Лаборатоная работа №2
.DOC
Санкт-Петербургский Государственный Электротехнический Университет
Кафедра физических основ микроэлектроники.
Лабораторная работа №2
"Исследование электрических свойств
полупроводниковых материалов".
Преподаватель: Кальнин А.А.
Студент: Кляус И.А.
Группа: 6361
Санкт-Петербург
Описание установки.
Исследование темпиратурной зависимости сопротивления полупроводников производится на установке, состоящей из термостата с образцами полупроводниковых материалов и омметра, подключаемого поочередно к каждому из образцов.
Проведение исследований.
Подключая к омметру поочередно образцы полупроводниковых материалов, измерить их сопротивление при комнатной температуре. Вынести переключатель ступеней нагрева термостата в крайнее левое положение и включить термостат. Измерить сопротивление образцов полупроводников при температурах, соответствующих установившемуся режиму на каждой температурной ступени термостата. Контроль выхода термостата в установившийся режим производить по показанием омметра
Протокол измерений.
1. Кремний
см
2. Германий
см
3. Карбид кремния
см
4. Антимонид индия
см
таблица 1
|
|
R, ом |
|
|
t0,C |
Si |
Ge |
SiC |
YnS |
25 |
111,6 |
884,6 |
8010 |
2974 |
40 |
118,04 |
1255 |
5470 |
2369 |
50 |
120 |
989,9 |
4680 |
2160 |
60 |
122,8 |
1010 |
4120 |
2000 |
75 |
134,5 |
1064,4 |
3580 |
1823 |
80 |
138,6 |
1120,6 |
2993 |
1676 |
90 |
141,77 |
1080 |
2510 |
1500 |
95 |
145,09 |
1030 |
2160 |
1380 |
100 |
147,58 |
1000 |
1730 |
1280 |
105 |
145,86 |
987 |
1510 |
1240 |
100 |
150,26 |
852,4 |
1340 |
1160 |
105 |
158,7 |
714,4 |
1150 |
1110 |
Обработка результатов:
1. Рассчитываем удельное сопротивление материалов по формуле , где R - сопротивление образца, S - площадь поперечного сечения, l - длина образца.
Вычисляем удельную проводимость как .
Результаты измерений заносим в таблицы 2.1,2.2,2.3,2.4.
таблица 2.1
Исследуемый материал |
T,K |
R, Ом |
|
|
||
Si |
298 |
0,0033 |
990,99 |
6,6·10-3 |
151,363 |
5,019 |
|
313 |
0,0032 |
1067,8 |
7,11·10-3 |
140,475 |
4,945 |
|
323 |
0,003 |
1140,3 |
7,602·10-3 |
131,544 |
4,879 |
|
333 |
0,003 |
1214,6 |
8,097·10-3 |
123,497 |
4,816 |
|
348 |
0,0029 |
1339,5 |
8,93·10-3 |
111,982 |
4,718 |
|
353 |
0,0028 |
1379 |
9,193·10-3 |
108,774 |
4,689 |
|
363 |
0,0027 |
1452,8 |
9,685·10-3 |
103,248 |
4,637 |
|
368 |
0,0027 |
1493,5 |
9,958·10-3 |
100,421 |
4,609 |
|
373 |
0,0026 |
1536,5 |
10,243·10-3 |
97,624 |
4,581 |
|
378 |
0,0026 |
1580 |
10,533·10-3 |
94,937 |
4,553 |
Ge |
298 |
0,0033 |
894,49 |
5,976·10-3 |
167,319 |
5,119 |
|
313 |
0,0032 |
973,77 |
6,491·10-3 |
154,040 |
5,037 |
|
323 |
0,003 |
1032,3 |
6,882·10-3 |
145,306 |
4,978 |
|
333 |
0,003 |
1048,1 |
6,987·10-3 |
143,116 |
4,963 |
|
348 |
0,0029 |
899 |
5,993·10-3 |
166,852 |
5,117 |
|
353 |
0,0028 |
826 |
5,506·10-3 |
181,598 |
5,201 |
|
363 |
0,0027 |
693,4 |
4,622·10-3 |
216,325 |
5,376 |
|
368 |
0,0027 |
604,4 |
4,092·10-3 |
248,18 |
5,614 |
|
373 |
0,0026 |
591 |
3,94·10-3 |
253,805 |
5,536 |
|
378 |
0,0026 |
490,4 |
3,269·10-3 |
305,873 |
5,723 |
таблица 2.2
Исследуемый материал |
T,K |
R, Ом |
|
|
||
SiC |
298 |
0,0033 |
8080 |
9696·10-3 |
0,103 |
-2,271 |
|
313 |
0,0032 |
6044 |
7252,8·10-3 |
0,137 |
-1,981 |
|
323 |
0,003 |
5034 |
6040,8·10-3 |
0,165 |
-1,798 |
|
333 |
0,003 |
4140 |
4968·10-3 |
0,201 |
-1,603 |
|
348 |
0,0029 |
3042 |
3650,4·10-3 |
0,273 |
-1,294 |
|
353 |
0,0028 |
2770 |
3324·10-3 |
0,300 |
-1,201 |
|
363 |
0,0027 |
2381 |
2857,2·10-3 |
0,349 |
-1,049 |
|
368 |
0,0027 |
2162,2 |
2594,64·10-3 |
0,385 |
-0,953 |
|
373 |
0,0026 |
2057 |
2468,4·10-3 |
0,405 |
-0,903 |
|
378 |
0,0026 |
1855 |
2226·10-3 |
0,449 |
-0,8 |
JnSb |
298 |
0,0033 |
13,883 |
0,069·10-3 |
14406,1 |
9,575 |
|
313 |
0,0032 |
10,735 |
0,053·10-3 |
18630,6 |
9,832 |
|
323 |
0,003 |
8,878 |
0,042·10-3 |
23315,4 |
10,056 |
|
333 |
0,003 |
7,395 |
0,036·10-3 |
27045,2 |
10,205 |
|
348 |
0,0029 |
5,509 |
0,027·10-3 |
36304,2 |
10,499 |
|
353 |
0,0028 |
5,083 |
0,025·10-3 |
39346,8 |
10,580 |
|
363 |
0,0027 |
4,673 |
0,023·10-3 |
42799 |
10,664 |
|
368 |
0,0027 |
4,302 |
0,0215·10-3 |
46490 |
10,746 |
|
373 |
0,0026 |
4,283 |
0,021·10-3 |
47585 |
10,77 |
|
378 |
0,0026 |
3,975 |
0.0195·10-3 |
50314 |
10,826 |
Обработка экспериментальных результатов и расчет параметров .
Расчет концентрации доноров в кремнии и германии при
таблица 3
Материал |
|
|
|
|
Si |
0.0066 |
151,363 |
0,5186 |
182,417·1019 |
Ge |
0.00597 |
167.319 |
0.394354 |
265,164·1019 |
Расчет запрещенной зоны YnSb
Энергия ионизации примисей
Вывод:
1. По результатам лабораторной работы расчитали удельное сопротивление материалов, а также вычислили удельную проводимость.
2. По результатам работы видно, что при увеличении температуры сопротивление кремния увеличивается, сопротивление карбида кремния и антимонида индия уменьшается, а германия - сложная зависимость.
3. Рассчитали концентрацию доноров в кремнии и германии при комнатной температуре. Концентрация доноров кремния превышает концентрацию доноров германия и при этом подвижность электронов кремния меньше чем у германия.
4. Зависимость подвижности носителей заряда с температуры имеет более слабый характер по сравнению с температурной зависимостью концентрации, поэтому общий вид зависимости удельной проводимости полупроводника от температуры определяется в основном температурной зависимостью концентрации носителей заряда.