- •4. 1. Принцип получения стереоизображения.
- •Описание конструкции, основные части:
- •5. Методические указания по выполнению лабораторной работы
- •Защита лабораторной работы.
- •Контрольные вопросы
- •1. Цель работы.
- •2. Оборудование и образцы для исследований.
- •3. Теоретическая часть.
- •4. Методические указания.
- •3.2. Устройство и принцип действия микроскопа «Вертиваль»
- •Приложение 1 (Титульный лист)
- •Кафедра н-2 дисциплина - физические основы измерений
- •Приложение 2
- •2.1. Интерференция света.
- •2.2. Устройство микроинтерферометра мии-4
- •2.3. Проведение измерений.
- •3. Практическая часть.
- •3. 1.Объекты для исследования.
- •3.2. Проведение исследований.
- •5. Вопросы к лабораторной работе.
- •Приложение 1 (Титульный лист)
- •Кафедра н-2 дисциплина - физические основы измерений
- •6. Подготовка к работе
- •7. Порядок проведения эксперимента
- •Контрольные вопросы
- •Приложение 1 (Титульный лист)
- •Кафедра н-2 дисциплина - физические основы измерений
- •Приложение 2
3.2. Проведение исследований.
3.2.1. Пластину БИС положите рабочей стороной на предметный столик 29 (см. рис.2.2.в) Включите осветитель 28.
Установку исследуемого участка измеряемой поверхности по отношению к объективу 6 (см. рис.2.2.а) можно выполнять либо перемещением делали на столике 29, либо сообщением тому же столику продольного и поперечного перемещений посредством микрометрических отсчетных устройств 19. Перекройте пучок лучей, идущий к объективу 10 (см. рис.2.2), с помощью головки 22, повернув ее по часовой стрелке до упора. С помощью микрометрической головки 23, управляющей вертикальным перемещением всей оптической системы, сфокусируйте объект, т.е. получите резкое изображение объекта в поле зрения окулярного микрометра, надетого на тубус 26. Внимание! Перемещение головки нужно осуществлять в очень небольших пределах. Необходимое освещение и глубину резкости изображения регулируют с помощью апертурной диафрагмы 30. После этого поворотом головки 22 включите горизонтальную ветвь прибора и получите изображение исследуемой поверхности и системы интерференционных полос на ней. Поворотом головки 21 вокруг своей оси и поворотом головки 21 вокруг оси механизма 20 расположите полосы нужной Вам ширины перпендикулярно структурам объекта.


3.2.2. Проведите измерение параметров максимальной глубины рельефа объекта в 3-4 точках, вычислите значение глубины, результаты занесите в табл.1 . Зарисуйте вид интерференционных полос.
Табл.1 .
|
Объект |
Вид интерференционной картины |
Номер измерения |
А |
В |
h |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
Установите любой из светофильтров (расположены перед апертурной диафрагмой) и сравните интерференционные картины объекта при белом и монохроматическом свете.
3.2.3.Переверните исследуемый объект (положите его обратной стороной к объективу), сфокусируйте на систему интерференционных полос и зарисуйте их.
3.2.4. Установите на столик вместо образца №1 образец №2 обратной стороной пластины и сфокусируйте изображение. Зарисуйте вид интерференционных полос на химически обработанном кремнии и сравните их с видом полированного кремния.
3.2.5..Установите образец №3 и повторите п.3.2.1., 3.2.2.
5. Вопросы к лабораторной работе.
-
Что такое явление интерференции?
-
Рассмотрите явление интерференции на двойной щели.
-
Изобразите схему интерферометра Майкельсона.
-
Какому условию должны отвечать источники света для получения интерференционной картины?
-
Что такое разность фаз и как она связана с разностью хода.
-
Совпадает ли оптическая длина пути с геометрической?
-
От чего зависит ширина интерференционных полос.
-
Назначение светофильтров в интерференционных приборах.
-
Назначение компенсационной пластины, установленной в ветви сравнения.
-
Какие последствия негативного характера влечет за собой неравенство ветвей интерферометра.
-
Как можно изменить ширину интерференционных полос?
