- •Vі. Загальні вказівки про порядок виконання лабораторних робіт
- •§1. Підготовка та виконання
- •§2. Вимоги до звіту і захисту
- •§3. Основні правила техніки безпеки під час роботи в лабораторії
- •Правила безпечної роботи з радіоактивними речовинами та джерелами випромінювання
- •Основні правила техніки безпеки при роботі з приладами, які живляться від електричної мережі
- •Після закінчення роботи
- •Вивчення спектрів випромінювання та поглинання
- •Теоретичні відомості
- •Правила техніки безпеки
- •Завдання до лабораторної роботи
- •Хід роботи
- •Перелік рисунків, таблиць, схем звіту
- •Контрольні запитання
- •Література
- •Визначення постійної Планка за спектром атома водню
- •Теоретичні відомості
- •Правила техніки безпеки
- •Завдання до лабораторної роботи
- •Хід роботи
- •Перелік рисунків, таблиць, схем звіту
- •Контрольні запитання
- •Правила техніки безпеки
- •Завдання до лабораторної роботи
- •Хід роботи
- •Перелік рисунків і таблиць звіту по роботі
- •Контрольні запитання
- •Література
- •Вивчення будови, принципу дії та використання лазерів
- •Теоретичні відомості
- •Правила техніки безпеки
- •Хід роботи
- •Перелік рисунків і таблиць звіту по роботі
- •Контрольні запитання
- •Література
- •Вивчення поглинання іонізуючого випромінювання речовини за допомогою лічильника Гейгера–Мюллера
- •Теоретичні відомості
- •Правила техніки безпеки
- •Завдання до лабораторної роботи
- •Хід роботи
- •Перелік рисунків і таблиць звіту з даної роботи
- •Контрольні запитання
- •Література
- •Розподіл Пуассона
- •Теоретичні відомості
- •Правила техніки безпеки
- •Завдання до лабораторної роботи
- •Хід роботи
- •Перелік рисунків і таблиць в роботі
- •Контрольні запитання
- •Література
- •Лабораторна робота №7 Вивчення теплового випромінювання
- •Теоретичні відомості
- •Правила техніки безпеки
- •Завдання до лабораторної роботи
- •Хід роботи
- •Перелік рисунків, таблиць, схем звіту з даної лабораторної роботи
- •Контрольні запитання
- •Література
- •Лабораторна робота №8 Визначення сталої Планка методом затримуючого потенціалу
- •Теоретичні відомості
- •Правила техніки безпеки
- •Завдання до лабораторної роботи
- •Хід роботи
- •Перелік рисунків, таблиць, схем звіту з даної лабораторної роботи
- •Контрольні запитання
- •Література
- •Хвильові властивості частинок
- •Теоретичні відомості
- •Правила техніки безпеки
- •Завдання до лабораторної роботи
- •Хід роботи
- •Перелік рисунків, таблиць, схем звіту з даної лабораторної роботи
- •Контрольні запитання
- •Література
- •Лабораторна робота №10 Вивчення природної радіоактивності
- •Теоретичні відомості
- •Правила техніки безпеки
- •Завдання до лабораторної роботи
- •Хід роботи
- •Перелік рисунків, таблиць, схем звіту з даної лабораторної роботи
- •Контрольні запитання
- •Література
- •Лабораторна робота №11 Бета-розпад ізотопів атмосферного повітря
- •Теоретичні відомості
- •Правила техніки безпеки
- •Завдання до лабораторної роботи
- •Хід роботи
- •Перелік рисунків, таблиць, схем звіту з даної лабораторної роботи
- •Контрольні запитання
- •Література
- •Лабораторна робота №12 Космічне випромінювання та його властивості
- •Теоретичні відомості
- •Правила техніки безпеки
- •Завдання до лабораторної роботи
- •Хід роботи
- •Перелік рисунків, таблиць, схем звіту з даної лабораторної роботи
- •Контрольні запитання
- •Лабораторна робота №13
- •Підготовка до виконання лабораторної роботи
- •Хід роботи
- •Контрольні запитання
- •Література
Лабораторна робота №13
Дослідження спектральної чутливості
напівпровідникового фотоелемента
Мета роботи: вивчення будови монохроматора та методу його градуювання, дослідження спектральної чутливості напівпровідникового фотоелемента з запірним шаром.
Прилади та обладнання: фотоелемент, монохроматор УМ-2, універсальний цифровий вольтамперметр В7-35, ртутна лампа.
Теоретичні відомості
Поряд із зовнішнім фотоефектом існує вентильний фотоефект або фотоефект запірних шарів. Він полягає в безпосередньому перетворенні світлової енергії в електричну.
Вентильний фотоелемент (або фотоелемент із запірним шаром) складається з двох тіл з n- та p-провідністю (рис. 1).
П
ри
з’єднанні напівпровідників n-
та
p-
типу виникає контактна різниця потенціалів
(рис.1). Але робота виходу електронів з
напівпровідника n-
типу менша, ніж робота виходу дірок
напівпровідника p-
типу, тому кількість електронів, які
перейдуть у напівпровідник p-
типу, буде більше кількості дірок, які
перейдуть у напівпровідник n-
типу. За рахунок цього напівпровідник
n-
типу заряджається позитивно. При
освітленні такої системи світлом
звільняються електронно-діркові пари,
й під дією контактної різниці потенціалів
звільнені електрони будуть рухатися у
бік напівпровідника n-
типу, а дірки – у бік напівпровідника
p-
типу. Якщо коло замкнене, як показано
на рис.1, то в колі буде протікати струм
до тих пір, доки система освітлюється
світлом.
Напівпровідникові фотоелементи із запірним шаром дають в колі струм без дії прикладеної зовні електрорушійної сили.
Якщо фотоелемент послідовно освітлювати різними монохро-матичними джерелами, які випромінюють однакову енергію, то величина фотоструму буде залежати від довжини хвилі падаючого світла. Тому поряд з інтегральною чутливістю вводиться поняття спектральної чутливості. Інтегральна чутливість вимірюється відношенням сили фотоструму до величини потоку світлової енергії Ф білого світла:
Спектральна чутливість вимірюється відношенням сили фотоструму до величини потоку світлової енергії Ф у вузькому інтервалі довжин хвиль , + d, що падає на фотоелемент:
.
Найпростіший спосіб отримання спектральної характеристики фотоелемента полягає в тому, що на останній направляють за допомогою монохроматора світло однакової інтенсивності, але різної довжини хвилі і вимірюють відповідну величину фотоструму і.
На практиці інтенсивність джерел світла різна для різних довжин хвиль. Тому, якщо перед монохроматором встановити лампу розжарення і обертати його барабан, то інтенсивність світла різних довжин хвиль, що виходить з окуляра монохроматора, буде неоднаковою.
Однак величина енергії для кожного значення може бути визначена на основі законів теплового випромінювання. Знання залежності = f() дозволяє перерахувати силу фотоструму від реального джерела до немонохроматичного джерела постійної інтенсивності в будь-якому спектральному інтервалі.
На рис. 2. представлена залежність енергії випромінювання від довжини хвилі для розжареного вольфраму, який має температуру Т = 2873 К.
На осі ординат відкладена інтенсивність випромінювання J в умовних одиницях. Причому за одиницю інтенсивності прийнята
енергія,
яка відповідає довжині хвилі = 5600
(це довжина хвилі відповідає максимальній
чутливості ока).
Д
ля
світла довжиною хвилі = 5600
Å фотострум і
в стільки разів менший, ніж струм від
джерела постійної інтенсивності ,
в скільки разів
менше від = 5600.
Тому для того, щоб зробити перерахунок, покази гальванометра (фотострум) слід помножити на коефіцієнт k.
Тоді,
для
5600
Å,
;
для > 5600
Å,
.
Для визначення чутливості фотоелемента зазвичай користуються еталонними лампами з відомими кривими Віна, або ж визначають пірометром температуру нитки лампи розжарення і, знаючи матеріал спіралі нитки, за табличними даними будують криву Віна = f(). Потім визначають коефіцієнт k для різних довжин хвиль (див. таблицю 1). В даній роботі використана лампа з вольфрамовою спіраллю (робоча температура Т = 2873 К). Значення k для різних довжин хвиль наведені нижче.
Перед вхідною щілиною монохроматора встановлена лампа розжарення, а перед вихідною – досліджуваний напівпровідниковий фотоелемент із запірним шаром (селеновий). Фотоелемент з’єднаний з універсальний цифровий вольтамперметр В7-35, що працює в режимі амперметра.
