- •Патентная информация ее назначение, и преимущества характеристика.
- •Задание на проведение патентного исследования (характеристика отражаемой информации). Календарный план.
- •3. Основные определения: автор, патентообладатель, изобретение, патентоспособность, заявка на выдачу патента, патент, юридический статус патента, приоритет.
- •4. Регламент патентного поиска: назначение, основные рубрики, правила оформления.
- •Источники патентной информации: классификация, обоснование выбора источников.
- •Принципы систематизации собранной патентной информации для анализа. Систематизация сведений об изобретениях (в том числе 10 вопр. «установление динамики патнентования»)
- •Динамический ряд патентования изобретений
- •(Конец 10 вопр. «установление динамики патнентования»)
- •Целевые группы потребителей патентной информации.
- •Анализ патентной информации при установлении требований к конкретному виду продукции.
- •Источники непатентной информации: классификация, обоснование выбора источников.
- •Общие требования к информационным источникам
- •Международная патентная классификация: назначение, архитектоника классификации индексов мпк.
- •Архитектоника классификационных индексов
- •Выявление патентов–аналогов.
- •Предмет патентного поиска в зависимости от объекта техники (устройство, процесс, вещество).
- •Принцип иерархии индекса мпк.
- •Виды патентного поиска.
- •Определение структуры взаимного патентования.
- •Патент на изобретение – характеристика документа, срок действия. Содержание библиографии патента.
- •Патентная чистота объекта интеллектуальной собственности. Алгоритм оценки патентной чистоты при проведении патентного исследования.
- •Патент на изобретение – характеристика документа, срок действия. Содержание описания патента.
- •Корпоративное досье на основе патентной информации: назначение и структура.
- •Патент на полезную модель – характеристика документа, срок действия. Содержание библиографии патента.
- •Определение тенденций развития области техники на основе патентных исследований.
- •Патент на промышленный образец – характеристика документа, срок действия. Особенности патентной документации для промышленного образца.
- •Составление модели прогнозируемой технической области или вида техники.
- •Определение перспективности отдельных направлений техники
- •Возможности патентной базы данных епв. Алгоритм поиска
- •Определение технического уровня разработок на основе патентных исследований
- •Возможности патентной базы данных фипс. Алгоритм поиска.
- •Корпоративное досье назначение, структура, принцип организации информации
- •Стратегия тематического поиска
- •Стратегии управления на основе патентной информации
- •Стратегия именного (фирменного) поиска
- •Показатели ценности патентов как части интеллектуального капитала
- •Возможность использования патентной информации в конкурентной разведке.
Определение перспективности отдельных направлений техники
Тенденции развития
Таблицы из курсовой
Выдвигается гипотеза – проводится анализ гипотезы – устанавливается устройство перспективно или нет
Когда проводят анализ патентной информации, то возможно, что по заявкам на изобретение всё нормально, но большинству патентов отказано, так же бывает, что продукцию всё таки патентуют, вкладывают в нее деньги, а на рынок она не попадает или не пользуется спросом.
Необходимость внимательного анализа патентной ситуации при оценке новой продукции и ее сбытовых возможностей не вызывает сомнений. Для этого существует множество способов сбора данных и анализа патентной информации. Начать хотя бы с несложной методики анализа патентной активности (Patent Hit Count by the Year), позволяющей оценить, насколько фирме необходима новая технология; сколько потенциальных конкурентов действуют или собираются действовать в этой же сфере; растет или падает соответствующая патентная активность; нет ли на данном стратегическом направлении «узких мест» в освоении технологии, которую фирма намерена патентовать.
Статистика свидетельствует, например, о быстром развитии какой-то области техники. Об этом часто пишут многие газеты. Но только более тщательный патентный анализ поможет раскрыть наличие нежелательных конкурентов, уже зарегистрировавших патентные заявки и, возможно, планирующих предпринимательскую деятельность в этой сфере. Тщательное изучение чужих патентов и собственных возможностей позволит оценить шансы вступления на рынок.
Другим инструментом, особенно удобным для анализа участков предпринимательской активности, служит матрица ИС (IP Landscape Map). С ее помощью можно охарактеризовать пространство конкуренции по разным параметрам, идентифицируя, например, распределенные во времени участки наибольших затрат на НИОКР либо выявляя отличающиеся повышенной патентной активностью зоны ускоренного технического развития во вновь появляющихся подотраслях.
При анализе деятельности конкурентов обращаются и к отчетам о сроках обновления технических решений (Innovation Cycle Speed reports). Они позволяют оценить темпы разработки новых технологий конкурентами, отталкиваясь от средней ретроспективной глубины патентных ссылок на известный уровень техники, превзойденный или обойденный данным запатентованным изобретением. Если конкурент часто цитирует свои более ранние патенты, это может означать, что он освоил стержневую технологию и в ускоренном темпе создает основанную на ней новую продукцию. Если же он цитирует и чужие патенты, из этого может вытекать вероятность создания им аналогичной продукции, с которой конкурент хочет выйти на рынок первым.
Возможности патентной базы данных епв. Алгоритм поиска
Сеть патентной информации esp@cenet создана Европейским патентным ведомством и насчитывает в своем составе более 37 серверов. Сервер Российского патентного ведомства хранит информацию о патентных документах Российской Федерации и обеспечивает их поиск и отображение. Сервер также дает возможность доступа с интерфейсом на русском языке ко всемирной базе патентной информации и к патентным фондам различных стран и международных организаций.
БД Esp@cenet содержит крупнейшую в мире (более чем из 72 стран и организаций мира) коллекцию патентных документов, включающую практически полные собрания документов ведущих стран, в том числе США, большинства европейских стран, ЕПВ и РСТ, и все имеющие англоязычную библиографию документы Японии. Базы данных ЕПВ содержат 66 млн. патентных документов.
БД Esp@cenet представляет собой реферативную базу данных, т. е. поиск информации в ней возможен только по библиографическим данным и рефератам, содержащимся на титульных страницах патентных документов мировой коллекции. Визуальное представление найденных в результате такого поиска документов возможно либо в факсимильном, либо в полнотекстовом формате с чертежами.
Интерфейс БД может быть представлен на трех языках: английском, немецком и французском (выбор языка — вверху поисковой страницы). В любом случае ключевые слова для поиска из названия и реферата должны вводиться только на английском языке.
Полные тексты документов из списка найденных представляются на языке оригинала.
Данная база предлагает 4 вида поиска:
Быстрый поиск |
Используется для осуществления поиска по ключевым словам, имени изобретателя или названию фирмы |
Расширенный поиск |
Используется для более сложного поиска с использованием дополнительных исходных данных |
Нумерационный поиск |
Используется, когда известен номер публикации, заявки или приоритетного документа |
Классификация ECLA |
Поиск по системе патентной классификации ЕПВ |
Критерии поиска можно задавать как на русском, так и на английском языке.
