- •Основные понятия мпо.
- •Основные цели:
- •Виды метрик и шкал, используемых при оценке:
- •Критерии оценки качества программ
- •Способ формирования зависит от этапа:
- •Классификация видов сложности пп
- •Метрики Холстеда.
- •Основные измеряемые параметры:
- •Дополнительные параметры:
- •6 Марта 2007 года
- •Методы и средства измерения характеристик программ
- •Необходимые условия применения измерительных методов:
- •Общая схема проведения измерений.
- •2 Основных способа регистрации параметров программы:
- •Измерительные мониторы (им)
- •Требования к им:
- •Классификации им.
- •Типы измеряемых характеристик программы.
- •Аппаратные измерительные мониторы (аим)
- •Достоинства аим:
- •Недостатки аим:
- •Гибридные измерительные мониторы (гим)
- •Программные измерительные мониторы (пим)
- •Автономные пим
- •Общие особенности программных мониторов.
- •Проблемы, возникающие при построении мониторов
- •Общая схема использования пим
- •Способы расстановки контрольных точек.
- •Основные способы мониторинга
- •Сопоставление возможностей аим и пим.
- •Структурный анализ качества программных продуктов
- •Маршруты делятся на:
- •Анализ сложности программных средств с модульной организацией
- •Свойства модульной организации
- •Понятие корректности программ
- •2 Метода проверки корректности:
- •Критерии корректности:
- •Корректность программ:
- •Эталоны и методы проверки корректности
- •Способы формирования эталонных тестов
- •Понятие верификации программы
- •Основные задачи анализа корректности при верификации
- •Тестирование программ
- •Особенности
- •Основные принципы тестирования
Основные способы мониторинга
1) Выполнение исследуемой программы производится полностью под управлением монитора (Turbo Profiler)
- необходимость наличия отладочной информации, позволяющей связать КТ с исходным кодом программы
- запрет оптимизации при компиляции
- контролируется каждый оператор выполнения программы, в процессе чего осуществляется полный сбор информации для оператора. Накладные расходы доминируют над измерением характеристик программы.
2) Выполнение программы независимо и вызов монитора только в момент измерения параметров (IPM)
- накладные расходы минимальны
- не обеспечивается строгое установление соответствия между измеренными параметрами и местом выполнения программы
- не формируются структуры данных для подготовки результатов измерений
3) Смешанный – программа выполняется под управлением монитора но естественным образом. Монитор берет на себя сбор и классификацию информации, а собственно измерение параметров осуществляется при помощи специальных функций из управляемой программы. (Sampler)
Особенности:
- исследуемая программа запускается в подготовленном варианте (с расстановкой функций измерения в КТ) под управлением монитора.
- исследуемая программа выполняется не по шагам, а естественно до достижения каждой КТ
- в контрольных точках измерения выполняются с максимально возможной точностью в зависимости от режима измерений, при этом используется 2 режима:
1) с использованием системного таймера – сбор информации осуществляется через порты ввода/вывода. Наиболее универсальный, но менее точный
2) с использованием счетчика TSC, успешно работающий в незащищенном режиме
- искажения, вносимые монитором в результаты измерений, корректируются и являются минимальными
- по результатам мониторинга формируется текстовый файл отчета и графический файл в двоичном виде, обрабатываемый специальной программой SmpView
Функция КТ – функция, написанная на языке исследуемой программы, которая реализует с помощью монитора регистрацию необходимых параметров в заданной КТ.
Временная диаграмма измерения времени Sampler-ом может быть представлена в следующем виде:
Замеры ,используются для дальнейшей корректировки искажений, вносимых монитором.
d3 – изменяющееся время
d1+d2+d5 – время коррекции
Смысл коррекции
Калибровка монитора
Сопоставление возможностей аим и пим.
Критерий |
АИМ |
ПИМ |
Домен (что измеряется: микропараметры или макропараметры) |
используется для микропараметров |
используется для макропараметров |
Входная частота выборки событий |
до МГц |
не более кГц из-за накладных расходов |
Разрешение по времени |
10-100 нс |
50 мкс – 1 мс |
Требуемый объем памяти |
ограничен объемом ЗУ |
ограничен допустимыми накладными расходами |
Параллелизм |
до 10 |
нет |
Работоспособность |
обеспечивается при сбоях системы |
только в нормально работающей системе |
Стоимость |
высокая |
средняя |
Структурный анализ качества программных продуктов
Сложность определяется количеством маршрутов.
Метрика позволяет определить:
1) Необходимое число тестов
2) Сложность сопровождения
3) Прогнозируемое число ошибок