
- •Занятие 1
- •1. Сведения из истории открытия
- •1895 Г. Ознаменовался открытием, значение которого трудно переоценить и сегодня. Немецкий физик в. К. Рентген при работе с катодной трубкой обнаружил проникающее излучение от тех участков трубки, где
- •2. Природа и получение рентгеновского излучения
- •Источники х – лучей
- •Характеристический спектр
- •В рентгеноструктурном анализе для определения абсолютной интенсивности монохроматического пучка считают число фотонов, испускаемых или поглощаемых за 1 секунду.
- •Интенсивность характеристического рентгеновского излучения
- •Занятие 2
- •Происходит когерентное рассеяние – расс еяние без изменения частоты есть результат упругих столкновений х-квантов и связанных электронов.
- •Закон ослабления х-лучей.
- •Линейный коэффициент ослабления зависит, кроме того, от плотности вещества, т.Е., от его агрегатного состояния, температуры, давления.
- •Эффект максимального поглощения излучения определенных длин волн называется селективным поглощением.
- •Когерентное рассеяние х-лучей
- •Интенсивность рассеянного луча определяет рассеивающую способность объекта.
- •Принимается, что объем , содержащий заряд , рассеивает волну, амплитуда которой равна рассеиваемой электроном амплитуде, но умноженной на .
- •Р исунок 1. Дифракция рентгеновских лучей в кристалле
- •Формулы структурной амплитуды для кристаллов с разными ячейками Бравэ
- •Преобразование формул при наличии элементов симметрии
- •Факторы, влияющие на интенсивность рентгеновского луча
- •Число плоскостей решетки, эквивалентных с точки зрения симметрии, называется фактором повторяемости.
- •Метод проб и ошибок
- •Метод фурье
- •Метод Паттерсона
Закон ослабления х-лучей.
В тонком слое
вещества ослабление
пропорционально интенсивности падающего
пучка и толщине слоя
. (1)
характеризует степень ослабления пучка при прохождении чрез вещество. Интегрируем (1), получим
,
, (2)
где
- интенсивность падающего пучка. Положив
см. получим
, (3)
т.е. коэффициент
характеризует ослабление интенсивности
при прохождении слоя вещества толщиной
1 см. Это
линейный коэффициент ослабления.
Ослабление является результатом
взаимодействия пучка с атомами вещества,
поэтому можно его рассчитывать, учитывая
количество граммов или количество
атомов, лежащих на пути Х-пучка. Для
этого вводится массовый
коэффициент ослабления
,
характеризующий ослабление пучка при
прохождении слоя, содержащего 1 грамм
вещества или коэффициент, характеризующий
ослабление
одним атомом вещества
и
, (4)
где Р
– количество граммов,
- количество атомов вещества, лежащего
на пути пучка (в столбике сечением 1
см2,
длиной
).
Связь между коэффициентами
Количество вещества
в граммах
,
где
- плотность вещества. Т.к.
,
то
,
следовательно
(5)
Далее, в столбике
объемом
количество атомов
равно числу грамм-атомов в нем, умноженному
на число атомов в одном грамм-атоме
(число Авогадро)
, (6)
где
- атомный (молекулярный вес),
- число Авогадро.
Значение
можно выразить через атомный коэффициент
ослабления
и
количество атомов на пути пучка
, (7)
откуда
. (8)
Подставим в (8) значения (5) и (6), получим
, (9)
и из (5)
.
(10)
Расчет
Итак, рассеяние и поглощение Х-лучей – это результат их взаимодействия с электронами атомов. Ослабление одним атомом или каким-то количеством атомов (1 грамм) может зависеть о природы вещества (атомного номера) и от длины волны (энергии кванта) излучения.
Массовый и атомный коэффициенты ослабления данного элемента зависят только от длины волны излучения.
Линейный коэффициент ослабления зависит, кроме того, от плотности вещества, т.Е., от его агрегатного состояния, температуры, давления.
В порошковых методах – от степени уплотнения, а не от табличной плотности вещества.
Если мы имеем дело
со смесью
элементов, массовый коэффициент
ослабления рассчитывается исходя из
массовых коэффициентов каждого компонента
смеси
и их весовых долей
. (11)
Линейный коэффициент ослабления смеси с учетом (11) равен
.
(12)
Условия (11) и (12) иллюстрируют правило аддитивности массовых и атомных коэффициентов ослабления для смеси веществ. Оно и для химических соединений.
Пусть
- числа атомов 1, 2, … сорта в молекуле.
Тогда молекулярный коэффициент ослабления
будет
,
и получим для массового коэффициента
ослабления химического соединения
.
Линейный коэффициент ослабления данного химического соединения будет равен
.
Зная химическую формулу, атомные или массовые коэффициенты ослабления элементов, можно вычислить коэффициенты ослабления любых соединений.
Коэффициент поглощения
Полный коэффициент
ослабления есть сумма коэффициентов
рассеяния
и поглощения
,
,
.
Практически коэффициент рассеяния значительно меньше коэффициента поглощения и его можно не учитывать.
Коэффициент поглощения с увеличением длины волны излучения и атомного номера вещества растет во много раз быстрее, чем коэффициент рассеяния. О вкладе коэффициента рассеяния в коэффициент ослабления можно судить по данным таблицы.
Таблица
Массовые коэффициенты ослабления и массовые коэффициенты рассеяния ряда элементов
Элемент |
Атомный номер |
|
|
||
|
|
|
|
||
|
6 |
0,15 |
0,14 |
0,63 |
0,18 |
|
13 |
0,18 |
0,14 |
5,35 |
0,20 |
|
29 |
0.45 |
0,18 |
52,0 |
0,3 |
|
47 |
1,53 |
0,35 |
126,0 |
0,5 |
|
82 |
5,15 |
0,67 |
146 |
0,8 |
Рассеяние преобладает над поглощением только у кристаллов, содержащих только легкие элементы при исследовании их на белом коротковолновом излучении.
При работе на
монохроматическом излучении (от
до
)
раже у органических соединений
преобладает поглощение.
Физический смысл
массового коэффициента поглощения:
экран с массой равной
на 1 см2,
уменьшает интенсивность пучка до
раз. Экран, уменьшающий интенсивность
в 2 раза обладает массой, равной
на 1 см2,
т.е., его толщина равна
.
Выражение (4)
с учетом того, что
,
если площадка равна 12,
может быть записано
.
(13)
Если учесть, что массовые коэффициенты рассеяния << коэффициентов ослабления, то можно считать с некоторым приближением, то потери интенсивности при прохождении через вещество обусловлены поглощением. В этом случае выражение (13) примет вид
,
(14)
где - массовый коэффициент поглощения, - толщина пластинки.
Для каждого вещества
величина
имеет строго определенное значение.
Если известен состав вещества в весовых
процентах, то для смеси
определяется по формуле
,
(15)
где
- концентрация компоненты в %;
- концентрация компоненты в долях.
Для веществ с известной химической формулой определяется следующей формулой
,
(16)
где
- число
-ых
атомов в химической формуле,
- атомный вес.
Метод эталона
Для определения из (13) необходимо знать и толщину абсорбента. Их определение далеко не всегда может быть проведено с достаточной точностью. Поэтому чаще всего определяется с применением эталона по формуле
,
(17)
где
– вес исследуемого образца,
- вес эталона,
- площадь абсорбента, она должна быть
постоянной.
Этот метод сравнительно прост, но может быть реализован только при монохроматизированном излучении.
Метод стандартного примешивания
К анализируемой
смеси примешивается эталонное вещество
с известным
.
Массовый коэффициент поглощения
смеси, состоящей из анализируемого
вещества и эталона
находится из уравнения
.
(18)
Для этого необходимо
определить интенсивность максимума
чистого эталона
и интенсивность того же максимума от
смеси
.
Расчет массового
коэффициента поглощения анализируемой
смеси
производится по соотношению
,
(19)
учитывающему, что
массовый коэффициент поглощения -
величина аддитивная
.
Применяя этот метод необходимо очень тщательно осуществлять процедуру примешивания, чтобы избежать больших погрешностей в определении .
В рентгеноструктурном анализе с определением приходится сталкиваться при необходимости измерения интенсивности рассеянного излучения. При этом необходимо помнить, что зависит не только от природы исследуемого вещества, но и от длины волны излучения.
Зависимость массового коэффициента поглощения от длины волны и атомного номера с хорошей степенью приближения имеет вид
.
(20)
На кривой зависимости
от длины
волны существуют скачки
(края) при
определенных
.
Скачок соответствует энергии кванта
достаточной для
перехода электрона с данного энергетического
уровня на ближайший свободный. Если
>
,
то энергии кванта недостаточно для
переброски электрона и квант не
поглощается. При
<
поглощение обусловлено перебросом
электронов, сопровождающимся испусканием
фотоэлектронов и последующей флюоресценции.
Между полосами поглощения для одного
элемента при переходе от коротковолнового
излучения к длинноволновому
растет
Зависимость поглощения от длины волны используется для определения спектрального состава пучка.
Процессы возбуждения характеристического спектра в трубке и поглощения Х-лучей веществом очень похожи. При возбуждении Х-лучей электроны выбиваются электронами.
При поглощении электроны выбиваются квантами. Поэтому энергия кванта, соответствующая краю поглощения должна быть примерно равна энергии возбуждения соответствующей серии характеристического спектра Х-лучей в рентгеновской трубке с анодом из того же вещества, т.е.
,
откуда
.
Выбор излучения
Сильное поглощение
уменьшает интенсивность дифрагированных
в кристаллах лучей, флюоресценция при
этом создает высокий уровень фона.
Поэтому работать при
чуть меньше
невыгодно. Нужно избегать случая, когда
чуть меньше
любого из элементов, входящих в состав
исследуемого соединения.
- линия Х-спектра соответствует переходу
электрона с
на
,
- с
на
.
-край
полосы поглощения обусловлен переходом
электрона с
уровня
на первый свободный энергетический
уровень атома. Поэтому длины волн
и
линий чуть больше, чем
края поглощения того же элемента. При
падении монохроматического Х-излучения
(
и
)
на кристалл, содержащий атомы того же
сорта, что и анод (
),
мы находимся справа от края поглощения.
В этом случае поглощение невелико,
флюоресценция слаб (Рис.13,а).
Если атомный номер
облучаемого вещества меньше атомного
номера вещества анода (
<
),
край поглощения сдвигается в сторону
больших длин волн и линии
.
А затем и
начинают сильно поглощаться, что приводит
к интенсивной флюоресценции. Если
отличие номеров вещества кристалла и
анода равно 1 (
),
то поглощается
(
<
<
)
(Рис.13,б
).
Если разница
в номерах элементов кристалла и материала
анода 2-3 единицы (
),
то в область сильного поглощения попадает
(Рис.13,в). Возникает сильная флюоресценция,
приводящая к увеличению уровня фона на
рентгенограмме
Из сказанного следует, что для исследования конкретных кристаллических объектов необходимо, чтобы порядковый номер вещества анода был на 1-2 единицы меньше номера любого элемента, входящего в структуру исследуемого кристалла.