31. Иммерсионная микроскопия.Числовая апертура.Апертурный угол.Ход лучей.

Разрешающую способность микроскопа можно несколько повысить,используя объектив с иммерсией.В этом случае пространство между покровным стеклом и фронтальной линзой объектива заполняется средой с показателем преломления близким к показателю преломления покровного стекла.Объективы с иммерсией называют иммерсионными,а без неё-сухими.Хорошей иммерсионной средой является кедровое масло.Показатель преломления кедрового масла практически совпадает со значением показателя преломления стекла.Иммерсия увеличивает угол раскрытия,а значит и разрешающую способность микроскопа A=n*Sin(u/2).Обычно произведение показателя преломления на синус аппертурного угла называют числовой апертурой.

32. Ультрафиолетовая микроскопия. Особенности, приемущества, недостатки.

Ультрафиолетовая микроскопия основана на способности некоторых веществ, входящих в состав живых клеток, микроорганизмов или фиксированных, но не окрашенных, прозрачных в видимом свете тканей, поглощать УФ-излучение с определенной длиной волн (400—250 нм). Этим свойством обладают высокомолекулярные соединения, такие как нуклеиновые кислоты, белки, ароматические кислоты (тирозин, триптофан, метилалании), пуриновые и пирамидиновые основания и др. С помощью ультрафиолетовой микроскопии уточняют локализацию и количество указанных веществ, а в случае исследования живых объектов — их изменения в процессе жизнедеятельности.

33. Электронная микроскопия. Структура электронного микроскопа, строение магнитных линз. Предел разрешения электронного микроскопа. Факторы влияющие на предел разрешения микроскопа. Почему замена пучка света на поток электронов дает возможность резко увеличить разрешающую способность микроскопа?

Электро́нный микроско́п (ЭМ) — прибор, позволяющий получать изображение объектов с максимальным увеличением до 10⁶ раз, благодаря использованию, в отличие от оптического микроскопа, вместо светового потока пучка электронов с энергиями 200 В ÷ 400  кэВ и более (например,просвечивающие электронные микроскопы высокого разрешения с ускоряющим напряжением 1 МВ). Разрешающая способность электронного микроскопа в 1000÷10000 раз превосходит разрешение светового микроскопа и для лучших современных приборов может быть меньше одного ангстрема. Для получения изображения в электронном микроскопе используются специальные магнитные линзы, управляющие движением электронов в колонне прибора при помощи магнитного поля.

ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ, совокупность электронно-зондовых методов исследования микроструктуры твердых тел, их локального состава и микрополей (электрических, магнитных и др.) с помощью электронных микроскопов (ЭМ) - приборов, в к-рых для получения увелич. изображений используют электронный пучок.

Очень распространены объекты,структурные элементы которых имеют размеры несколько десятков ангстрем,что значительно меньше разрешающей способности обычного светового микроскопа.Изучение таких ультраструктур возможно с помощью электронного микроскопа,обладающего большей разрешающей способностью,чем обычный световой микроскоп.В основе использования электронного микроскопа лежит использование волновых свойств электронов и возможность их фокусировки.Любой движущейся частице,в том числе и электрону,присущи волновые свойства(преломление,отражение,дифракция и интерфернция).Для свободного движения электронов необходимо создание магнитного поля.Магнитное поле позволяет фокусировать электронные лучи и получать равные по величине электронные изображения предметов.Магнитную линзу можно сделать и увеличивающей.Для этого пользуются сильным неоднородным магнитным полем,полученного от короткого соленоида с током,имеющего большое число витков.Большим увеличением обладает панцирная магнитная линза с полюсными наконечниками.Представляет собой соленоид,находящийся внутри двух железных цилиндров,внутреннего и наружного,соединённых железными основаниями.Создаётся увеличение в 20000 раз.Электронный микроскоп состоит из оптической системы,вакуумной установки,установки электрического питания и пульта управления.Ход лучей:Источник освещения-конденсорная линза-объект микроскопического исследования-объективная линза-промежуточное изображение объекта-проекционная линза-увеличение участка промежуточного изображения.ла разработана Аббе.Если в качестве объекта использовать дифракционную решётку,а еёизображение бесполезное увеличение.Предель

2.10 Метод тёмного поля.Ультрамикроскопия.УФ-микроскопия и её преимущества.

Обширную группу микрокопирования составляют объекты,содержащие структурные элементы размерами порядка нескольких сотен ангстрем,что существенно меньше предела разрешающей способности обычного светового микроскопа со светлым полем.Примерами могут являться пылинки в воздухе,совокупность твёрдых частиц в жидкости.Таким образом они воспринимаются как визуально,так и спомощью обычного светового микроскопа как однородные.Для обнаружения таких частиц используют обычный микроскоп,в котором осуществляется принцип тёмного поля.В основе этого метода лежит рассеивание света на ультрамалых частицах.Используют специальные конденсоры,затемнённые в центре,которые приспособлены для бокового освещения объекта.Принцип тёмного поля можно осуществить с помощью кружочка чёрной бумаги,вкладывая его между линзами обычного конденсора.Диаметр кружка должен быть такой,чтобы осталась не закрытой только незначительная перефирическая часть линзы.Таким оьразом прямые лучи устраняются,а лучи дифрагированные ультрамалыми частицами,сохраняются,что и позволяет их обнаружить.Существенный недостаток метода тёмного поля-невозможность изучения с его помощью структуры обнаруживаемых ультрамалых частиц.

2.11 Метод фазового контраста.

В настоящее время структуры неконтрастных объектов часто изучают с помощью обычного светового микроскопа,снабжённого фазовой приставкой.Этот метод,получивший название метода фазового контраста,позволяет изучить структуры неконтрастных объектов путём увеличения контраста получаемого изображения без непосредственного воздействия на сам объект.При встрече света с любой неоднородностью,в частности с бактерией,происходят два явления изменения фаз колебаний световых волн и их дифракция.Происходит воздействие на основные и добавочные волны.Для этого используются пластинки различных конструкций.Они называются фазовыми.Такие фазовые пластинки устанавливаются в фокальной плоскости объектива микроскопа,то есть практически вплотную к объективу.Сущность метода сводится к созданию контраста интенсивностей в окончательном изображении неконтрастного объекта,путём воздействия на его первичное изображение.С помощью этого метода возможно проводить наблюдение живых микроорганизмов-бактерий.