- •Приложение к
- •1. Выбор элементов для реализации схемы :
- •2. Расчет надежности по внезапным отказам.
- •2.2 Расчет внезапных отказов методом статистических испытаний (метод Монте-Карло).
- •3.Расчет надежности по постепенным отказам. (метрологическая надежность).
- •3.1 Расчет вероятности безотказной работы
- •3.2 Расчет интенсивности отказов
- •Литература:
3.Расчет надежности по постепенным отказам. (метрологическая надежность).
Для выбранных значений элементов выписываем из справочной литературы [] функции старения, т.е. зависимость изменения номинала от времени :
-
Резисторы:
R1(t)=R10[1 + 0.01(0.008-0.00008 R10) t(0.622+0.00196 R10) ] R10=5.6кОм
R2(t)=R20[1 + 0.01(0.008-0.00008 R20) t(0.622+0.00196 R20) ] R20=8.2кОм
-
Конденсатор:
С1(t)=Ñ10[1+10-4(0.876C0-0.051)t0.996] Ñ10=0.01 мкф
C(t)=C20[1+10-4(0.876C0-0.051)t0.996] C20=0.039 мкФ
Для заданных моделей генерируем случайные числа со следующими числовыми характеристиками :
R1: mR1=5,6 sR1 = 5,6*0,02/3 = 0,0373
R2: mR2=1,8 sR2 = 1,8*0,02/3 = 0,012
C1: mС1=0,01 sС1 = 0,01*0,05/3 = 0,00016
C2: mÑ2=0,039 sÑ2 = 0,039*0.05/3 = 0,00065
Для определения числа необходимых моделей для каждого из элементов воспользуемся неравенством Чебышева :
для нашего случая имеем :
Возмем P=0.997, s=0.005, получаем : N ³ 1073
Тогда для каждого ti = Dt*i iÎ(0…10) имеем N значений, которые рассчитаны исходя из временных моделей элементов. По условию задания, закон распределения - нормальный. Для того чтобы получить случайные величины jj имея случайные числа gj равномерно распределённые на интервале [0,1] воспользуемся формулой:
Значит мы имеем в значениях времени ti = Dt*i iÎ(0…10) N реализаций случайного процесса. Проводим статистическую обработку данных:
Номинальное выходное значение: 2560 Гц
Нижняя граница: 2457 Гц
Верхняя граница: 2662 Гц
Эти функции имеют значения только в моменты времени ti.
Время *1000 час. |
Матем. ожидание |
СКО |
0 |
2540,119494 |
1,722372E+01 |
1 |
2529,238872 |
1,680317E+01 |
2 |
2528,307643 |
1,706706E+01 |
3 |
2528,996117 |
1,662962E+01 |
4 |
2530,071277 |
1,709942E+01 |
5 |
2531,270534 |
1,608912E+01 |
6 |
2534,701642 |
1,689414E+01 |
7 |
2536,959786 |
1,680962E+01 |
8 |
2540,694901 |
1,677161E+01 |
9 |
2544,999729 |
1,636378E+01 |
10 |
2547,629978 |
1,772741E+01 |
Математическая модель временного изменения этой характеристики:
Приведем её числовые характеристики: график математического ожидания:
3.1 Расчет вероятности безотказной работы
Расчитаем вероятности безотказной работы и интенсивности отказов.
P(t)=1
График P(t):
3.2 Расчет интенсивности отказов
Интенсивность отказов определим по формуле :
График зависимости интенсивности отказов от времени представлен на рисунке
Литература:
-
Основы метрологической надежности и качества электроизмерительной техники: Учеб. пособие / Е.Г.Бишард, И.К.Газа, Р.В.Долидзе, И.В.Мостовой; ЛЭТИ, Л.,1991.
-
Сборник задач по теории надежности / Под ред. А.М.Половко и И.М.Маликова. М.:Сов. радио, 1972.
-
Резисторы: Справочник / Ю.Н.Андреев, А.И.Антонян, Д.М.Иванов и др.; Под ред. И.И.Четверткова. М.:Радио и связь, 1991.
-
Конденсаторы: Справочник. Под ред. Четверткова, М.Н.Дьяконова. М.: Радио и связь, 1993.
-
Практикум по вероятностным методам в измерительной технике / В.В.Алексеев, Р.В.Долидзе, Д.Д. Недосекин, Е.А.Чернявский, С-Пб.:Энергоатомиздат, 1993.
-