- •Аннотация
- •The summary
- •1. Введение. Технико-экономическое обоснование темы.
- •2. Аналитический обзор оптических схем накачки диодными матрицами твердотельных лазеров, работающих на длине волны 1064 нм.
- •2.1 Схемы накачки активных элементов
- •2.2 Схемы поперечной накачки
- •2.3. Схемы накачки цилиндрических элементов
- •2.4. Схемы с прямым вводом излучения накачки
- •2.5. Схемы с оптическими системами подвода излучения накачки
- •2.6. Схемы накачки прямоугольных элементов.
- •2.7. Схемы с зигзагообразным распространением лазерного излучения
- •2.8. Схемы со скользящим падением лазерного излучения.
- •2.9 Схемы с квазипродольной накачкой.
- •2.10 Другие схемы накачки «слэб» элементов.
- •2.11 Итог аналитического обзора.
- •3. Разработка оптической и струкутурно – функциональной схемы установки.
- •3.1. Методика расчета генератора твердотельного лазера с накачкой диодными матрицами.
- •3.1.1. Расчет накачки.
- •3.1.2. Расчет усиления в резонаторе.
- •3.2 Разработка оптической схемы накачки лазерного генератора: продольный и поперечный варианты накачки.
- •3.2.1. Продольная накачка.
- •3.2.2. Поперечная накачка.
- •3.3. Структурно-функциональная схема установки.
- •3.4. Тепловой расчет лазерного генератора.
- •3.4.1 Тепловой расчет лазерного генератора при частоте следования импульсов 1000 Гц.
- •3.4.2 Тепловой расчет лазерного генератора при частоте следования импульсов 8 Гц
- •3.5. Разработка конструкции охлаждаемого элемента.
- •4.1. Расчет импульсной и средней мощности генерации при поперечной накачке.
- •4.1.1. Обоснование выбора выходного зеркала.
- •4.2. Расчет импульсной и средней мощности генерации при продольной накачке.
- •4.3. Выводы и основные результаты расчета
- •4.4. Оценка влияния температуры диодных матриц накачки на выходные характеристики лазерного генератора.
- •5. Экспериментальная часть.
- •5.1 Разработка эскизного варианта конструкции лазерного генератора.
- •5.2. Экспериментальное определение выходных характеристик лазерного генератора при частоте импульсов генерации 8 Гц.
- •5.2.1. Зависимость средней и импульсной мощности от температуры диодных матриц.
- •5.2.2. Зависимость средней мощности от частоты повторения импульсов накачки.
- •5.2.3. Определение расходимости лазерного пучка.
- •5.2.4. Определение длительности импульса генерации.
- •5.2.5. Выводы из экспериментальной части.
- •6. Экономическая часть.
- •Фонд оплаты труда составит:
- •Отчисления на социальные нужды
- •Амортизационные отчисления
- •Прочие расходы
- •Итоговая таблица
- •Расчет цены нир
- •Выводы по экономической эффективности.
- •7. Безопасность и экологичность проекта. Введение.
- •Анализ условий труда на рабочем месте инженера электронщика.
- •1. Опасность поражения электрическим током
- •2. Уровень шума
- •3. Обеспечение пожарной безопасности при эксплуатации проектируемого объекта
- •4. Оптимизация зрительных условий труда на рабочем месте.
- •5. Психофизиологические факторы, включающие в себя непрерывность и монотонность выполняемой работы
- •6. Нормализация микроклимата в помещении при работе оборудования.
- •7. Защита от лазерных излучений при эксплуатации проектируемого устройства.
- •Защита от лазерных излучений при эксплуатации проектируемого устройства
- •1. Нормативно – организационные требования.
- •2. Условия размещения лазеров в помещениях.
- •3. Общие требования к помещениям с лазерами.
- •4. Нормативно – технические требования.
- •5. Защитные очки
- •Экологичность.
- •8. Заключение.
- •9. Библиографический список.
3.1.1. Расчет накачки.
В нашем распоряжении имелась активная среда YAG-Nd3+, имеющая следующие параметры:
- поперечное сечение 3х3 мм;
- длина l = 30 мм и диодные матрицы с размером излучающей области 5х25 мм и пиковой мощностью излучения ~800 Вт при длительности импульса генерации 350 мкс. В этом случае удобно организовать поперечную накачку с концентрацией излучения на боковую грань активного элемента и продольную накачку с концентрацией излучения на торцевую грань активного элемента.
В основе расчета накачки активной среды лежат две формулы:
закон Бугера
– Ламберта – Бера (1)
и
эффект
насыщения поглощения
(2)
где I – интенсивность накачки (Вт/см2) при прохождении области активной среды на х (см) вглубь, I0 – интенсивность накачки (Вт/см2) в начале области, α – коэффициент поглощения (см-1), α0 – линейный коэффициент поглощения (см-1), когда I<<Is, Is – интенсивность насыщения (Вт/см2).
Очевидно, что (1) и (2) – взаимосвязанные уравнения и их решение образует рекурсию по мере последовательной подстановки (1) в (2) и обратно. Физически это объясняется тем, что коэффициент поглощения уменьшается с ростом интенсивности света, а интенсивность увеличивается при уменьшении коэффициента поглощения. Такую систему удобно решать методом конечных итераций.
Для этого разделим ширину прокачиваемой области кристалла на n областей (рис. 33) с шириной δ=a/n, где а – ширина кристалла.
Для расчета односторонней накачки активной среды основываемся на рассмотренном законе Бугера – Ламберта - Бера, которое записываем для последовательных шагов проводимого расчета δ и получаем следующие соотношения (3):
(3)
При введении в систему накачки второй диодной матрицы, накачивающей противоположную сторону кристалла, расчет значительно усложняется, так как появляется система из двух рекурсивных уравнений (4):
(4)
Теперь значение коэффициента поглощения α зависит не только от I1 (интенсивность излучения первой матрицы), но и от I2 (интенсивность излучения второй матрицы), которые, в свою очередь, тоже зависят от α.
Из системы уравнений (4) при их сложении следует уравнение (5):
(5)
(6)
При x=0 получаем:
,
(7)
,
(8)
Для других значений x, можно получить следующие выражения, используя метод итераций с шагом δ и количеством шагов n:
,
(9)
Полученная формула позволяет получить значение интенсивности накачки в любой части стержня. Очевидно, что поглощенная стержнем интенсивность Ip (от англ. «pumping» – накачка) является разностью между интенсивностью, падающую на стержень и интенсивностью, выходящей из стержня после его прохождения:
Ip=b∙(Iпад-Iвых) , (10)
где b – количество диодных матриц (учитывая, что матрицы одинаковые и расположены симметрично относительно стержня).
Iпад=k∙Iдм , (11)
где Iдм – интенсивность излучения диодной матрицы, k – коэффициент, характеризующий долю интенсивности, попадающую на стержень. Он зависит от геометрического расположения стержня в накачивающем пучке, паразитных отражений и качества полировки элементов оптической системы.
Iвых=I(nδ)-Iпад , (12)
где I(nδ) – суммарная интенсивность на боковой грани стержня.
Таким образом, подставив (11), (12) в (10), получим:
Ip=b∙(2∙k∙Iдм-I(nδ)) , (13)
На основе представленных выражений формируем в среде MathCad цикл для проведения вычислений процесса при односторонней и двусторонней накачке алюмоиттриевого граната диодными матрицами.
