
- •1. Электрофизические свойства полупроводников
- •1.1 Собственные и примесные полупроводники
- •Собственный полупроводник
- •Электронный полупроводник
- •Дырочный полупроводник
- •1.2. Энергетические диаграммы полупроводников
- •1.3. Расчет равновесной концентрации свободных носителей заряда
- •1.4. Hеpавновесное состояние полупpоводника
- •Время жизни неосновных носителей заряда
- •Распределение концентрации неравновесных носителей заряда
- •1.5. Токи в полупроводниках
- •Ток проводимости
- •Ток диффузии
- •Распределение токов в полупроводнике
- •2.3. Вах реального p-n-перехода
- •2.4. Влияние температуры на вах p-n-перехода
- •2.5. Емкости p-n-перехода
- •3. Биполярные транзисторы и тиристоры
- •3.1 Общие сведения о биполярном транзисторе Основные определения
- •Режимы работы транзистора
- •Схемы включения биполярного транзистора
- •Принцип работы биполярного транзистора
- •3.2. Физические процессы в биполярном транзисторе
- •3.3 Расчет токов биполярного транзистора Основные допущения идеализированной теории биполярных транзисторов
- •Составляющие токов транзистора
- •Перенос электронов из эмиттера в коллектор. Ток связи
- •Дополнительные токи переходов
- •Влияние обратного напряжения на коллекторном переходе на токи транзистора. Эффект Эрли
- •Коэффициенты передачи токов
- •3.4. Нелинейные модели биполярного транзистора Передаточная модель Эберса-Молла
- •Классическая модель Эберса - Молла
- •Модели для активного режима работы транзистора
- •3.5. Статические характеристики биполярного транзистора
- •Статические характеристики в схеме об
- •Статические характеристики в схеме оэ
- •3.6. Влияние температуры на работу биполярного транзистора
- •3.7. Пробой биполярного транзистора
Дополнительные токи переходов
Дополнительные токи переходов складываются из дырочных и рекомбинационных составляющих (см. рис. 3.11). В каждом переходе транзистора, помимо электронных, протекают и дырочные составляющие токов, обусловленные инжекцией дырок - основных носителей заряда в p-базе. Так как концентрация примеси в базе мала NАБ<<NDЭ , эти токи в десятки и более раз меньше электронных. Они могут быть рассчитаны по формулам:
(3.10)
где pnЭ и pnК - равновесные концентрации дырок в эмиттере и коллекторе соответственно. Рекомбинационные токи i' рек и i' ' рек обусловлены частичной рекомбинацией электронов, диффундирующих из эмиттера в коллектор. Скорость рекомбинации в базе (и рекомбинационные токи) пропорциональны избыточному числу неосновных носителей во всей базовой области (площадь под распределением n(x) на рис. 3.10. n(x) = n(x)- np ), или
.
(3.11)
Учитывая
, что распределение n(x) -
линейно, по формуле трапеции получим:
,
(3.12)
где
;
(3.13)
.
(3.14)
Ток i' рек(uЭП) определяется рекомбинацией электронов, соответствующих нормальной составляющей тока связи iN, а i'' рек(uКП) - инверсной iI. Дополнительные токи каждого перехода складываются из рекомбинационных и дырочных составляющих :
(3.15)
и зависят каждый от напряжения на своем переходе.
Влияние обратного напряжения на коллекторном переходе на токи транзистора. Эффект Эрли
В
соответствии с формулами 3.5 ...3.8 ток
связи перестает зависеть от обратных
напряжений при | uКП| >> uТ =
26 мВ. Однако реально такая зависимость
существует, так как при увеличении
обратных напряжений ширина n-p- переходов
увеличивается, а ширина базы уменьшается.
Зависимость ширины базы от величины
обратного напряжения на коллекторе
называется эффектом модуляции ширины
базы или эффектом Эрли. (Аналогичный
эффект в эмиттерном переходе интереса
не представляет, так как на эмиттерный
переход не подают больших обратных
напряжений). На рис 3.12 показаны два
распределения n(x) электронов
в базе при двух значениях обратного
напряжения на коллекторном переходе.
Видно, что при uКП = uКП2 ширина
базы уменьшилась на величину WБ.
При этом увеличился градиент концентрации
электронов
и,
следовательно, увеличился и ток связи,
являющийся диффузионным. Как следует
из рис. 3.12, большему обратному
напряжению uКП2 соответствует
больший ток связи iЭ-К а,
следовательно, и большие токи iЭ и iК.
Однако данный эффект в сотни раз слабее,
чем влияние прямых напряжений на
переходах, и часто не учитывается, или
учитывается приближенно. Для учета
эффекта Эрли уточняют формулу (3.6)
теплового тока транзистора I 0,
принимая:
(3.16)
где I0 - ток, определенный без учета эффекта Эрли по формуле (3.6), uА - напряжение Эрли - параметр транзистора, характеризующий величину эффекта Эрли. Обычно uА составляет десятки вольт и более. Физический смысл напряжения Эрли будет рассмотрен позднее в разделе 3.5.
Коэффициенты передачи токов
Полезный
эффект в транзисторе создается за счет
передачи эмиттерного тока из эмиттера
в коллектор. Количественно эффективность
этого процесса оценивают с помощью
статического коэффициента передачи
тока эмиттера .
Введем:
при uКП =
0. Смысл условия uКП=
0 заключается в том, что при этом
дополнительный ток коллекторного
перехода iКД =
0, и в коллекторной цепи течет только
нормальная составляющая iN полезного
электронного тока. Тогда:
.
.
Аналогично можно ввести и инверсный
коэффициент передачи тока I ,
или
.
Отсюда
следует: iN + iЭД =
iN и I iI + I iКД =
iI ,
тогда
,
(3.17)
,
(3.18)
где:
и
-
статические коэффициенты передачи тока
базы, прямой и инверсный соответственно.
С учетом (3.17) и (3.18) формулы (3.1) удобно
представить в виде:
;
;
.
В
рассматриваемой упрощенной теории
коэффициенты , I , , I считаются
постоянными, однако опыт показывает,
что они изменяются, как при изменении
тока связи iЭ-К (
на практике рассматривают зависимость
от тока эмиттера iЭ,
отличающегося от тока связи на несколько
процентов, но легко измеряемого), так и
от обратного напряжения на коллекторном
переходе uКП. Типичный
вид зависимостей для показан
на рис.3.13 а,б. (Коэффициент изменяется
аналогично, но его изменениями можно
пренебречь, так как 1.
Пример: если =0,99,
то = /(1- )
=99 , а при =0,98 =49.
Таким образом, изменению на
1% соответствует изменение примерно
в 2 раза). В области малых токов эмиттера
(рис. 3.13а, участок 1) спад связан
с рекомбинацией носителей в самом
эмиттерном переходе; в области больших
токов (участок 3) уменьшение связано
с увеличением концентрации дырок в базе
и возрастанием дырочной составляющей
тока эмиттерного перехода. Возрастание с
увеличением обратного напряжения на
коллекторе вызвано уменьшением ширины
базы и рекомбинационных составляющих
токов.