
- •1 Часть. Электромагнитные преобразователи информации Лекция №1.Определения магнитных величин. Эталоны. Параметры магнитного поля
- •Лекция № 2. Классификация электромагнитных измерительных преобразователей Преобразование параметров магнитного поля в электрический сигнал
- •Лекция №3. Индукционные измерительные преобразователи
- •5 Уравнение:
- •Лекция №4. Индукционные измерительные преобразователи (продолжение)
- •Лекция №5. Магнитомодуляционные измерительные преобразователи
- •Лекция №6. Феррозонд на основе магнитного компаратора
- •Лекция №7. Макроквантовые измерительные преобразователи
- •Лекция № 8. Вихретоковые индуктивные преобразователи
- •Лекция №9. Индуктивные измерительные преобразователи
- •Лекция №10. Трансформаторные измерительные преобразователи
- •Лекция №11. Магнитоупругие измерительные преобразователи
- •Лекция №12. Микроквантовые измерительные преобразователи на основе ядерно-магнитного резонанса
- •Лекция №13. Гальваномагнитные преобразователи, основанные на эффекте Холла
- •Лекция № 14. Магниторезистивные и гальваномагниторекомбинационные преобразователи
- •2 Часть. Лекции по фопи. Лекция 1. Резистивные преобразователи
- •Лекция 2. Тензодатчики
- •Лекция 3. Измерительные цепи тензорезисторов
- •Лекция 4. Пьезоэлектрические преобразователи
- •Лекция 5. Пьезоэлектрические преобразователи силы, давления и ускорения
- •Лекция 6. Пьезорезонансные преобразователи
- •Лекция 7. Измерительные преобразователи, Основанные на использовании Поверхностных акустических волн
- •Лекция 8. Электростатические преобразователи
- •Лекция 9. Емкостные преобразователи
- •Лекция 10. Измерительные цепи емкостных преобразователей
- •Лекция 1. Тепловые преобразователи
- •Лекция 2. Термоэлектрические преобразователи, их принцип действия и применяемые материалы
- •Лекция 3. Терморезисторы, основы их расчета и применяемые материалы
- •Лекция 4. Разновидности термочувствительных элементов и их применение
- •Лекция 5. Оптоэлектрические преобразователи
- •Лекция 6. Источники излучения. Каналы передачи световой энергии в оптических ип
- •Лекция 7. Приемники излучения
- •Лекция 8. Основные структурные схемы оптоэлектрических преобразователей и приборов
Лекция 2. Тензодатчики
Тензометрические датчики удлинений или растяжений являются пассивными резистивными чувствительными элементами и служат для измерения удлинения или сжатия поверхности деталей, а также других статических и динамических механических величин, которые пропорциональны деформации вспомогательного упругого элемента (пружины), например, пути, ускорения, силы, изгибающего или вращающего момента, давления газа или жидкости и т.д. По этим измеряемым величинам можно определить производные величины, например, массу (вес, степень резервуаров и т.д.).
Принцип работы: Натянутый провод тензодатчика, приклеенный к деформируемой поверхности, растягивается или сжимается по всей длине. При этом возникает положительное или отрицательное изменение сопротивления, которое обусловлено изменением как геометрических размеров проводника, так и его удельного сопротивления ρ или электропроводности вследствие перестройки материала.
Изменение сопротивления R=ρl/A под действием силы F может быть описано полным дифференциальным уравнением
dR=(∂R/∂ρ)dρ+(∂R/∂l)dl+(∂R/∂A)dA (2.1)
Для того, чтобы можно было вести расчет для проводника объемом V, сопротивление R перепишем в виде
R=ρl/A * l/l=ρl2/V (2.2),
тогда
∆R=(∂R/∂ρ)∆ρ+(∂R/∂l)∆l+(∂R/∂V)∆V (2.3)
или
∆R=(l2/V)∆ρ+(ρ/V)2l∆l-(ρl2/V2)∆V (2.4)
Для упрощения можно принять ∆ρ=0 (ρ=const) и ∆V=0 (V=const). В этом случае
∆R=2ρl/V * ∆l=2ρl/V * l/l * ∆l=2R/l * ∆l (2.5),
или
(∆R/R) / (∆l/l)=2 (2.6)
Так как в действительности ρ изменяется, из общего решения получается следующее соотношения:
∆R/R=ε(1+2μ+∂ρ/∂ε * l/ρ)= ε(a+b) (2.7),
где ε=∆l/l; μ – коэффициент Пуассона.
Коэффициент a отражает изменение геометрических размеров а коэффициент b – изменение внутренней структуры материала. Отсюда обычно получают чувствительность тензодатчика равную отношению выходной величины ко входной:
Sε=(∆R/R) / (∆l/l) (2.8).
Чувствительность константановых тензодатчиков с проволокой из сплава медь-никель-марганец составляет Sε~1+2*0,33+0,34=2. Так как это теоретическое значение не точно соответствует наблюдаемому на практике, то чувствительность датчика определяется экспериментально после изготовления и даются пределы погрешностей. При этом обычно не требуется дополнительной калибровки датчика после установки его на объект.
В полупроводниковых датчиках преобладает изменение удельного сопротивления; вклад изменения геометрических размеров 1+2μ мал. При растяжении и изменении температуры чувствительность датчика не постоянная. Изменение сопротивления
∆R/R0=T0/T*kε+(T0/T)2cε+… (2.9),
где k и c – постоянные; T0/T – отношение исходной температуры к температуре измерений.
Даваемые изготовителем значения чувствительности Sε годятся только для исходного состояния при ε=0 и для комнатной температуры. Кремниевые датчики с p-проводимостью имеют чувствительность от +(110-130) до +178, а с n-проводимостью от –(80-100) до -138. При этом открываются возможности разнообразного применения тензодатчиков в мостовых измерительных схемах с большим выходным сигналом. Увеличение концентрации примесных атомов кремния приводит к уменьшению электрического сопротивления и чувствительности датчика. А следовательно, и к ослаблению температурной зависимости сопротивления.
Сигнал тензодатчиков принципиально прямо пропорционален растяжению ε, а не удлинению ∆l базы l как отмечается, например, в индуктивных датчиках.
Растяжение, определяемое отношением ∆l/l, безразмерно. Однако на практике используют единицы величины ε
ε1=10-3 м/м = мм/м =10-6 мкм/м.
Следует избегать замены обозначений 10-3 мм/м промилле o/oo.
Конструкции интегральных полупроводниковых тензорезисторов
В последние годы благодаря широкому развитию планарной технологии появилась возможность изготовлять датчики с полупроводниковыми тензорезисторами, выращивая последние непосредственно на упругом элементе, выполненном из кремния или сапфира. Упругие элементы из кристаллических материалов обладают упругими свойствами, близкими к идеальным, и существенно меньшими погрешностями гистерезиса и линейности по сравнению с металлическими. Тензорезистор «сцепляется» с материалом упругого элемента за счет внутримолекулярных сил, что исключает все погрешности, связанные с передачей деформации от упругого элемента к тензорезистору. На одном упругом элементе выращивается обычно не один тензорезистор, а структура в виде полумоста или даже целый мост и, кроме того, термокомпенсирующие элементы. Благодаря применяемой технологии два тензорезистора, входящие в полумост, обладают значительно большей идентичностью, чем дискретные резисторы; кроме того, благодаря малым габаритам тензорезисторов обеспечивается большая идентичность внешних условий и, таким образом, существенно снижаются погрешности нуля. Все это ведет к широкому развитию в последние годы датчиков с так называемыми интегральными тензорезисторами, выполняемых в виде КНК-структур (кремний на кремнии) и КНС-структур (кремний на сапфире). В КНК-структурах электрическая изоляция осуществляется p-n-переходом, несовершенство изоляционных свойств которого ограничивает надежность датчиков; датчики с КНС-структурами обладают большей стабильностью характеристик. КНС-структура положена, например, в основу датчиков давления, входящих в приборный комплекс «Сапфир-22», разработанный НИИ «Теплоприбор».
В качестве примера на рис.2.1. а) приведен миниатюрный датчик, разработанный в Дрезденском техническом университете и предназначенный для измерения давления крови в сосудах.
Рис. 2.1. а)
Пластина 2 из кремния, показанная в разрезе датчика приклеивается специальным клеем к кремниевой подложке 4. Этот узел из двух кремниевых пластин крепится к корпусу 1 при помощи силиконового каучука 3. Материал корпуса должен быть индифферентен к физиологическому раствору и иметь КЛР, близкий к КЛР кремния. В описываемой конструкции корпус изготовлен из сплава никеля, кобальта и кремния. Датчик крепится на конце полиэтиленового катетера и находится непосредственно в кровеносном сосуде. Через катетер выводятся провода измерительной цепи и крепежный тросик диаметром 200 мкм; кроме того, через катетер полость между кремниевыми пластинами связана с внешней средой; таким образом, в этой полости действует атмосферное давление. На внешние стороны пластин действует измеряемое давление.
На рис. 2.1. б) изображена в укрупненном масштабе кремниевая пластинка 1, в центре которой вытравлена до толщины 15 мкм мембрана площадью 3×1 мм2. На том же рисунке показана кремниевая подложка 2, лежащая под пластиной 1. На нижней стороне пластины 1 (на мембране) расположены тензорезисторы 3.
Рис. 2.1. б)
Тензорезисторы на элементе из высокоомного кремния n-типа получаются методом диффузии так, как показано на рис. 2.1. в).
Рис. 2.1. в)
Изоляцией в этом случае служит сопротивление р-n-перехода. На рис. 2.1. г) дана ориентация пластины 1 с диффундированными тензорезисторами относительно кристаллографических осей. Размеры тензорезисторов l = 320 мкм, b = 60 мкм, удельное сопротивление ρ = 3,8·10-2 Ом·см, тензорезистивный коэффициент π44=97·10-11 Па-1.
Рис. 2.1. г)
Как видно из рис. 2.1. д), диффундированная
структура представляет собой мост,
тензорезисторы R3
и R1 ориентированы
по оси [110], а тензорезисторы R2
и R4
- по оси
.
Рис. 2.1. д)
Тензорезистивные коэффициенты в этом случае равны (см. табл.1) π′11=π44/2 и π′12=-π44/2.
Таблица 2-1. Значения тензорезистивных коэффициентов
Тензоэлемент |
Значения коэффициентов |
||||
π′11, 10-11 Па-1 |
π′12, 10-11 Па-1 |
KT≈Kρ=E π′11 |
Kρ ,10-11 Па-1 |
||
n-Si ρ=0,02 Ом·см А [100] |
-72,6 |
37,6 |
-95,3 |
-2,9 |
|
p-Si ρ=0,02 Ом·см π44=94,5 × × 10-11 Па-1 |
B [110] |
49,14 |
-45,3 |
83,5 |
-3,0 |
C [111] |
64,0 |
-30,5 |
94,2 |
||
D |
49,1 |
-15,6 |
92,7 |
||
A [100] |
4,5 |
-0,75 |
- |
Относительные
изменения сопротивлений
и
,
где
- механические напряжения в направлениях,
параллельных оси [110];
- механические
напряжения в направлениях,
параллельных оси [
].
При условии b0>l0
напряжение определяется как для балки,
заделанной с двух сторон, и усредненное
напряжение в области тензорезисторов
R1 и R3
составляет
(l0/h)2{1
– [l/(2l0)]2}P,
где h = 15 мкм — толщина
мембраны, а в области тензорезисторов
R2 и R4
равно
(l0/h)2[1
– 0,75(l-b)2/l20}.
Напряжения
равны
,
коэффициент μ′= 0,067.
Таким образом, относительные изменения сопротивлений при Р = 0,4·105 Па равны
0,5π44·(1-
μ′)·(l0/h)2{1–[l/(2l0)]2}P=0,5·97·10-11·(1-0,067)·(500/15)2
× ×[1-(320/1000)2]0,4·105 =
1,8·10-2;
-0,5·97·10-11(1-0,067)(500/15)2
[1-0,75(320-60)2/5002]0,4·105 =
-1,6·10-2.
Среднее значение ТКС составляет αΘ≈ 1,2·10-3 К-1, разброс ТКС относительно среднего значения лежит в пределах у = ± (10÷2,5)%. Таким образом, погрешность нуля в худшем случае равна
.
Погрешность чувствительности составляет 0,001 К-1. Сопротивление тензорезисторов R≈800 Ом, ток питания моста 2 мА, выходной сигнал 23,6 мВ.
Об опыте разработки электронного регистратора внутричерепного (эпидурального) давления РЭД-1
Существующие методы измерения внутричерепного давления (ВЧД) относятся к инвазивным и сопряжены с опасностью инфекционных осложнений, поскольку измерение субарахноидального, субдурального и вентрикулярного ликворного давления производят при вскрытой твердой мозговой оболочке.
Известен метод оценки ВЧД без вскрытия твердой мозговой оболочки — это измерение эпидурального давления. Преимущество метода заключается в интактности твердой мозговой оболочки, возможности применения при обширных повреждениях и минимальной травматичности.
В Ижевском государственном техническом университете под руководством автора и при участии ведущих нейрохирургов Удмуртской Республики А.А.Салопаева и И.А.Лаптева была предпринята попытка создания электронного регистратора эпидурального давления, получившего название РЭД-1.
Анализ патентной и другой технической информации привел к выводу о целесообразности построения прибора со следующей структурой: эластичный и герметичный баллончик с воздухом, вводимый между твердой и упругой оболочкой, соединен трубкой (катетером) с тензодатчиком давления, электрический сигнал с датчика через специальный разъем подключен к электронной схеме, сигнал на выходе которой преобразуется в цифровой код, индуцируемый на цифровом индикаторе (ЦИ) прибора в единицах измерения давления (в мм вод. ст. или мм рт. ст.).
Структурная схема прибора РЭД-1 представлена на рис. 2.2.
Рис.2.2. Структурная схема прибора РЭД-1
Баллончик Б, преобразователь ПИП и соединительная трубка Т образуют пневматический узел ПУ. ПУ с помощью специального разъема-прищепки Р-П и соединительного кабеля K подключается к электронному блоку ЭБ.
Эластичный баллончик выполнен из полиэтилена высокого давления по выдувной технологии. Размеры баллончика определены условиями измерения: размещение в месте черепно-мозговой травмы или фрезовом отверстии, необходимая чувствительность к изменению ВЧД и пределы его изменения.
Немаловажными факторами, определяющими как выбор формы, размеров, так и материала баллончика, являются "фактор герметичности", прочность для удаления баллончика без хирургического вмешательства путем вытягивания за соединительную трубку, инертность к воздействию окружающих биологических тканей и т. п.
Для достижения высокого значения "фактора герметичности" баллончик, трубка и ПИП объединены в единый ПУ. Технология изготовления баллончика такова, что баллончик и трубка представляют собой единое целое. Это достигается разогревом выдувного конца полиэтиленовой трубки. Другой конец соединен с ПИП через герметически плотный штуцер.
Достигнутое значение "фактора герметичности" обеспечивает неизменный объем воздуха в ПУ не менее 7 сут.
Другой проблемой при конструировании прибора было подключение ПУ к ЭБ через кабель К во время измерения ВЧД. Суть этой проблемы заключалась в следующем. Баллончик, введенный под костную ткань при завершении операции, находится там в течение 5-6 сут. Постоянное подключение ПУ к ЭБ недопустимо, поэтому ПУ прибинтовывается к голове пациента, а для подключения ЭБ при измерении разработан специальный разъем в виде прищепки (рис. 2.3.), который легко накладывается на контакты ПИП на наружном конце ПУ.
Рис.2.3. Разъем-прищепка для соединения ПУ и ЭБ
ПИП — это датчик давления фирмы "ЕСОТЕСН" в виде пластины из монокристалла кремния, часть которой вытравлена до образования мембраны. На мембране методом ионной имплантации создан измерительный мост из 4 идентичных тензорезисторов. Давление, передаваемое на мембрану, вызывает появление сигнала на выходе моста.
Преимуществами выбранного датчика давления являются высокая чувствительность, хорошая линейность, незначительный гистерезис, быстродействие, компактная конструкция. Недостаток, заключающийся в повышенной температурной зависимости выходного сигнала, компенсируется электронными средствами.
ЭБ выполнен в пластмассовом корпусе, имеет привлекательный внешний вид (рис. 2.4.). На панели прибора имеется индикатор разряда батареи питания (ИРБ).
Рис.2.4. Внешний вид прибора
Таблица 2-2. Технические характеристики прибора
Диапазон измерений, мм вод. ст. |
0-600 |
|
Приведенная погрешность, % |
10 |
|
Время измерения, с |
10 |
|
Масса, кг |
0,4 |
|
Габариты ЭБ, мм |
165×75×25 |
|
Длина кабеля, м |
1 |
|
Размеры ПУ: |
длина Т, мм |
300 |
диаметр Т, мм |
3 |
|
длина Б, мм |
45 |
|
ширина Б, мм |
10 |
|
высота Б, мм |
3 |
|
толщина пленки Б, мкм |
7-10 |
Прибор испытывали на установке, схема которой приведена на рис. 2.5. а). Изменением коэффициента усиления прибор можно градуировать в любых единицах измерения давления.
Рис. 2.5. а) Схема установки для исследования прибора РЭД-1
Рис. 2.5. б) Тарировочный график
По оси абсцисс – давление, мм вод.ст.; по оси ординат – показания прибора
Прибор опробован на неплановых операциях в Республиканской нейрохирургической больнице Удмуртии. В настоящее время ведутся работы по включению прибора в мониторинговую систему на базе хирургического монитора МХ-3. При незначительных конструктивных изменениях ПУ прибор может найти применение для измерений внутривенного, внутрикишечного, внутрибронхиального давлений.