- •Определение периода кристаллической решетки методом дифракции электронов
- •Определение периода кристаллической решетки методом дифракции электронов
- •2 Оборудование:
- •3 Содержание работы
- •4 Теоретические сведения к работе
- •4.2 Эксперимент с двумя щелями
- •4.3 Дифракция электронов
- •4.4 Электронография
- •(Для программы «Открытая физика 2.6. Часть 2.»)
- •5.3 Методика и Порядок измерений
- •5.4 Измерения
- •5.5 Обработка результатов и оформление отчета:
- •6 Содержание отчёта
- •7 Контрольные вопросы
- •8 Список использованных источников
(Для программы «Открытая физика 2.6. Часть 2.»)
Чтобы увидеть дальнейшие пункты содержания данного раздела надо щелкать левой кнопкой мыши, установив ее маркер на кнопку со стрелкой вниз, расположенную в правом нижнем углу внутреннего окна.
Кнопки вверху картинки являются служебными. Предназначение каждой проявляется, когда маркер мыши располагается над нею в течение 1-2 секунд (без нажатия кнопок мыши). Очень важной является кнопка с двумя вертикальными чертами « çê», которая служит для остановки эксперимента, а рядом расположенные кнопки – для шага «uç» и продолжения «uu» работы.
Прочитав надписи во внутреннем окне, установите маркер мыши над надписью требуемой компьютерной модели и дважды коротко нажмите левую кнопку мыши.
Рисунок 13 Функциональная схема установки
5.3 Методика и Порядок измерений
Внимательно рассмотрите рисунок 13 и зарисуйте необходимое в свой конспект лабораторной работы.
Зацепите мышью движок реостата регулятора изменения периода дифракционной решётки фотокатода и установите его на максимум. Пронаблюдайте изменение дифракционной картины и изменения дифракционных максимумов.
Аналогичным образом пронаблюдайте изменение дифракционной картины при изменении скорости электронов.
Получите у преподавателя допуск для выполнения измерений.
5.4 Измерения
1. Нажмите мышью кнопку «Выбор» и, зацепив мышью движок регулятора периода решётки, установите значение d = 1,5·10−10 м.
2. Аналогичным образом установите первое значение скорости электронов, указанное в таблице 1 для вашей бригады.
3. Нажмите мышью кнопку «Старт» и наблюдайте движение электронов через одномерную модель дифракционной кристаллической решётки и их регистрацию на фотопластинке.
4. Определите по шкале, расположенной в правой части окна, координаты первых трёх максимумов интенсивности дифракционной картины и запишите эти значения в таблицу 1, аналогичную таблице 2 методических указаний.
5. Установите второе значение скорости для вашей бригады и повторите эти измерения ещё раз.
Таблица 1 Значения скорости электронов
(не перерисовывать)
Таблица 2 Результаты измерений и расчётов
V1 = м/с |
V2 = м/с | ||||||||
λ, м |
Xm1, см |
Xm2, см |
Xm3, см |
dэсред, м |
λ, м |
Xm1, см |
Xm2, см |
Xm3, см |
dэсред, м |
|
|
|
|
× |
|
|
|
|
× |
dэ, м |
|
|
|
|
dэ, м |
|
|
|
|
5.5 Обработка результатов и оформление отчета:
1. Рассчитайте для каждого значения xm по формуле (19) период дифракционной решётки dэ, запишите эти данные в таблицу1, аналогичную таблице 2 методических указаний и сравните полученное среднее значение с установочным.
2. Проведите оценку погрешности измерений
6 Содержание отчёта
7.1 Наименование работы.
7.2 Цель работы.
7.3 Описание используемого оборудования.
Схема динамической модели для лабораторной работы «Определение периода кристаллической решетки методом дифракции электронов» (Рисунок 13)
Таблица 1 Результаты измерений и расчётов (аналогичная таблице 2 методических указаний).
Расчёт для каждого значения xm по формуле (19) период дифракционной решётки dэ.
Сравнение полученного среднего значения с установочным. Оценка погрешности измерений.