Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

UMP_grif_UMO_MET_2014

.pdf
Скачиваний:
175
Добавлен:
16.03.2016
Размер:
527.85 Кб
Скачать

Знак «–» в формуле Рэлея соответствует интервалу возрастания напряженности магнитного поля H , знак «+» соответствует интервалу уменьшения H .

Пользуясь формулой Рэлея, определить потери на гистерезис

в кольцевом магнитопроводе

с площадью поперечного сечения

S 25 10 6 м2 и средней длиной силовой линии магнитной индук-

ции

l

75 10 3

м при воздействии на магнитопровод переменно-

 

ср

 

 

 

 

 

го магнитного поля частотой f

50 Гц и амплитудой напряженно-

сти

магнитного

поля Hm

20 А . Эмпирическая постоянная

 

 

 

м

 

 

м

200

 

.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

А

 

 

Решение. Потери на гистерезис за один цикл перемагничивания, отнесенные к единице объема магнитопровода, определяются площадью статической петли гистерезиса:

wг

Hm

B B dH

Hm

 

 

Hm

 

Hm2

H

 

 

 

0

нач

2

2 dH

 

Hm

 

 

 

 

 

Hm

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Hm

 

 

нач Hm

 

Hm2

H 2

 

 

 

 

 

 

 

0

2

dH

 

 

 

 

Hm

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

H

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

m 0 Hm2 H 2 dH

4

0 Hm3 .

 

 

 

 

 

 

 

 

Hm

 

 

 

 

 

 

3

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Тогда активная мощность, выделяющаяся в магнитопроводе за счет потерь на гистерезис при циклическом перемагничивании с частотой f :

Pг wгV f 34 0 Hm3 Slср f .

Подставляя числовые значения, получаем

Pг 34 4 3,14 10 7 200 203 25 10 6 75 10 3 50 251 10 6 Вт.

51

Задание 50. В магнитопроводе трансформатора, собранного из листов электротехнической стали толщиной h1 0,5 10 3 м, на частоте f 50 Гц при амплитуде индукции магнитного поля Bm1 0,8 Тл потери на вихревые токи составляют Pв1 2,4 Вт.

Определить потери на вихревые токи, если магнитопровод той же формы и тех же геометрических размеров будет собран из листов электротехнической стали той же марки толщиной h2 0,35 10 3 м.

Решение. Мощность, расходуемая на вихревые токи в единице массы, связана с толщиной листа h соотношением

 

B2

f 2h2

 

 

 

p 1,64

m

 

,

 

 

 

 

 

 

в

 

γ

 

 

 

 

 

 

 

 

где Bm – амплитуда индукции магнитного поля; f – частота;

h

толщина листа; – плотность

материала магнитопровода;

 

удельное электрическое сопротивление материала магнитопровода. При толщине листов h1 потери на вихревые токи определяются

выражением

 

B2

f 2h2M

 

Pв 1,64

m

1

 

1

 

,

 

γρ

1

 

 

 

 

 

где M – масса магнитопровода трансформатора.

При толщине листов h2 потери на вихревые токи определяются

выражением

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

B2

f 2h2M

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Pв2

 

1,64

 

m

2

.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

γρ

 

 

 

 

 

 

 

Тогда

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

P

 

 

1,64 B2

f

2h2M

1,64 B2 f

2h2M 1

 

h

2

 

 

в

2

 

 

m

 

 

2

 

 

 

 

 

m

1

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

2

,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Pв1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

h1

 

откуда

 

 

 

 

 

 

 

0,35 10 3 2

 

 

 

 

 

 

 

P

P

h2

 

2, 4

 

 

 

 

 

 

 

2

0,5 10 3 2

 

1,176 Вт.

 

 

 

 

 

в2

в1 h12

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

52

Задание 51. Магнитопровод из ферромагнетика с длиной средней линии lм 125 10 3 м имеет немагнитный зазор 10 3 м. На

магнитопроводе расположена обмотка с числом витков w 500. При протекании в обмотке тока силой I 0,2 А в зазоре создается

магнитная индукция Bδ 0,1 Тл. Определить магнитную проницаемость ферромагнетика.

Решение. В соответствии с законом полного тока

Hм lм Hδ wI ,

где Hм – напряженность магнитного поля в материале магнитопровода; Hδ – напряженность магнитного поля в зазоре.

Так как силовые линии магнитной индукции непрерывны, то индукция Bм магнитного поля в материале магнитопровода равна

индукции Bδ магнитного поля в зазоре: Bм Bδ.

 

 

Bδ

 

Поскольку B

 

0

H

м

и B

 

0

H

δ

, то

Bмlм

 

wI , от-

 

 

м

 

 

δ

 

 

 

0

 

 

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

куда получаем выражение для определения магнитной проницаемости ферромагнетика:

 

B l

 

0,1 125 10 3

 

 

 

 

 

м м

 

 

 

 

488.

0 wI Bδ

 

4 3.14 10 7 500 0,2 0,1 10 3

Задание 52. Требуется получить напряженность магнитного

3

А

 

 

2

 

 

поля H 10

м в соленоиде длиной l 20 10

 

м

и диаметром

D 5 10 2 м.

Найти

число ампер-витков I w,

необходимое для

этого соленоида, и разность потенциалов U , которую надо приложить к концам обмотки из медной проволоки диаметром d 0,5 10 3 м.

Решение. Напряженность магнитного поля в соленоиде опреде-

ляется выражением

H wI , откуда число ампер-витков

wI Hl 103 20 10 2

 

l

200

А виток.

53

Разность потенциалов U определяется

согласно

закону

Ома выражением U RI . Учитывая, что

R

l

, l Dw,

S

d

S

4

 

 

 

 

и wI Hl , выражение для нахождения разности потенциалов U ,

которую необходимо приложить к концам обмотки соленоида, запишется в виде

U 4Hdl2 D ,

где – удельное электрическое сопротивление меди.

Подставляя числовые значения, находим величину разности

потенциалов:

 

 

U

4 103 20 10 217 10 9 5 10 2

2,72 В.

0,5 10 3 2

 

 

Задание 53. Определить изменение индуктивности катушки, выполненной на кольцевом магнитопроводе из феррита марки

1000НМ, при напряженности магнитного поля H 10 Ам , если

в магнитопроводе сделать немагнитный зазор 0,01 10 3 м. Средний диаметр кольцевого магнитопровода Dср 40 10 3 м.

Решение. В соответствии с законом полного тока в отсутствие немагнитного зазора Hlср I w, а при наличии немагнитного зазора

Hмlм Hδ wI , где H – напряженность магнитного поля, созда-

ваемого током силой I , протекающим по обмотке катушки индуктивности с числом витков w; Hм – напряженность магнитного по-

ля в магнитопроводе; Hδ – напряженность магнитного поля в зазоре; lср Dср – длина средней силовой линии магнитного поля в магнитопроводе без зазора; lм – длина средней силовой линии

магнитного поля в материале магнитопровода с зазором; – длина немагнитного зазора.

54

, а это значит, что при наличии немагнитного зазора умень-

Тогда Hlср Hмlм Hδ , откуда H Hмlм Hδ .

lср lср

Учитывая, что напряженность Hδ магнитного поля в зазоре

связана с индукцией B магнитного поля соотношением Hδ B ,

0

выражение для напряженности магнитного поля, создаваемого током силой I, представим в виде

 

 

 

 

 

H

Hмlм

 

B

,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

l

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

l

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ср

 

 

 

 

0 ср

 

 

 

 

 

 

где 0 4 10

7

Гн

– магнитная постоянная.

 

 

 

 

 

 

м

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Так как при наличии в магнитопроводе немагнитного зазора

lср lм , то lм lср .

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

H

lср

B

 

 

 

 

 

 

H

 

 

B

Тогда H

 

l м

 

 

Hм

l м

 

 

 

 

.

 

l

 

 

 

l

 

 

 

ср

 

 

0 ср

 

 

 

 

 

 

ср

 

 

 

0 ср

Поскольку l , то H

H

м

 

B

.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

м

 

 

 

 

l

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0 ср

 

 

 

 

 

 

Таким образом, для магнитопровода с немагнитным зазором при каждом выбранном значении магнитной индукции B напряженность H внешнего магнитного поля возрастает на величину

B

0lср

шается магнитная индукция в материале магнитопровода при заданной напряженности магнитного поля, что приводит к снижению магнитной проницаемости магнитопровода.

Индуктивность катушки определяется выражением

L 0 w2 S , l

где – магнитная проницаемость материала магнитопровода; w

число витков; S – площадь поперечного сечения катушки; l – средняя длина силовой линии магнитной индукции внутри кольцевого магнитопровода.

55

Тогда

L

 

 

w2 S

 

 

 

 

 

w2 S 1

 

 

1

 

 

0 1

 

 

0

 

2

 

 

1

,

 

 

 

 

 

L2

 

 

l

 

 

 

 

l

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

где L1 – индуктивность катушки, выполненной на магнитопроводе без зазора; L2 – индуктивность катушки, выполненной на магнитопроводе с зазором; 1 – магнитная проницаемость магнитопровода без зазора; 2 – магнитная проницаемость магнитопровода с немагнитным зазором.

 

 

Определим магнитную проницаемость

 

B

 

магнитопро-

 

 

 

0 H

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

вода без зазора.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Из кривой намагничивания B f H

феррита марки 10000НМ

при

напряженности

магнитного

поля

H 10 А

определяем,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

м

 

B

 

что

индукция магнитного поля

B 0,22 Тл.

Тогда

 

 

0 H

 

 

0,22

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

17,516 103 .

 

 

 

 

 

 

 

 

 

4 3,14 10 7 10

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Определим значение напряженности магнитного поля в магни-

топроводе с зазором при магнитной индукции B 0,22 Тл:

 

 

 

H Hм

B

10

0,22 0,01 10 3

 

 

23,95

А

 

 

 

 

 

м .

 

 

0 Dср

4 3,14 10 7 3,14 40 10 3

 

Учитывая, что B 0 2 H , находим магнитную проницаемость2 магнитопровода с зазором:

2

 

B

 

 

 

 

0,22

 

7,314

103 .

0 H

4 3,14 10 7 23,95

 

 

 

 

 

L

 

 

 

17,516 103

 

Таким образом,

 

1

 

1

 

 

 

 

2,39

, то есть даже

L2

2

7,314 103

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

небольшой немагнитный промежуток (зазор) в магнитопроводе из ферромагнетика существенно снижает индуктивность катушки.

56

Задание 54. Найти концентрацию основных и неосновных носителей заряда в арсениде галлия GaAs, легированном донорной

примесью до концентрации NД 1017 см 3 .

Решение. В диапазоне рабочих температур все донорные атомы являются ионизированными, а равновесная концентрация nn свободных электронов с достаточной степенью точности

определяется концентрацией NД донорной примеси и не зависит от

температуры:

nn NД.

Тогда концентрация основных носителей заряда в арсениде галлия GaAs, легированном донорной примесью до концентрации NД 1017 см 3 , будет nn 1017 см 3 .

Концентрацию

pn

неосновных носителей заряда (дырок) мож-

но найти, используя закон действующих масс:

 

n2

 

 

1,1 107 2

1,21 10 3 см 3 ,

p

i

 

 

 

 

 

 

n

NД

 

 

1017

 

 

 

 

 

где ni 1,1 107 см 3 – собственная концентрация электронов в арсениде галлия [1].

Задание 55. Найти положение уровня Ферми EF в кремнии марки КЭФ 0,3/0,1 при температуре T 300 К.

Решение. Из маркировки монокристаллического кремния КЭФ 0,3/0,1 следует: кремний электронного типа проводимости, легированный фосфором, удельное электрическое сопротивление0,3 Ом см, диффузионная длина неосновных носителей заряда

Lp 0,1 мм.

В легированном полупроводнике n0 ni , и положение уровня Ферми EF можно определить по формуле

EF kT ln n0 . qe ni

57

Концентрацию n0 основных носителей заряда найдем, зная величину удельного электрического сопротивления 0,3 Ом см, как

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

n

 

 

1

 

,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

 

qe nρ

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где n

– подвижность электронов.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Для кремния при температуре T 300 К подвижность элект-

ронов

n 1500

см2

,

 

собственная

концентрация

носителей

В с

 

n 1,6 1010.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

i

Тогда положение уровня Ферми EF в кремнии марки КЭФ

 

0,3/0,1 при температуре T 300 К

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

E

kT ln

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

q

 

 

n

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

F

 

q

 

 

n

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

e

 

 

e

 

i

 

 

 

 

 

 

 

1,38 10 23 300

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

19

 

ln

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0,354 эВ.

 

1,6 10

 

 

 

 

19

1500

 

 

10

 

 

 

 

 

1,6 10

 

 

0,3 1,6 10

 

 

 

 

Задание 56. Найти удельное сопротивление n электронного

кремния Si с легирующей примесью

 

NД 1016 см 3 при темпера-

туре T 300 К.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Решение. Величину удельного сопротивления получим из со-

отношения

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

1

 

 

 

 

,

 

 

 

 

 

 

 

 

qe

nnn p pn

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где – удельная электрическая проводимость; qe

– заряд электро-

на;

n , p – подвижность электронов и дырок соответственно;

nn

– концентрация электронов в полупроводнике n -типа;

pn – кон-

центрация дырок в полупроводнике n -типа.

58

При температуре T 300 К все донорные атомы являются ио-

низированными, собственной концентрацией свободных носителей заряда можно пренебречь, а условием электрической нейтральности будет nn NД.

Тогда

 

 

 

1

 

 

 

 

n

.

 

 

 

 

 

 

 

 

qe n NД

Для кремния при температуре T 300 К подвижность электро-

нов n 1500

см2

.

 

 

 

В с

 

 

 

 

 

 

 

 

Подставляя числовые значения, находим величину удельного

сопротивления n

 

электронного кремния Si с легирующей приме-

сью NД 1016 см 3

при температуре T 300 К:

n

 

1

 

0,417 Ом см.

1,6 10 19 1500 1016

 

 

 

 

Задание 57. Рассчитать собственное удельное сопротивление i монокристалла арсенида галлия GaAs при температуре

T 300 К.

Решение. Величина собственного удельного сопротивления полупроводника находится по формуле

 

1

1

 

i

 

 

 

,

 

qeni n p

где ni – собственная концентрация электронов.

Для арсенида галлия при температуре T 300 К собственная

концентрация n 1,1 107

см 3 ,

подвижность электронов

n

 

 

 

i

 

 

 

 

 

8500

см2

, подвижность дырок

p 400

см2

. Тогда собственное

В с

В с

 

 

 

 

 

 

 

удельное сопротивление монокристалла арсенида галлия GaAs при температуре T 300 К

i

 

 

 

1

6,38

107

Ом см.

1,6

10 19

1,1 107 8500 400

 

 

 

 

59

Задание 58. Определить собственную концентрацию носителей заряда в кремнии при температуре T 300 К, если ширина запре-

щенной зоны кремния Eg 1,12 эВ, а эффективные массы дырок валентной зоны и электронов зоны проводимости соответственно равны m*p 0,56me и mn* 1,05me .

Решение. Собственная концентрация носителей заряда в полупроводнике определяется выражением

ni 2 Nc N exp Eg ,2kT

где Nc – эффективная плотность энергетических уровней электронов в зоне проводимости; N – эффективная плотность энергетиче-

ских уровней дырок в валентной зоне.

Эффективная плотность N энергетических уровней дырок в валентной зоне и эффективная плотность Nc энергетических уровней электронов в зоне проводимости определяются выражениями

 

 

 

 

3

 

 

 

 

 

 

 

3

 

 

m*pkT 2

 

 

 

m*kT

2

N

 

 

 

 

 

,

N

c

 

n

 

 

,

 

 

 

 

 

 

2

2

 

 

 

2

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где 1,05 10 34 Дж с – постоянная Планка, деленная на 2 . Подставляя числовые значения, находим

 

 

 

 

 

 

 

3

 

0,56 9,1 10 31 1,38 10 23

300

2

 

 

 

5,319 1024

м 3 ;

N

2 3,14 1,05 10

34

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

3

 

1,05 9,1 10 34 1,38 10 23

300

2

 

 

 

13,66 1024

м 3 .

Nc

 

 

 

 

 

 

2 3,14 1,05 10

34

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Тогда собственная концентрация носителей заряда в кремнии

при температуре T 300 К

 

 

 

 

 

 

ni 2 13,66 1024 5,319 1024

 

 

1,12

 

 

6,66 1015 м 3.

exp

 

 

 

 

2 8,617 10 5

300

 

 

 

 

 

60

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]