- коефіцієнт
	збору (при малій глибині залягання
	p-n-переходу
	- близький до одиниці),
	-
	квантовий вихід внутрішнього фотоефекта,
	P
	-
	потужність
	падаючого випромінювання. Ця характеристика
	показана на мал.2 (крива 2).
Розрізняють два режими роботи ФД: фотодіодний - зі зворотним зміщенням (мал.2 - квадрант III, мал. За) і фотогальванічний чи вентильний - без зовнішнього джерела живлення (мал. 2 - квадранти IV,I, мал.3б).
У фотодіодному режимі першим членом (4) можна знехтувати (U - негативне):
	 .
	  (5)
.
	  (5)
Таким чином, світлова характеристика - лінійна. У фотогальванічному режимі розрізняють два випадки: 1) фотогальванічний режим короткого замикання RH=0 (isc представлений відрізком 0а на мал.2) і 2) фотогальванічний режим холостого ходу (Uxx- представлено відрізком 0б) RH .
У режимі короткого замикання U0 = 0 = Ri. З (4):
	 .
.
Вважаючи для спрощення  = 1, маємо:
	 .
	  (6)
.
	  (6)
Таким чином, світлова характеристика виявляється лінійною. Однак, в дійсності R не можна зробити рівним нулю. У загальному випадку:
	 ,
	  (7)
,
	  (7)
де R = RH + r, r - внутрішній опір ФД. Нехай R малий настільки, що iR < kT/e (kT/e = 0,02 В при кімнатній температурі). У реальних випадках R =103 Ом, imax =10-6 A, Ri < 0,001 В). Розкладаючи останній член (7) у ряд і обмежуючись лінійними членами, одержимо:
	 .
	  (8)
	.
	  (8)
Світлова характеристика й у цьому випадку залишається лінійної (хоча чутливість небагато менша), тобто цей режим при eRi/kT < 1 зберігає всі переваги фотодіодного режиму.
У режимі холостого ходу (або фото-е.р.с) з (4) маємо:
	 .
	  (9)
.
	  (9)
Видно, що світлова характеристика змінюється пропорційно lnР і залежить від величини зворотного струму через перехід...
Спектральна чутливість визначається виразом:
	 ;
	  (10)
;
	  (10)
	 .
	  (11)
	.
	  (11)
Типові криві спектральної чутливості реальних фотодіодів наведені на мал.4.
	 
Мал.4. Криві спектральної чутливості фотодіодів.
Порівнюючи всі режими роботи ФД, можна сказати наступне. У фотодіодному режимі ФД має більш високу чутливість по напрузі: величина фотоструму практично не змінюється при включенні великого навантажувального опору (мал.2). Отже, і сигнал, що знімається з RH, може досягати великої величини, тому що внутрішній диференціальний опір ФД у фотодіодному режимі, обумовлений нахилом вольт-амперних характеристик, дуже великий ( >107Ом). Однак, варто пам'ятати, що досить широкий динамічний діапазон світлової характеристики може бути отриманий лише при використанні реєстратора струму (Rin  0). Друга перевага фотодіодного режиму перед фотогальванічним - менша інерційність (розсмоктування носіїв прискорюється зовнішнім електричним полем).
У свою чергу фотогальванічний режим відрізняється двома важливими особливостями - відсутністю джерела живлення, що значно спрощує використання ФД у малогабаритній апаратурі, і надзвичайно низьким рівнем шумів через відсутність темнового струму, флуктуації і температурний дрейф якого найчастіше і визначають цей рівень. Вибір же того чи іншого режиму роботи в кожнім конкретному випадку визначається сумою вимог, висунутих до фотоприймача в заданих умовах його застосування.
Фотодіоди - малоінерційні приймачі випромінювання. У звичайних фотодіодів, у конструкції яких не передбачено спеціальних заходів для підвищення швидкодії, постійна часу визначається часом дифузії неосновних носіїв через перехід. При товщині переходу в декілька мікрометрів час дифузії може бути  10-7...10-8 с.
На відміну від фоторезисторів, інерційність ФД не залежить від рівня збудження, тобто від потужності потоку випромінювання. Низький рівень шуму і висока чутливість ставить їх в один ряд з фотоприймачами високої граничної чутливості і дозволяє використовувати їх для вимірювання дуже малих потоків випромінювання (Pmin  10-12 Вт).
На закінчення слід зауважити що ФД, які випускаються на поточний час можуть працювати у всіх режимах (крім селенових фотоелементів, які застосовуються тільки у фотогальванічному режимі холостого ходу).
Створення фотометрів на основі ФД
Найчастіше вживаний на практиці фотодіодний режим роботи застосовується як з реєстраторами постійного, так і змінного струму. У першому випадку (мал.5а) необхідно використовувати ФД із малим темновими струмом, щоб виключити додаткові пристрої компенсації темнового струму та його значний температурний дрейф. У зв'язку з цим дуже ефективне використання модуляційного способу реєстрації (мал.5б) із застосуванням синхронного детектування.
 
Мал.5. Схеми включення ФД у фотодіодному режимі: а) - за постійним струмом, б) - за модуляційною методикою.
	 
Мал.6. Схеми включення ФД у фотогальванічному режимі: а - короткого замкнення, б - холостого ходу.
Дуже простим за реалізацією є фотогальванічний режим короткого замкнення (мал.6а). У цьому випадку застосовуються підсилювачі з паралельним негативним зворотним зв'язком за напругою (перетворювачі струм-напруга), які мають малий вхідний імпеданс.
Для реалізації фотогальванічного режиму холостого ходу (мал.6б) потрібне застосування підсилювачів з дуже високим вхідним опором. Для цих цілей застосовуються повторювачі напруги (Uout = Uxx). Такий режим використовується досить рідко і лише в тих випадках, коли в межах однієї шкали потрібно вимірювати потоки випромінювання, що змінюються на декілька порядків (фотоекспонометри).
Експериментальна установка побудована на базі спектрофотометра СФ-5, у якому у відсік приймачів випромінювання установлені фотодіоди. На лицьову панель спектрофотометра виведені потенціометр, що змінює напругу зворотного зсуву на фотодіоді, а також стрілочний індикатор цієї напруги. Реакція фотодіода реєструється універсальним вимірювальним приладом типу В7-21. З призначенням інших органів керування можна ознайомитися, звернувшись до інструкції з експлуатації спектрофотометра СФ-5.
Завдання
Перед початком роботи уважно ознайомтеся з усіма матеріалами і літературою, пропонованими до даної лабораторної роботи. Перед початком вимірів спробуйте спрогнозувати свої дії. При необхідності, частіше радьтеся з викладачем або лаборантом.
1. Дослідити залежність темнового струму і фотоструму ФД від напруги зворотного зсуву. Побудувати графіки (у лінійному масштабі) і пояснити отримані залежності. Визначити зворотний струм фотодіода й оцінити струм утоку ФД.
2. Зробити перевірку лінійності світлової характеристики у фотодіодному режимі і фотогальванічному режимі короткого замкнення методом "пробного фільтра".
Корисні поради;
* установити фільтр на каретці кюветного відділення так, щоб мати можливість при зміні положення каретки вводити і виводити фільтр з потоку випромінювання;
* порядок операцій, що рекомендується:
1) у відсутності фільтра розкриттям щілини установити значення фотоструму, що відповідає максимально можливому відліку вимірювача фотоструму;
2) переміщенням каретки кюветного відділення увести фільтр і зробити відлік;
3) зменшити ширину щілини настільки, щоб показання приладу змінилося приблизно в 3 рази, і після введення фільтра зробити відлік;
4) повторити операції п.З) для всіх можливих величин розкриття щілини і чутливості вимірювача струму;
довжина хвилі, що рекомендується - 1000 нм.
Довести, що незмінність відношення реакції фотодіода з фільтром і без нього для всіх значень інтенсивності падаючого на ФД випромінювання свідчить про лінійність світлової характеристики фотодіода.
3. Виміряти світлову характеристику фотодіода у фотогальванічному режимі холостого ходу. Побудувати графік цієї залежності в напівлогарифмічному масштабі.
Корисний поради:
* при вимірах використовуйте властивість лінійності світлової характеристики ФД у режимі короткого замкнення;
* зверніть увагу на можливе ненульове значення напруги холостого ходу при відсутності випромінювання...
4. Вимірити і побудувати криву відносної спектральної чутливості фотодіода. Визначити матеріал ФД. Корисні поради:
* відліки рекомендується робити в діапазоні довжин хвиль від 600 до 1200 нм через кожні 20 нм (при необхідності відліки можна робити частіше);
* для розрахунків кольорову температуру джерела випромінювання прийняти рівною 2500 К;
- регулярно контролюйте показання вимірювального приладу при закритому фотодіоді і вводьте відповідне виправлення відліків при вимірюванні фотоструму. Визначте довжину хвилі максимуму чутливості, область чутливості, а також червону границю фотоефекта. Порівняйте отримані результати з паспортними даними фотодіода. 
