 
        
        3
.docМИНОБРНАУКИ РОССИИ
Санкт-Петербургский государственный
электротехнический университет
«ЛЭТИ» им. В.И. Ульянова (Ленина)
Кафедра ИИСТ
отчет
по лабораторной работе №3
по дисциплине «Метрология»
Тема: Цифровые измерительные приборы
Студентка гр. 5692 Иванова В.Ю.
Преподаватель Комаров Б. Г.
Санкт-Петербург
2017
Цель работы: изучение методов экспериментального определения метрологических характеристик цифровых приборов, а также их применения для измерения физ. величин и оценка погрешностей результатов измерений.
Задание
- 
Ознакомиться с инструкцией по применению исследуемого цифрового измерительного прибора ЦИП. 
- 
Определить шаг квантования (квант) исследуемого ЦИП в режиме омметра для различных (по указанию преподавателя) пределов измерения. 
- 
Экспериментально определить следующие метрологические характеристики цифрового измерительного прибора в режиме омметра: 
- 
статическую характеристику преобразования; построить график зависимости показания RП прибора от значений R измеряемых сопротивлений RП = F(R); 
- 
погрешности квантования для начального участка статической характеристики преобразования; построить график погрешности квантования; 
- 
инструментальную погрешность по всему диапазону измерений для выбранного предела измерений; построить график инструментальной погрешности, определить аддитивную и мультипликативные составляющие инструментальной погрешности. 
- 
Измерить сопротивления ряда резисторов и оценить основную погрешность результатов измерения. 
Спецификация
приборов.
	 
	Таблица
	1.
| Наименование средства измерения | Класс точности | Диапазон измерений, постоянные СИ | Параметры входа (выхода) | Рабочий диапазон частот | 
| Вольтметр универсальный цифровой GDM-8135 (измерение сопротивления) | 0.002Rизм+1ед.мл.разр. 0.005Rизм+1ед.мл.разр. | 200 Ом- 2МОм 20МОм | IR<1мА IR<0,1мкА | - | 
| Магазин сопротивлений P33 | 0,05 | 0,1…9999,9Ом | - | - | 
Протокол измерений и обработка результатов.
	 
	Таблица
	2.
| № | RП, Ом | R, Ом | ΔR, Ом | 
| 1 | 1 | 1,36 | -0,36 | 
| 2 | 2 | 2,33 | -0,33 | 
| 3 | 3 | 3,34 | -0,34 | 
| 4 | 4 | 4,35 | -0,35 | 
| 5 | 5 | 5,38 | -0,38 | 
| 6 | 6 | 6,4 | -0,40 | 
| 7 | 7 | 7,37 | -0,37 | 
| 8 | 8 | 8,42 | -0,42 | 
| 9 | 9 | 9,45 | -0,45 | 
Приведу пример измерения:

Построю график зависимости показания Rn прибора от значений R измеряемых сопротивлений Rn = F(R).
	 
	Рис 1.
График погрешности квантования
Рис.2
Построю график зависимости абсолютной основной погрешности от значений R измеряемых сопротивлений Rn:

	 
	Рис
	3.
	 
	Таблица
	3.
| № | RПN, Ом | RN, Ом | RиN, Ом | 
| 1 | 200 | 199 | 0,99 | 
| 2 | 400 | 399 | 0,99 | 
| 3 | 600 | 599 | 0,99 | 
| 4 | 800 | 799 | 0,99 | 
| 5 | 1000 | 998 | 1,99 | 
| 6 | 1200 | 1198 | 1,99 | 
| 7 | 1400 | 1398 | 1,99 | 
| 8 | 1600 | 1598 | 1,99 | 
| 9 | 1800 | 1798 | 1,99 | 
| 10 | 2000 | 1997 | 2,99 | 
Абсолютная инструментальная погрешность считается по формуле:

Приведу пример вычисления:

П
	 
	Рис
	4.

Вычислю абсолютную погрешность измерения.
Для
сопротивления погрешность измерения
равна 
 0,5%
0,5%
	 
	Таблица
	4.
| № резистора | Диапазон измерения: | Значение кванта для диапазона измерения, Ом: | Показания ЦИП R, кОм: | Абсолютная погрешность измерения R, кОм: | Относительная погрешность измерения, %: | Результат измерения R ± R, кОм: | 
| 1 | 20 | 10 | 9,95 | 0,1199 | 1,20 | 9,95±1,20 | 
| 2 | 200 | 100 | 9,9 | 0,1198 | 1,21 | 9,90±1,21 | 
| 3 | 2000 | 1000 | 9 | 0,1180 | 1,31 | 9,00±1,31 | 
Приведу пример вычислений:
Абсолютная погрешность измерения равна:

Относительная погрешность измерения равна:

Определение аддитивной и мультипликативной составляющих погрешности
Обычно
для ЦИП погрешность задается в виде
модели 

Построю
график зависимости 
 для
выбранного диапазона ЦИП :
для
выбранного диапазона ЦИП :
В озьму
точки: (199;0,99) и (998;1,99) и по ним построим
прямую:
озьму
точки: (199;0,99) и (998;1,99) и по ним построим
прямую:
Рис 5.
| Аддитивная погрешность | Мультипликативная погрешность | 
| a=-0,10 Ом | bx=-0,0001x | 
Вывод:
В
ходе лабораторной работы я экспериментально
определила статическую характеристику
преобразования (реального ЦИП) и
определила абсолютную основную
погрешность ЦИП. На основе зависимости
 определила, что аддитивная погрешность
не зависит от значения измеряемой
величины, мультипликативные растут с
увеличением.
определила, что аддитивная погрешность
не зависит от значения измеряемой
величины, мультипликативные растут с
увеличением. 
Из полученных результатов обработки следует, что погрешность прямо пропорциональна увеличению диапазона измерения. Следовательно, значения лучше снимать в диапазоне как можно ближе к значению величины, т.е. начиная с наименьшего.
		 
		
