Скачиваний:
25
Добавлен:
01.05.2014
Размер:
254.98 Кб
Скачать

3.Расчет надежности по постепенным отказам. (метрологическая надежность).

Для выбранных значений элементов выписываем из справочной литературы [] функции старения, т.е. зависимость изменения номинала от времени :

  1. Резисторы:

R1(t)=R10[1 + 0.01(0.008-0.00008 R10) t(0.622+0.00196 R10) ] R10=5.6кОм

R2(t)=R20[1 + 0.01(0.008-0.00008 R20) t(0.622+0.00196 R20) ] R20=8.2кОм

  1. Конденсатор:

С1(t)=Ñ10[1+10-4(0.876C0-0.051)t0.996] Ñ10=0.01 мкф

C(t)=C20[1+10-4(0.876C0-0.051)t0.996] C20=0.039 мкФ

Для заданных моделей генерируем случайные числа со следующими числовыми характеристиками :

R1: mR1=5,6 sR1 = 5,6*0,02/3 = 0,0373

R2: mR2=1,8 sR2 = 1,8*0,02/3 = 0,012

C1: mС1=0,01 sС1 = 0,01*0,05/3 = 0,00016

C2: mÑ2=0,039 sÑ2 = 0,039*0.05/3 = 0,00065

Для определения числа необходимых моделей для каждого из элементов воспользуемся неравенством Чебышева :

для нашего случая имеем :

Возмем P=0.997, s=0.005, получаем : N ³ 1073

Тогда для каждого ti = Dt*i iÎ(0…10) имеем N значений, которые рассчитаны исходя из временных моделей элементов. По условию задания, закон распределения - нормальный. Для того чтобы получить случайные величины jj имея случайные числа gj равномерно распределённые на интервале [0,1] воспользуемся формулой:

Значит мы имеем в значениях времени ti = Dt*i iÎ(0…10) N реализаций случайного процесса. Проводим статистическую обработку данных:

Номинальное выходное значение: 2560 Гц

Нижняя граница: 2457 Гц

Верхняя граница: 2662 Гц

Эти функции имеют значения только в моменты времени ti.

Время *1000 час.

Матем. ожидание

СКО

0

2540,119494

1,722372E+01

1

2529,238872

1,680317E+01

2

2528,307643

1,706706E+01

3

2528,996117

1,662962E+01

4

2530,071277

1,709942E+01

5

2531,270534

1,608912E+01

6

2534,701642

1,689414E+01

7

2536,959786

1,680962E+01

8

2540,694901

1,677161E+01

9

2544,999729

1,636378E+01

10

2547,629978

1,772741E+01

Математическая модель временного изменения этой характеристики:

Приведем её числовые характеристики: график математического ожидания:

3.1 Расчет вероятности безотказной работы

Расчитаем вероятности безотказной работы и интенсивности отказов.

P(t)=1

График P(t):

3.2 Расчет интенсивности отказов

Интенсивность отказов определим по формуле :

График зависимости интенсивности отказов от времени представлен на рисунке

Литература:

  1. Основы метрологической надежности и качества электроизмерительной техники: Учеб. пособие / Е.Г.Бишард, И.К.Газа, Р.В.Долидзе, И.В.Мостовой; ЛЭТИ, Л.,1991.

  2. Сборник задач по теории надежности / Под ред. А.М.Половко и И.М.Маликова. М.:Сов. радио, 1972.

  3. Резисторы: Справочник / Ю.Н.Андреев, А.И.Антонян, Д.М.Иванов и др.; Под ред. И.И.Четверткова. М.:Радио и связь, 1991.

  4. Конденсаторы: Справочник. Под ред. Четверткова, М.Н.Дьяконова. М.: Радио и связь, 1993.

  5. Практикум по вероятностным методам в измерительной технике / В.В.Алексеев, Р.В.Долидзе, Д.Д. Недосекин, Е.А.Чернявский, С-Пб.:Энергоатомиздат, 1993.

8

Соседние файлы в папке Лабораторно-практическая работа
  • #
    01.05.20145.07 Кб21NIK_1.SCH
  • #
    01.05.20148.84 Кб19NIK_2.SCH
  • #
    01.05.20148.07 Кб20OUTPUT.1_1
  • #
    01.05.20141.04 Кб17OUTPUT.1_2
  • #
    01.05.20141.04 Кб18OUTPUT.2_2
  • #
    01.05.2014254.98 Кб25PRIL2_3.DOC