- •Введение
- •Часть 1. Масс-спектрометрический метод анализа
- •Масс-спектрометрия. Последовательность операций при масс-анализе
- •1.2. Ионнооптические системы в масс-спектрометрии
- •1.2.1. Движение ионов в продольном электрическом поле
- •1.2.2. Движение ионов в поперечном электрическом поле
- •1.2.3. Движение ионов в радиальном поле цилиндрического конденсатора
- •1.2.4. Электростатические линзы
- •1.2.5. Движение ионов в продольном однородном магнитном поле
- •1.2.6. Движение ионов в однородном поперечном магнитном поле
- •1.2.7. Фокусирующие свойства однородного магнитного поля π-радиан
- •1.2.8. Фокусирующие свойства магнитных полей произвольной конфигурации
- •1.2.9. Принцип фокусировки ионов с помощью искривленной границы секторного магнитного поля
- •1.3. Хроматическая абберация
- •1.4. Практическое осуществление ионнооптических систем
- •1.5. Основные характеристики масс-спектрометрических приборов
- •1.5.1. Линейная дисперсия ионов по массам
- •1.5.2. Разрешающая способность масс-спектрометрических приборов.
- •1.5.3. Чувствительность и светосила масс-спектрометров
- •6. Ионные источники для масс-спектрометров
- •Основные требования к ионным источникам
- •1.6.2. Возможные методы ионизации. Типы источников
1.4. Практическое осуществление ионнооптических систем
Проведенное выше рассмотрение ионнооптических свойств электрических и магнитных полей основывалось на ряде допущений. Так, мы считали, что
нет взаимодействия ионов в пучке,
отсутствует объемный заряд ионов,
отсутствует рассеянное магнитное поле,
отсутствует рассеяние ионов на остаточном газе, т.е. в приборе имеется абсолютный вакуум.
Рассмотрим подробнее влияние этих факторов.
Тонкие пучки ионов, с которыми мы имеем дело, могут изменять свою геометрическую конфигурацию в результате значительных сил взаимодействия при электростатическом отталкивании. Расчет показывает, что для этого необходимо иметь плотность ионного тока в пучке 10-7 А/мм2.
Для пучка с поперечным сечением 0,1 мм × 10 мм это будет отвечать силе тока 1∙ 10-7 А. С такими ионными токами приходится сталкиваться только в немногих системах, которые предназначены для разделения изотопов электромагнитным методом или в специальных отдельно взятых источниках ионов. Поэтому в большинстве случаев, имеющих место при масс-анализе. (при ионных токах Ji = 10-9 ÷10-10 A) электростатическим отталкиванием ионов в пучке можно пренебречь. Силы взаимодействия параллельных ионных лучей в пучке, обусловленные собственными магнитными полями, пренебрежимо малы.
Наличие объемного заряда приводит к
искривлению ионных лучей. В результате
положение источника ионов P1
(рисунок 17) перемещается ближе к
магнитному анализатору в точку
,
а изображение на коллекторе P
Р2'
Объемный заряд в данном случае будет искажать электрические поля внутри анализатора, т.е. нарушать условия фокусировки.
Наблюдаемое искажение можно исправить путем юстировки пучка перемещением электромагнита.
Более существенное значение имеют рассеянные магнитные поля и в первую очередь рассеянное магнитное поле анализатора.
h
h
d
φ
h
h
В первом приближении можно считать, что контур полюсов должен отстоять от границы сектора на величину, не превышающую h=(0,7÷0,8) ∙d.
Таким образом, вводится эффективное магнитное поле, распространяющееся за границы полюсов и как бы резко обрывающееся на некотором расстоянии за ними. Здесь и проходит граница сектора.
Присутствие рассеянного магнитного поля ведет к искажению траектории ионного пучка (рисунок 19). Поскольку рассеянное магнитное поле дополнительно отклоняет ионный пучок, то точка фокусировки P2 перемещается в точку Это искажение в свою очередь можно устранить, перемещая магнит относительно вершины О. Необходимо отметить, что известно практическое правило, когда вершина сектора, ограничивающего фактические полюсы магнита, лежит выше прямой, соединяющей источник и приемник ионов (точка О', рисунок 19).
O'
P2'
Рассеяние ионов при соударении с молекулами остаточного газа в аналитической части прибора может иметь место только при давлении большем 10-6 мм. рт. ст. Сечение рассеяния при указанном давлении, что соответствует средней длине свободного пробега ионов
λ = 350 см. Обычно давление в камере анализатора поддерживается порядка P = 10-7 мм. рт. ст. Поэтому можно считать, что при высоком вакууме рассеяние ионов на молекулах и атомах остаточного газа практически отсутствует.