Скачиваний:
238
Добавлен:
27.12.2017
Размер:
343.04 Кб
Скачать

МИНОБРНАУКИ РОССИИ

Санкт-Петербургский государственный

электротехнический университет

«ЛЭТИ» им. В.И. Ульянова (Ленина)

Кафедра ИИСТ

отчет

по лабораторной работе №3

по дисциплине «Метрология»

Тема: Цифровые измерительные приборы

Студентка гр. 5692 Иванова В.Ю.

Преподаватель Комаров Б. Г.

Санкт-Петербург

2017

Цель работы: изучение методов экспериментального определения метрологических характеристик цифровых приборов, а также их применения для измерения физ. величин и оценка погрешностей результатов измерений.

Задание

  1. Ознакомиться с инструкцией по применению исследуемого цифрового измерительного прибора ЦИП.

  2. Определить шаг квантования (квант) исследуемого ЦИП в режиме омметра для различных (по указанию преподавателя) пределов измерения.

  3. Экспериментально определить следующие метрологические характеристики цифрового измерительного прибора в режиме омметра:

  • статическую характеристику преобразования; построить график зависимости показания RП прибора от значений R измеряемых сопротивлений RП = F(R);

  • погрешности квантования для начального участка статической характеристики преобразования; построить график погрешности квантования;

  • инструментальную погрешность по всему диапазону измерений для выбранного предела измерений; построить график инструментальной погрешности, определить аддитивную и мультипликативные составляющие инструментальной погрешности.

  1. Измерить сопротивления ряда резисторов и оценить основную погрешность результатов измерения.

Спецификация приборов.

Таблица 1.

Наименование

средства измерения

Класс точности

Диапазон измерений, постоянные СИ

Параметры входа (выхода)

Рабочий диапазон частот

Вольтметр универсальный цифровой

GDM-8135

(измерение сопротивления)

0.002Rизм+1ед.мл.разр.

0.005Rизм+1ед.мл.разр.

200 Ом- 2МОм

20МОм

IR<1мА

IR<0,1мкА

-

Магазин сопротивлений P33

0,05

0,1…9999,9Ом

-

-

Протокол измерений и обработка результатов.

Таблица 2.

RП, Ом

R, Ом

ΔR, Ом

1

1

1,36

-0,36

2

2

2,33

-0,33

3

3

3,34

-0,34

4

4

4,35

-0,35

5

5

5,38

-0,38

6

6

6,4

-0,40

7

7

7,37

-0,37

8

8

8,42

-0,42

9

9

9,45

-0,45

Приведу пример измерения:

Построю график зависимости показания Rn прибора от значений R измеряемых сопротивлений Rn = F(R).

Рис 1.

График погрешности квантования

Рис.2

Построю график зависимости абсолютной основной погрешности от значений R измеряемых сопротивлений Rn:

Рис 3.

Таблица 3.

RПN, Ом

RN, Ом

RиN, Ом

1

200

199

0,99

2

400

399

0,99

3

600

599

0,99

4

800

799

0,99

5

1000

998

1,99

6

1200

1198

1,99

7

1400

1398

1,99

8

1600

1598

1,99

9

1800

1798

1,99

10

2000

1997

2,99

Абсолютная инструментальная погрешность считается по формуле:

Приведу пример вычисления:

П

Рис 4.

острою график зависимости абсолютной инструментальной погрешности ∆RиN от измеряемых сопротивлений Rn.

Вычислю абсолютную погрешность измерения.

Для сопротивления погрешность измерения равна 0,5%

Таблица 4.

резистора

Диапазон измерения:

Значение кванта для диапазона измерения,

Ом:

Показания ЦИП R, кОм:

Абсолютная погрешность измерения R, кОм:

Относительная погрешность измерения,

%:

Результат измерения R ± R,

кОм:

1

20

10

9,95

0,1199

1,20

9,95±1,20

2

200

100

9,9

0,1198

1,21

9,90±1,21

3

2000

1000

9

0,1180

1,31

9,00±1,31

Приведу пример вычислений:

Абсолютная погрешность измерения равна:

Относительная погрешность измерения равна:

Определение аддитивной и мультипликативной составляющих погрешности

Обычно для ЦИП погрешность задается в виде модели

Построю график зависимости для выбранного диапазона ЦИП :

ВГруппа 2озьму точки: (199;0,99) и (998;1,99) и по ним построим прямую:

Рис 5.

Аддитивная погрешность

Мультипликативная погрешность

a=-0,10 Ом

bx=-0,0001x

Вывод:

В ходе лабораторной работы я экспериментально определила статическую характеристику преобразования (реального ЦИП) и определила абсолютную основную погрешность ЦИП. На основе зависимости определила, что аддитивная погрешность не зависит от значения измеряемой величины, мультипликативные растут с увеличением.

Из полученных результатов обработки следует, что погрешность прямо пропорциональна увеличению диапазона измерения. Следовательно, значения лучше снимать в диапазоне как можно ближе к значению величины, т.е. начиная с наименьшего.

9

Соседние файлы в предмете Метрология, стандартизация и сертификация