- •Отчет об учебной ознакомительной практике электронная микроскопия
- •Содержание
- •Введение
- •1 Основные характеристики микроскопов
- •2 Принцип действия электронных микроскопов
- •2.1 Просвечивающий электронный микроскоп
- •2.2 Сканирующий электронный микроскоп
- •3 Методы электронной микроскопии
- •3.1 Метод реплик
- •3.2 Метод декорирования
- •3.3 Амплитудная электронная микроскопия
- •3.4 Фазовая электронная микроскопия
- •3.5 Лоренцова электронная микроскопия
- •3.6 Количественная электронная микроскопия
- •Список используемых источников
Министерство образования и науки Российской Федерации
ФEДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ПРОФЕССИОНАЛЬНОГО ОБРАЗОВАНИЯ «САРАТОВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ
ИМЕНИ Н.Г. ЧЕРНЫШЕВСКОГО»
УТВЕРЖДАЮ
-
Зав. кафедрой материаловедения, технологии и управления качеством,
д.ф.-м.н., профессор
уч. ст., уч. зв.
С.Б. Вениг
подпись, дата
иниц.,фамилия
Отчет об учебной ознакомительной практике электронная микроскопия
студентки 2 курса 221 группы
направления «Материаловедение и технологии материалов»
факультета нано- и биомедицинских технологий
Филоненко Татьяны Вадимовны
продолжительность 2 недели, 02.07.2012- 15.07.2012
Руководитель практики от университета,
доцент, к.ф.-м.н. |
|
|
|
Е.Г. Глуховской |
должность, уч. ст., уч. зв. |
|
личная подпись, дата |
|
инициалы, фамилия |
Руководитель практики от организации (учреждения, предприятия),
|
|
|
|
|
должность, уч. ст., уч. зв. |
|
личная подпись, дата |
|
инициалы, фамилия |
Саратов 2012
Содержание
Введение 3
1 Основные характеристики ЭМ……………………………………………………4
2 Принцип действия ЭМ…………….….……...………………………………..…. 6
2.1 Просвечивающий электронный микроскоп……………………………………6
2.2 Сканирующий электронный микроскоп……………………………………….7
3 Методы электронной микроскопии………………………………………………8
3.1 Метод реплик…………………………………………………………………….8
3.2 Метод декорирования…………………………………………………………...8
3.3 Амплитудная электронная микроскопия………………………………………8
3.4 Фазовая электронная микроскопия…………………………………………….9
3.5 Лоренцовая электронная микроскопия…………………...……………………9
3.6 Количественная электронная микроскопия…………………………………..10
Список используемых источников…………………………………………..…....11
Введение
В век быстро развивающейся техники ученому необходимо наблюдать, исследовать и правильно объяснять явления, происходящие на микронном и субмикронном уровнях. Электронный микроскоп - это прибор с большими возможностями, позволяющий на таком уровне наблюдать и изучать неоднородные органические и неорганические материалы и поверхности. В данном приборе исследуемая область или анализируемый микрообъем облучаются тонко сфокусированным электронным пучком, либо неподвижным, либо разворачиваемым в растр по поверхности образца. При взаимодействии электронного пучка поверхностью образца возникают следующие типы сигналов: вторичные электроны, отраженные электроны, оже-электроны, характеристическое рентгеновское излучение и фотоны различных энергий. Эти сигналы исходят из специфических эмиссионных областей внутри образца и могут быть использованы для изучения многих характеристик объекта (состава, топографии поверхности, кристаллографической ориентации и т.д.).
В электронном микроскопе наибольший интерес представляют сигналы, создаваемые вторичными и отраженными электронами, поскольку они меняются при изменении топографии поверхности по мере того, как электронный луч сканирует по образцу. Вторичная электронная эмиссия возникает в объеме вблизи области падения пучка, что позволяет получать изображения с относительно высоким разрешением. Объемность изображения возникает за счет большой глубины фокуса сканирующего электронного микроскопа, а также эффекта оттенения рельефа контраста во вторичных электронах. Возможны и другие типы сигналов, которые оказываются также полезными во многих случаях.