
- •1. Факторы, влияющие на работоспособность эвм
- •2. Требования к конструкции эвм
- •3. Показатели конструкции эвм
- •4. Общие принципы конструирования эвм
- •5. Виды конструкторской документации (кд)
- •6. Схемная документация
- •7. Методы интенсифик интеллект труда
- •8. Конструктивная иерархия элементов, узлов и устройств эвм.
- •9. Типовые схемы геометрической компоновки конструкций эвм
- •10. Классификация и условные обозначения микросхем, их корпуса
- •11. Выбор серии интегральных микросхем
- •12. Виды задач, решаемые при конструировании печатных плат
- •13. Классификация печатных плат
- •14. Керамические печатные платы, их достоинства, недостатки
- •15. Металлические печатные платы, их достоинства, недостатки
- •16. Расчет электрических параметров печатных плат
- •17. Основные правила конструирования элементов 2 и 3 уровней конструктивной иерархии
- •18. Конструкционная система ес эвм
- •19. Конструкционная система см эвм
- •20. Конструкционная система микроЭвм
- •21. Размеры печатных плат
- •22. Виды электрических соединений элементов эвм, требования к их выполнению
- •23. Причины возникновения помех в эвм
- •24. Связи между элементами в эвм. Схемы замещения линий связи
- •26. Наводки по цепям питания и методы их снижения
- •27. Применение экранов для повышения помехозащищенности эвм
- •28. Волоконнооптические линии связи
- •29. Теплообмен в эвм. Способы переноса тепловой энергии
- •30. Способы охлаждения, используемые для стационарных и нестационарных эвм
- •31. Расчет систем охлаждения теплопроводностью
- •32. Расчет систем естественного и принудительного воздушного охлаждения
- •34. Жидкостные системы охлаждения эвм
- •35. Структурная надежность эвм
- •При смешанном соед-нии элем-тов примен-ся соотв-е формулы для послед-го и паралл-го соединений.
- •36. Расчет надежности работы эвм с учетом условий эксплуатации
- •37. Методы повышения надежности эвм
- •38. Особенности конструирования нестационарных эвм
- •40. Методы увеличения плотности компоновки эвм
- •41. Рычажные передаточные механизмы, применяемые в эвм
- •42. Фрикционные механизмы, применяемые в эвм
- •43. Передачи с гибкой связью, применяемые в эвм
- •44. Винтовые механизмы, применяемые в эвм
- •45. Кулачковые механизмы, применяемые в эвм
- •46. Мальтийские механизмы, применяемые в эвм
- •47. Зубчатые механизмы, применяемые в эвм
- •48. Неразъемные соединения, применяемые в эвм
- •49. Разъемные соединения, применяемые в эвм
- •50. Опоры валов и осей периферийных устройств эвм
- •51. Системы допусков и квалитеты
- •52. Виды посадок и их применение
- •53. Измерение размеров деталей
- •57. Особенности производства эвм
- •58. Типы производств при производстве эвм
- •59. Порядок проектирования тп
- •60. Виды контроля при производстве эвм
- •67. Получение рисунка печатных плат
- •68. Химические и гальванические процессы изготовления печатных плат
- •69. Типовые технологические процессы изготовления печатных плат
- •70. Типовые технологические процессы сборки и монтажа печатных плат
- •71. Технология изготовления тонкопленочных ис
- •72. Методы получения тонких пленок ис
- •73. Технология изготовления толстопленочных ис
- •74. Материал толстопленочных ис
- •75. Технология изготовления полупроводниковых ис
72. Методы получения тонких пленок ис
1) Термическое напыление или испарение в вакууме – если материал доводят до кипения, атомы вылетают, в вакууме летят прямолинейно, осаждаются на подложке
2) Метод ионного распыления – создается разность потенциалов, поверхность бомбардируется ионами, атомы вылетают и осаждаются.
+: высокая скорость атомов -> высокая адгезия, лучше, чем у 1); можно поле настроить по-разному в разных областях -> регуляция толщины слоя -> возможность получения более равномерных пленок; нет перегрева вакуум камеры; малая инерционность процесса; возможность получения групповых методов обработки; высокая эффективность использования материала пленки; высокая точность.
Этапы тех процесса:
1) составление топологии схемы – опред-ся размещ-е эл-тов, происх-т трасс-ка => размер подложки; 2) изгот-е оригинала ИМС – вычерчивание ИМС; 3) изгот-е фотошаблона нужного размера; 4) изгот-ся маски – в каких местах д-но произв-ся напыление; 5) напыление эл-тов схемы. Примен-ся методы: однооперац-й – маска перемещ-ся по разн. подложкам. Многооперац-й – устанавливаются все маски и под них по очереди перемещ-ся подл-ки.
73. Технология изготовления толстопленочных ис
Толстоплен ИМС – ИМС, в кот резисторы, конденсаторы, контактные площадки и межсоединения изготовлены путем последовательного нанесения на подложку различных по составу паст с последующим их вжиганием, толщ 5-25 мкм.
+: более экономичное при небольших объемах производства; более надежны; толщина больше =>больше рассеив-я мощн-ть. -: 1)сложность получения четких рисунков эл-тов; 2)высокая стоимость некоторых паст; 3)наличие опер-ции вжигания. Подложка - высокоглиноземная керамика; оксид бериллия (теплопроводн выше, но мех характеристики хуже, ядовит).
Пасты наносят при помощи трафаретов. Пасты: 1)проводящие (мелкодисперсный порошок металла + связующие); 2)резистивные (тоже, но % металла ниже); 3)диэлектрические (стекло с керамическим наполнителем + связующ); 4)лудящие (низкотемпер припой + органич связующее).
Требования к пасте: высокая вязкость, высокая текучесть. Тиксотропность – текучесть и вязкость зависят от давления (для этого добавл телефторатную кислоту).
Этапы технолог-го процесса: 1)подгот пасты (постоян перемешивание); 2)подгот подложки (обезжирив); 3)трафаретная печать; 4)сушка и вжигание (удаление временных связующих); 5)подгонка резисторов; 6)монтаж дискретных элем; 7)присоедин выводов; 8)герметизация, испытание.
74. Материал толстопленочных ис
Подложка - высокоглиноземная керамика (-: сравнительно невысокая теплопроводность); оксид бериллия (теплопроводн выше в 9 раз, но мех характеристики хуже, ядовит).
Пасты: 1)проводящие (мелкодисперсный порошок металла + связующие); 2)резистивные (тоже, но % металла ниже); 3)диэлектрические (стекло с керамическим наполнителем + связующ); 4)лудящие (низкотемпер припой + органич связующее).
Требования к пасте: высокая вязкость, высокая текучесть. Тиксотропность – текучесть и вязкость зависят от давления (для этого добавл телефторатную кислоту).