Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
РПЗ .doc
Скачиваний:
7
Добавлен:
03.12.2018
Размер:
413.7 Кб
Скачать

4 Расчет межповерочного интервала для микроскопов сканирующих зондовых атомно-силовых solver pro47h.

Межповерочный интервал рассчитывается по интенсивности отказов(λt).

Для однородной группы микроскопов сканирующих зондовых атомно-силовых SOLVER PRO47H (Nt = 10 шт.) необходимо назначить межповерочный интервал t1. Допускаемая вероятность безотказной работы Pдоп = 0,95. Известно, что интенсивность отказов аналогичных средств измерений, установленная при испытаниях λt = 1/12 (1/ год)

t1= доп

где t1 – первый межповерочный интервал;

λt – интенсивность отказов;

Pдоп – допускаемая вероятность безотказной работы

t1 = – 12 ln 0,95 = 12×0,05 = 0,6

Т.к λt имела для приведенного расчета ориентировочное значение, примем t1 равным 1 году. По истечении установленного срока (1 год) все микроскопы «однородной» группы измерений были подвергнуты поверке. Причем из 10 штук было забраковано 1 штука, т.е Nt=30; nt=3. Тогда статистическое значение будет равным:

Pt = =0,9

Определяем необходимость корректировки межповерочного интервала t:

доп ­–1,28

Где Ptстатистическое значение вероятности безотказной работы.

Согласно этой формуле, получим :

0,90 ≤ Pt ≤ 1,00

Статистическое значение входит в пределы полученных границ, значит первый межповерочный интервал был взят верно и не нуждается в коррекции, поэтому t1 будет равен 1 году.

Заключение

В данной курсовой работе была разработан порядок утверждения типа микроскопов сканирующих зондовых атомно-силовых SOLVER PRO47H. Был установлен необходимый и достаточный состав показателей микроскопа, предназначенный для подтверждения типа СИ. Была разработана методика испытаний с целью подтверждения типа средства измерения.

Список использованных источников

1 В.М.Корнеева, Методические указания к выполнению курсовой работы по курсу «Метрология, стандартизация и сертификация».

2 ГОСТ Р 8.635-2007 «Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика калибровки»

3 ГОСТ 8.593-2009 «Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки»

4 ГОСТ 8.591-2009 «Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов»

5 Материалы сайта http://www.ntmdt.ru/

Приложение а

ЗАЯВКА

НА ПРОВЕДЕНИЕ ИСПЫТАНИЙ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ

ДЛЯ ЦЕЛЕЙ УТВЕРЖДЕНИЯ ТИПА

NN

п/п

Средства измерений, их наименования, обозначение и основные метрологические характеристики

Наименование заявителя

Место и сроки проведения испытаний

1

Микроскоп сканирующий зондовый атомно-силовой SOLVER PRO47H

ЗАО «Нанотех»

ФГУ «Испытцентр»,

1.12.2011 – 15. 12.2011.

Заявитель обязуется оплатить расходы по проведению испытаний,

рассмотрению их материалов и осуществлению других услуг, связанных

с испытаниями и утверждением типа средств измерений в соответствии

с условиями заключенных договоров.

Руководитель предприятия И.И. Иванов

(подпись)

Главный бухгалтер П.П. Петров

(подпись)

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]