- •Отчет об учебной ознакомительной практике электронная микроскопия
- •Содержание
- •Введение
- •1 Основные характеристики микроскопов
- •2 Принцип действия электронных микроскопов
- •2.1 Просвечивающий электронный микроскоп
- •2.2 Сканирующий электронный микроскоп
- •3 Методы электронной микроскопии
- •3.1 Метод реплик
- •3.2 Метод декорирования
- •3.3 Амплитудная электронная микроскопия
- •3.4 Фазовая электронная микроскопия
- •3.5 Лоренцова электронная микроскопия
- •3.6 Количественная электронная микроскопия
- •Список используемых источников
3.5 Лоренцова электронная микроскопия
Областью исследования лоренцовой электронной микроскопии, в которой изучают явления, обусловленные силой Лоренца, являются внутренние магнитные и электрические поля или внешние поля рассеяния, например, поля магнитных доменов в тонких пленках, сегнетоэлектрических доменов, поля головок для магнитной записи информации и т. п.
3.6 Количественная электронная микроскопия
Методы количественной электронной микроскопии – это точное измерение различных параметров образца или исследуемого процесса, например измерение локальных электрических потенциалов, магнитных полей, микрогеометрии поверхностного рельефа и т. д.
Список используемых источников
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ / [Дж. Гоулдстейн.]. ; Пер. с англ. Р. С. Гроздовер, Л. Ф. Комоловой. — М. : Мир, 1984. — 305 с.
Практическая растровая электронная микроскопия / [Дж. Гоулдстейн, Х. Яковиц, Д. Ньюбэри и др.]. ; Под ред. Дж. Гоулдстейна и Х. Яковица; Пер. с англ., под ред. В. И. Петрова. — М. : Мир, 1978 — 656 с.
Методика электронной микроскопии / [Г. Шиммель.]. ; Пер. с нем. — М. : Мир, 1972. — 300 с.