3. Соглашение Положительной и Отрицательной Логики.

В зависимости от способа кодирования лог уровня «0» или «1» различают:

-импульсные (вх и вых сигнали импульсные)

-потенциальные (вх и вых сигнали динамические)

-импульсно-потенциальные. (вх и вых и такие и такие)

Само кодирование «0» или «1» потенциальными сигналами выглядит так:

«0» и «1» кодируется различными фазами гармонич сигнала относит опорного сигнала.

При динамич. способе «1» кодируется пачкой импульсов и отсутствует при «0».

Соглашение пол. логики (HIGH AND LOW)

LOG0->L LOG1->H

Соглашение отр. логики

LOG0->H LOG1->L

ПРИМЕР: ТАБЛИЦА ИСТИННОСТИ ЛОГ. ЭЛЕМЕНТА

1.Согласно пол. логике 1.Согласно отр. логике

ВХ1 ВХ2 ВЫХ X1 X2 Y X1 X2 Y

UL UL UL 0 0 0 1 1 1

UL UH UL 0 1 0 1 0 1

UH UL UL 1 0 0 0 1 1

UH UH UH 1 1 1 0 0 0

y=x1&x2(нарисовать эл-т И) y=x1Vx2

4. Требования к Системе Элементов.

Система элементов – совокупность элементов, предназначенных для совместного использования, имеющих единое питание, едино констр-технологическое исполнение и отвечающая требования функциональной и технической полноты и совместимости входных и выходных сигналов.

1) Функциональная полнота

Функционально полные системы:1)И, ИЛИ, НЕ2)И, НЕ3)ИЛИ, НЕ4)И-НЕ5)ИЛИ-НЕ

2) Физическая полнота(система должна включать усилители, преобразователи, индикаторы, генераторы, и т.п. вспомогательные элементы)

3) Совместимость входных и выходных сигналов (выходными сигналами одного элемента можно управлять или переключать состояния другого элемента).

Т .к. сейчас элементы ЭВМ выполняются в интегральном исполнении, то степень сложности ИМС оценивается с помощью степени интеграции и функциональной сложности.

(I, II, III и т.д. степени интеграции)

КаУ- хар-ся количеством ЭРЭ на кристалле МС

КаУ – коэфф-т сложности (интеграции)

(1-МИС, 2-СИС, 3,4-БИС, =>5-СБИС)

КаФ- коэфф-т функц. сложности

Также применяется оценка по кол-ву транзисторов,разм. На кристалле.

ГЕНЕРАТОРЫ ИПМУЛЬСНЫЕ Г

5.Основные параметры элементов эвм.

Параметры определяют качество ИМС (быстродействие, надежность, стоимость и т.д.). Сами параметры определяются по характеристикам элементов.

I ) Статические (в состоянии логического «0» или «1»)

Параметры напряжения:

1)входные напряжения логического «0» и «1»:

2)выходные напряжения логического «0» и «1»:

3)пороговое напряжение: - это такое напряжение, при котором начинается переключение ЛЭ из одного состояния в другое

4)логический перепад:

5)напряжение допустимой помехи: , прикладывающееся ко входу и не изменяющее логическое состояние элемента. Характеризуют способность элемента противостоять помехам.

Токовые параметры:

1)входные токи логического «0» и «1»: - это такие токи, которые находятся во входной цепи ЛЭ, когда на вход элемента подается соответственно

2)выходные токи логического «0» и «1»:

Входные и выходные токи позволяют определить нагрузочную способность логических элементов.

3)ток выходной цепи ЛЭ с открытым коллектором (до 250 мкА в ТТЛ)

4)ток выходной цепи ЛЭ в состоянии Z (в 3^м состоянии, высокий импеданс) _{(для элем. с откр коллект-м) есть еще Iвых. утечки- для эл-ов с тремя сост.выхода. Кажд. элемент нах-ся в сост Z}

5)потребляемые токи в состоянии логического «0» и «1»:

Коэффициент нагрузочной способности (коэффициент разветвления по выходу)

(какое кол-во вх. аналог. эл-ов. может покл. к выходу)

Коэффициент объединения по входу определяет количество входов ЛЭ

Коэффициент объединения по выходу . Некоторые элементы допускают объединение по выходу, но их количество ограничено, т.к. при увеличении количество объединенных выходов, увеличивается емкость узла, а значит ухудшаются свойства

Потребляемая мощность

Напряжение питания

II ) Динамические (в процессе переключения)

1)времена задержек распространения

2)работа переключения:

III ) Параметры надежности

1)интенсивность отказов (10^-8-10^-9 1/ч), где N - число микросхем, поставленных на испытания, t – время испытаний, n – число ИМС, вышедших из строя

2)время наработки на отказ

3)вероятность безотказной работы