
- •1. Электрические заряды. Строение атома. Энергетические уровни и энергетические зоны. Положительные и отрицательные ионы.
- •2. Электрическое поле. Взаимодействие электрических зарядов с электрическим полем. Закон Кулона.
- •3. Электрический потенциал и разность потенциалов.
- •4. Электрическая емкость. Конденсатор. Способы изменения электрической емкости конденсаторов. Параллельное и последовательное соединения конденсаторов.
- •5. Постоянный электрический ток. Условия существования электрического тока. Направление, сила и плотность постоянного электрического тока.
- •6. Электрическое сопротивление. Единицы измерения сопротивления. Зависимость сопротивления от температуры.
- •7. Резисторы. Виды резисторов. Параллельные и последовательные соединения резисторов.
- •8. Закон Ома для участка и полной электрической цепи.
- •9. Законы Кирхгофа.
- •10. Работа и мощность электрического тока.
- •11. Переменный электрический ток и его основные параметры: период, частота, амплитуда, мгновенное и среднее (действующее) значения.
- •12. Основные сведения о полупроводниках. Разрешенные и запрещенные зоны. Валентная зона и зона проводимости.
- •14. Полупроводники с электронной электропроводностью. Энергетическая диаграмма. Формулы для концентраций основных и неосновных носителей. Положение уровня Фермы.
- •15. Полупроводники с дырочной электропроводностью. Энергетическая диаграмма. Формулы для концентраций основных и неосновных носителей. Положение уровня Фермы.
- •16. Неравновесная и избыточная концентрации основных и неосновных носителей зарядов в полупроводнике.
- •17. Диффузионный и дрейфовый токи в полупроводнике. Причины, вызывающие их появление. Формулы для плотностей токов.
- •19. Прямое включение эдп. Явление инжекции неосновных носителей. Влияние прямого напряжения на контактную разность потенциалов и ширину запирающего слоя. Энергетическая диаграмма.
- •20. Обратное включение эдп. Обратный ток. Включение обратного напряжения на ширину запирающего слоя. Энергетическая диаграмма.
- •21. Вольтамперная характеристика эдп (вах). Уравнение теоретической вах и ее график.
- •22. Емкость эдп. Зарядная и диффузионная емкости, их физическая интерпретация. Графическая зависимость зарядной емкости от обратного напряжения.
- •23. Эквивалентные схемы эдп при прямом и обратном включениях.
- •24. Разновидности электрических переходов. Электрический переход между полупроводником и металлом (переход или барьер Шотки). Выпрямляющие и невыпрямляющие электрические переходы.
- •25. Полупроводниковые диоды. Классификация, основные параметры и система обозначений.
- •26. Выпрямительные полупроводниковые диоды. Назначение, основные параметры, классификация. Простейший выпрямитель на полупроводниковом диоде.
- •27. Полупроводниковые стабилитроны. Назначение, вах и основные параметры. Схема простейшего стабилизатора напряжения на стабилитроне и принцип его работы.
- •28. Варикапы. Назначение вольт-фарадная характеристика. Схема включения варикапа в колебательный контур для изменения его резонансной частоты.
- •29. Туннельные диоды. Энергетическая диаграмма при прямом и обратном включениях. Вах. Пояснить появление на вах участка с отрицательным сопротивлением.
- •30. Общие сведения о биполярных транзисторах (бт). Структурные схемы бт типов р-n-р и n-р-n. Условные графические обозначения.
- •34. Статические гибридные характеристики бт, включенного по схеме оэ. Функциональные зависимости. Схема для их экспериментального снятия. График семейств входных и выходных характеристик.
- •35. Малосигнальные h-параметры бт, включенного по схеме оэ. Формулы и методика определения по статическим гибридным характеристикам.
- •39. Параметры режима усиления. Формулы, методика определения по статическим гибридным характеристикам в схеме оэ,oб
- •40. Факторы, ограничивающие полезную выходную мощность бт. Определение рабочей области на выходных статических гибридных характеристиках.
- •41. Особенности работы бт в ключевом режиме. Схема, графики напряжений и токов.
- •42. Схема ключа с транзистором Шотки. Пояснить причину уменьшения времени рассасывания в таком ключе.
- •43. Устройство, принцип действия, статические характеристики и параметры мдп-транзисторов с индуцированным каналом п- и р- типов.
- •45. Устройство, принципы действия статические характеристики и параметры мдп-транзистора с управляющим р-п-переходом.
- •46. Устройство, принцип действия, статические характеристики и параметры меп-транзисторов.
- •47. Дифференциальные параметры полевых транзисторов и методика их определения по статическим характеристикам.
- •48. Работа пт в режиме усиления. Схема простейшего усилителя. Параметры режима усиления и методика их определения по характеристикам.
- •49. Инвертoр на мдп-транзисторах с индуцированным каналом. Схема, графики входного и выходного напряжения. Уровни выходного напряжения u0 и u1.
- •52. Этапы изготовления полупроводниковых имс, обеспечивающие формирование в кристалле полупроводника транзисторной структуры.
- •53. Интегральные транзисторы n-p-n и p-n-p. Способ увеличения коэффициента передачи тока h21э транзистора типа p-n-p. Многоколлекторный транзистор.
- •54. Интегральные многоэмиттерые транзисторы. Структура. Схема включения мэт в цифровых устройствах.
- •55. Интегральные транзисторы с инжекционным питанием. Структурная и эквивалентная схемы. Принципа работы.
- •56. Диоды, резисторы и конденсаторы полупроводниковых имс.
- •57.Фоторезисторы
- •58. Фотодиод, устройство, принцип действия, схема включения.
- •59. Фототранзистор, устройство, принцип действия, схема включения, выходные характеристики.
- •60. Полупроводниковые источники излучения. Светоизлучающие диоды. Оптопары.
16. Неравновесная и избыточная концентрации основных и неосновных носителей зарядов в полупроводнике.
В стдр в ПП устанавливается равновесная концентрация основных и неосн. носителей заряда(nn0,pn0-в ПП n-типа, np0,pn0-в ПП p-типа). Однако кроме теплового возбуждения кристаллическая решётка ПП может подвергаться и другим энергетическим воздействиям: световому, облучению потоком заряженных частиц, внесению в ПП носителей заряда через контакт (инжекция) и др. В этом случае энергия возбудителя непосредственно передаётся носителям заряда и тепловая энергия кристаллической решётки остаётся практически неизменной. В ПП образуется концентрация подвижных носителей заряда, отличающаяся от равновесной. Такая концентрация наз. неравновесной. Разность между равн. и неравн. Концентрациями определяет избыточную конц.
После прекращения действия внешнего возбудителя избыт. конц. электронов и дырок вследствие рекомбинации будет убывать до 0 и в ПП через некоторое время снова установится равновесная конц. При возникновении избыт. концентрации носителей заряда в ПП измен. конц. как осн., так и неосн. носителей заряда. Измерить изменение конц. осн носителей заряда трудно, т. к. возникшая избыт. конц. осн. носителей составляет малую долю их высокой равновесной конц-ии. Гораздо проще осущ. контроль избыт. конц-ии неосн. носителей, которая соизмерима с их равновесной концентрацией.
Установлено, что если избыт. конц. неосн. носителей мала по сравнению с их равновесной конц., то скорость изменения избыт. конц-ии неосн. носителей заряда в объёме ПП пропорциональна их избыт. конц. На основании этого для ПП n-типа можно записать: d(pn-pn0)/dt=-a(pn-pn0), (2.11) где pnи pn0 соответственно неравновесная и равн. конц. дырок; а-коэффициент конц. Знак "-" указывает на уменьшение избыт. конц. дырок во времени за счёт рекомбинации. Разделяя в (2.11) переменные и интегрируя, получим ln(pn-pn0)=-at+c. Постоянная С определяется из след. условия. Пусть в момент прекращения действия на ПП внешнего возбудителя(t=0) неравновесная конц. дырок достигла значения pn=pn1, тогда С=ln(pn1-pn0). Обозначив Tр=1/a, получим след. значение для избыт. конц. дырок, зависящее от времени t: pn-pn0=(pn1-pn0)e^-t/Tр (2.12), где Tp-время жизни неравновесных дырок в ПП n-типа. Из (2.12) следует, что за время жизни t=Tp конц. дырок (неосн. носителей в ПП n-типа) уменьш. в e=2,7 раза.
Аналогично можно получить уравнение, определяющее изменение во времени изб. конц. электронов в ПП p-типа: np-np0=(np1-np0)e^-t/Tn (2.13), где Tn-время жизни электронов (неосн. носит. в ПП p-типа).
(2.12) и (2.13) позволяют определить скорости измен. неравн. конц. неосн. носителей в ПП:
dpn/dt=-(pn-pn0)/Tp(2.14) dnp/dt=-(np-np0)/Tn(2.15)
17. Диффузионный и дрейфовый токи в полупроводнике. Причины, вызывающие их появление. Формулы для плотностей токов.
В ПП свободные электроны и дырки нах в состоянии хаотического движения. При помещении ПП в электрическое поле с напряжённостью Е движение электронов и дырок упорядочивается: электроны приобретают преимущественно направление движения частиц против напряжённости эл. поля, и дырки - по направлению напряжённости. Направленное движение электронов и дырок вызывает протекание через ПП электрического тока, наз. дрейфовым. При измен. направления напряжённости электр. Поля изменяется и направление протекания дрейфового тока.
Движение электронов и дырок под действием эл. поля характер-ся подвижностью µ, определяемой как отношение средней скорости v подвижных носителей заряда к напряжённости эл. поля E: µ=v/Е (2.14).
Подвижность измеряется в м^2/(В*с) и имеет различные численные значения для электронов(µn) и дырок (µp).С увеличением температуры и концентрации примесей в ПП подвижность электронов и дырок уменьшается. Это вызвано увеличением числа их столкновений в единицу времени и уменьшением длины свободного пролёта.
Дрейфовый ток содержит две составляющие: электронную и дырочную. Так как электроны и дырки под дейсвием эл. поля движутся(дрейфуют) навстречу друг другу, то плотность дрейфового тока через ПП равна
jдр= jnдр+jpдр=qnv+qpv, где q-заряд электрона, n и p - концентрации соответственно электронов и дырок. С учётом (2.14): jдр=qnµnE+qpµpE=q(nµn+pµp)E (2.15)
Сравнение этих уравнений с законом Ома
j=E(
-удельная
электропроводность) показывает, что
удельная электропроводность ПП равна
=
n-
p=
q(nµn+pµp) (2.16)
Из выражения (2.16) следует, что для
собственных(чистых) ПП
I=qni(µn+µp)=qpi(µn+µp);
для ПП n-типа
n=qnn0µn,
а для ПП p-типа
p=qpp0µp.
Кроме эл.поля причиной направленного движения электронов и дырок может быть их диффузионное движение, вызванное неравномерностью распределения их концентраций. Под действием сил диффузии электроны и дырки из области высокой концентрации перемещаются в область с меньшей концентрацией. Плотность диффузионного тока ,как и дрейфующего, содержит 2 составляющие - электронную и дырочную, определяемые соответственно уравнениями: jn диф=qДndn(x)/dx, jp диф= -qДpdp(x)/dx , (2.17) где dn(x)/dx и dp(x)/dx - градиенты концентраций электронов и дырок в направлении x; Дnи Дp- коэффициенты диффузии электронов и дырок.
Градиент концентрации характеризует степень неравномерности распределения носителей заряда в ПП вдоль какого-то направления. Например, при равномерном распределении электронов в ПП в направлении x (рис. 1, прям.1) dn(x)/dx=0.Для распределений, показанных линиями 2 и 3 dn(x)/dx соответственно отрицательный или положительный.
Коэффициенты диффузий связаны с подвижностями соотношениями Эйнштейна:
Дn=µnkT/q, Дp=µpkT/q (2.18)
Знак "-" в (2.17) для jp дифпоставлен потому, что в направлении протекания диффузионного тока градиент концентрации дырок dp(x)/d(x)<0 .
Если в ПП существует градиент конц. подвижных носителей заряда и на него воздействует эл. поле с напряжённостью Е, то эл. ток в таком ПП содержит диффузионные и дрейфующие составляющие. При этом jn=qnµnE+qДndn(x)/dx (2.19) jp=qpµpE-qДpdp(x)/dx (2.20).
Диффузионное движение подвижных носителей заряда может наблюдаться и при равномерном первоначальном распределении концентрации носителей заряда, но при наличии в ПП разности (градиента) температур. В таком случае возникает диффузия подвижных носителей заряда из нагретых участков в более холодные.
Рис. 1
18. Электронно-дырочный переход в
состоянии равновесия. Образование
контактной разности потенциалов.
Энергетическая диаграмма. Ширина
запирающего слоя.Рассмотрим явления,
происходящие при контакте ПП p- и n- типов,
в которых равновесная концентрация
дырок в р-области рр0значительно
превышает их равновесную конц. в n-
области pn0, т.е.рр0>>pn0.
Аналогичное условие выполняется и для
электронов: nn0>>np0(рис.1,а.б).
Вследствие возникновения градиента
конц. для одноименных подвижных носителей
заряда на границе между p- и n- областями
происх. Их диффузионное перемещение(дырки
диффундируют в n-обл., а электроны в
р-обл.). Ток диффузии содержит 2 составляющие
и направлен из р-обл. в n-обл.(направление
тока совпад. с направлением движения
положит. зарядов). В результате диффузии
дырок в р-области на границе с n-обл.
остаются нескомпенсированные заряды
отрицательных ионов(акцепторов). Диффузия
электронов из n-обл. в p-обл. приводит к
образованию в n-области на границе с
р-обл. нескомпенсированного заряда
положит. ионов(доноров)(рис.1,в).Поскольку
ионы примесных атомов прочно связаны
с атомами основного ПП, т.е. являются
неподвижными, то между положит. и отриц.
зарядами, образованными на границе
контакта ПП, возникает эл. поле, называемое
диффузионным. Вектор напряжённости
диффузионного поля Едиф направлен
из n-обл. в р-обл. Появление диффузионного
поля препятствует дальнейшей диффузии
основных носителей заряда и приводит
к уменьшению тока диффузии. В то же время
диффузионное эл. поле вызывает дрейф
через границу p- и n- областей неосновных
носителей заряда. Возникает дрейфовый
ток, содержащий также 2 составляющие(электр.
и дыр.) и направленный из n-обл. в p-обл. В
установившемся режиме результирующий
ток через ПП, не подключённый к электрич.
цепи, равен 0,т.е. jдр+jдиф=0
(2.21) Переходный слой между областями ПП
с различными электропроводностями, в
котором сущ. диффузионное эл. поле, наз.
электронно-дырочным переходом (ЭДП),
или p-n-переходом. Заряды положительных
и отрицательных ионов, созданных на
границе p- и n- областей в результате
диффузии осн. носителей, приводят к
появлению между p- и n- обл. контактной
разности потенциалов UK(рис.
1,г). Если потенциал металлургической
границы p-и n-областей принять за 0, то
потенциал p-обл.=-UK/2, а n-обл=+UK/2.
Поскольку потенц. энергия электрона и
потенциал связаны W=-qU, то отрицательный
объёмный заряд p-области вызывает
повышение энергетических уровней
p-области и понижение энерг. уровней
n-обл.. Смещение энерг. уровней происходит
до тех пор, пока не совпадут уровни Ферми
p- и n- обл.(рис
1,д). При этом на границе раздела
Wфр=Wфn=Wi. Это означает,
что в плоскости раздела p- и n-областей
ПП обладает собственной электропроводностью
и имеет по сравнению с другими областями
повышенное сопротивление. По этой
причине эту обл. наз запирающим слоем,
или областью объёмного заряда. Совпадение
уровней Ферми p- и n- областей соответствует
установлению термодин. равновесия в ПП
и возникновению между ними потенциального
барьера UKдля диффузионного
перемещения через ЭДП электронов
n-области и дырок p-области. Изрис.1,дследует qUK=(Wi-Wфр)+(Wфn-Wi)
(2.22) Из (2.4) и(2.7) имеем: Wфn-Wi=kTln(nn0/ni),
Wi-Wфр=kTln(pp0/ni).
Тогда qUK= kTln(pp0/ni)+
kTln(nn0/ni). Обозначив YT=kT/q,
получим UK=YTln(pp0*nn0/ni^2)
(2.23) YTназ. температурным потенциалом.
При комнатной температуре YT0,026
В. Учитывая (2.10), уравнение (2.23) можно
привести к виду UK=YTln(pp0/pn0)=YTln(nn0/np0)
(2.24), из которого следует, что контактная
разность потенциалов зависит от отношения
концентраций подв. носителей заряда
одного знака в p- и n- областях. Помимо
конт. разн. потенциалов другим важным
параметром ЭДП явл. его ширина
=
p+
n(см.рис.1,а).
Установлено, что
n/
p=NA/NД,
(2.25) т.е. ширина слоёв объёмных зарядов
в n- и p- областях обратно пропорциональна
концентрациям примесей в этих областях
и в несимметричном переходе(NANД)
запирающий слой расширяется в область
с меньшей концентрацией примесей. Ширина
запирающего слоя может быть выражена
через концентрации примесей и контактную
разность потенциалов:
=
n+
р=
0(NA+N.Д)UK/qNANД,
(2.26) где
0=8,85^.10^-12
Ф/м-электрич. постоянная;
-относительная
диэлектрическая проницаемость. Для
германия
=16,3,
для кремния
=11,7.
Уравнение (2.26) показывает, что увеличение
концентраций примесей уменьшает ширину
области объёмного заряда, а уменьшение
- расширяет её. Этот фактор используется
для придания ПП приборам необходимых
свойств. Рис. 1