Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
АИП.doc
Скачиваний:
13
Добавлен:
24.08.2019
Размер:
4.31 Mб
Скачать

Методика измерения емкости

  1. Перед началом измерения, при отключенном Сх, устанавливают шкалы малого и большого С0 образцовых конденсаторов в нулевые положения, а конденсаторы С1–С4 выключают при помощи переключателя S2. Переключатель S1 устанавливают в нулевое положение (рис. 3.1), соответствующее измерению емкости.

  2. При помощи подстроечного конденсатора СП (ручка «Начальная установка») устанавливают частоты генераторов по индикатору нулевых биений (ИНБ). Таким образом добиваются f1 = f2, о равенстве частот судят по нулевым биениям.

; (3.1)

; (3.2)

. (3.3)

  1. К зажимам Сх подключают измеряемую емкость (f2 уменьшилась). Добиваются нового равенства частот за счет увеличения С0 на величину С0. Новое равенство:

(3.4)

; (3.5)

, (3.6)

из (3.1) следует:

, (3.7)

при изготовлении прибора L1 = L2.

4.   Измеряемую емкость определяют по шкале образцового конденсатора «СII» и по положению переключателя S2. Для расширения пределов измерения в приборе предусмотрено ступенчатое переключение СI емкостей ( ) рис. 3.1.

Методика измерения индуктивности

  1. Переключатель S1 установливают в положении «0,01» и закоротив зажимы Lx, при нулевом положении образцовых конденсаторов С1–С4 производят установку нулевых биений при помощи СП.

  2. Вместо закоротки к зажимам Lx подключают измеряемую индуктивность.

  3. Добиваются нового равенства частот увеличением С0 на величину С0, при котором

(3.8)

; (3.9)

(3.10)

из (3.1) следует:

, (3.11)

где К – множитель к шкале емкости; .

Для расширения пределов измерения по индуктивности меняют коэффициент К за счет изменения индуктивности L1 ( ) рис. 3.1:

K = 0.01; 0.1; …; 100.

Для выполнения условия (3.1) одновременно и синхронно меняется L2 ( ) рис. 3.1.

Описание измерителя добротности е4-5

Прибор Е4-5 основан на резонансном методе измерения и предназначен для:

  1. Измерения резонансной частоты и добротности LC – контура.

  2. Измерения индуктивности катушки, ее добротности и паразитной (собственной) емкости катушки.

  3. Измерения емкости и добротности конденсаторов.

Схема прибора изображена на рис. 3.2, которая состоит из:

  1. измерительного последовательного резонансного LC- контура (ИК), образованного образцовой переменной емкостью Co, параллельно которой может подключаться измеряемая емкость Cx, и индуктивности - образцовой или измеряемой, подключаемой к зажимам L;

  2. LC- генератора, служащего для возбуждения колебаний в ИК. Его частота может меняться с помощью Cг (плавно) и Lг (скачкообразно);

  3. двух электронных вольтметров: ЭВ1, измеряющего напряжение Uв, подаваемое в ИК для возбуждения в нем колебаний, и ЭВ2, который измеряет напряжение U2 на емкости ИК и является индикатором резонанса.

Добротность контура Q определяется как: Q=U2/Uв. Шкала ЭВ1 градуирована в значениях коэффициента K=1/Uв. Поэтому Q=U2·K, где U2 и K- отсчеты по шкалам ЭВ2 иЭВ1 при резонансе в ИК.

Рисунок 3.2 – Схема измерителя добротности Е4-5