
Аналоговая электроника
.pdf3.Манаев Е.И. Основы радиоэлектроники. М.: Радио и связь, 1990 г.
4.Электротехника и электроника: Учебник для вузов. В 3-х кн. Кн. 1.
Электрические и магнитные цепи, Под ред. В.Г. Герасимова. – М. Энерго-
атомиздат, 1998 г.
21
2.Полупроводниковые диоды и их характеристики
2.1.Теоретическая часть
2.1.1.Основные сведения о p–n переходе
Электронно-дырочный p n переход является основным элементом большинства полупроводниковых приборов. Он представляет собой пере-
ходный слой между двумя областями полупроводника, одна из которых
имеет электронную, а другая дырочную электропроводность.
Рассмотрим процесс образования p n перехода при отсутствии
внешнего напряжения (равновесное состояние). Напомним, что в p об-
ласти имеются два вида основных носителей заряда: неподвижные отрица-
тельно заряженные ионы атомов акцепторной примеси и свободные, поло-
жительно заряженные дырки. В n области также имеются два вида основ-
ных носителей заряда: неподвижные положительно заряженные ионы ато-
мов донорной примеси и свободные, отрицательно заряженные электроны.
До соприкосновения p и n областей все вышеперечисленные носители за-
рядов распределены равномерно. При контакте, на границе p и n областей возникает градиент концентрации свободных носителей заряда и диффу-
зия. В процессе диффузии электроны (дырки) из n p области переходят в p n область и там рекомбинируют с дырками (электронами). В ре-
зультате такого движения свободных носителей заряда их концентрация на границе раздела p и n областей убывает почти до нуля. В p области об-
разуется отрицательный пространственный заряд ионов акцепторной при-
меси, а в n области положительный пространственный заряд ионов до-
норной примеси. Между этими зарядами возникает контактная разность потенциалов k и электрическое поле Ek , которое препятствует диффузии свободных носителей заряда из глубины p и n областей через p n пере-
ход (см. рис. 1а). Область, объединённая свободными носителями заряда
22

со своим электрическим полем и называется электрическим p n перехо-
дом. Он характеризуется двумя основными параметрами.
Рис. 1. p n переход при отсутствии внешнего напряжения: а) – поперечное сечение; б) – зависимость концентрации основных носителей заряда от ширины p n перехода; в) – распределение потенциала по ширине p n–перехода
1. Высота потенциального барьера. Она определяется контактной
разностью потенциалов k (рис. 1в), обусловленной градиентом концен-
трации носителей заряда. k определяет энергию, которой должен обла-
дать свободный заряд, чтобы преодолеть потенциальный барьер, опреде-
ляемый соотношением:
|
|
|
kT |
|
N |
a |
N |
д |
|
kT |
pp |
|
|
pp |
, |
(1) |
|
k |
p n |
|
|
ln |
|
|
|
|
ln |
|
Т |
ln |
|
||||
e |
|
ni2 |
|
|
pn |
pn |
|||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
e |
|
|
|
|
||||||
где k |
- постоянная Больцмана; |
T |
- абсолютная температура; e |
- заряд |
электрона; Na и Nд - концентрации акцепторов и доноров в дырочной и
электронной областях соответственно; pp и pn - концентрации дырок в p
23

и n областях соответственно (см. рис. 1б); ni - собственная концентрация носителей заряда в нелегированном полупроводнике.
Величина Т kT называется тепловым потенциалом. Например, при e
температуре Т 27 С Т 25мВ.
Характерные значения контактной разности потенциалов составляют для германиевого перехода k 0,3 0,5 В , для кремниевого k 0,6 0,8 В.
На рис. 1в показано характерное распределение потенциала по ширине
p n перехода.
2. Ширина p n перехода. Она представляет собой приграничную
область, обеднённую свободными носителями заряда, которая располага-
ется в p и n областях (см. рис. 1а):
|
|
|
lp n |
lp |
|
ln , |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
(2) |
|||
где |
lp |
2 0 k |
|
1 |
|
|
; |
ln |
|
2 0 k |
|
|
1 |
. |
(3) |
|||||||
e |
|
Na |
|
|
e |
|
|
|
|
|||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Nд |
|
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Тогда |
|
|
|
|
|
|
|
|
2 0 k |
|
1 |
|
|
|
1 |
|
|
|
|
(4) |
||
|
|
lp n |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||||||
|
|
|
e |
|
Na |
|
|
|
|
|
|
|||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Nд |
|
|
|
|
Обычно ширина p n перехода имеет порядок 0,1 10 мкм.
Если Na Nд , то lp ln и в этом случае p n переход называется симметричным. Если Na Nд , то ln lp и p n переход называется несим-
метричным, причём он в основном располагается в высокоомной n–
области полупроводника с меньшей (по сравнению с p –областью) концен-
трацией примеси.
В равновесном состоянии через p n переход движутся два встреч-
ных потока зарядов (протекают два тока). Это дрейфовый ток jдр , обуслов-
ленный неосновными носителями заряда и диффузионный ток jдиф , кото-
рый обусловлен основными носителями заряда. Так как внешнее напряже-
24

ние отсутствует, то эти токи взаимно уравновешиваются и результирую-
щий ток равен нулю:
j jдиф jдр 0. |
(5) |
Соотношение (5) называют условием динамического равновесия |
|
процессов диффузии и дрейфа в изолированном |
p n переходе. Оно вы- |
полняется только при определенном значении контактной разности потен-
циалов k , удовлетворяющей выражению (1).
Если к p n переходу подключить внешнее напряжение, то условие динамического равновесия токов (5) будет нарушено. В зависимости от
полярности напряжения, приложенного к p |
и n |
областям перехода, воз- |
|
можны два режима работы. |
|
|
|
1. Прямое смещение |
p n перехода. |
p n |
переход считается сме- |
щённым в прямом направлении, если положительный полюс внешнего ис-
точника питания подключен к p области, а отрицательный к n области
(см. рис. 2).
Рис. 2. p n переход при прямом смещении
В случае прямого смещения, внутреннее электрическое поле в пере-
ходе Ек направлено встречно электрическому полю создаваемому источ-
ником питания U . При этом результирующее напряжение на p n перехо-
де убывает до величины k U . Это приводит к тому, что напряженность
25
электрического поля также убывает и возобновляется процесс диффузии основных носителей заряда. Кроме того, при прямом смещении происхо-
дит уменьшение ширины p n перехода, так как, в соответствии с (4), lp n k U 12 . Ток диффузии, ток основных носителей заряда, в этом слу-
чае становится много больше дрейфового. Таким образом, через p n пе-
реход протекает прямой ток:
Ip n Iпр Iдиф Iдр Iдиф . |
(6) |
При протекании прямого тока основные носители заряда |
p области |
переходят в n область, где становятся неосновными. Диффузионный про-
цесс введения основных носителей заряда в область, где они становятся неосновными, называется инжекцией, а прямой ток – диффузионным то-
ком или током инжекции. Для компенсации неосновных носителей заряда,
накапливающихся в p и n областях во внешней цепи, возникает электрон-
ный ток от источника напряжения. То есть принцип электронейтральности сохраняется.
При увеличении напряжения U , ток резко возрастает и может дости-
гать больших величин, так как связан с основными носителями заряда,
концентрация которых велика. Ток через прямо смещенный p n переход
определяется соотношением:
|
|
|
U |
|
, |
(7) |
|
I |
пр I |
|
|
||||
|
|||||||
0еxp |
|
|
|||||
|
|
|
Т |
|
|
||
где I0 - тепловой ток, или ток насыщения. |
|
||||||
2. Обратное смещение |
p n перехода. |
p n переход считается сме- |
щённым в обратном направлении, если положительный полюс внешнего источника питания подключен к n области, а отрицательный к p области
(см. рис. 3).
26

При этом электрическое поле источника питания суммируется с внутренним полем перехода, что приводит к увеличению высоты потенци-
ального барьера до величины k U . Напряженность электрического поля
Рис. 3. p n переход при обратном смещении
также возрастает, и, так как в соответствии с (4) lp n k U 12 , то проис-
ходит увеличение ширины p n перехода. Процесс диффузии полностью прекращается и через p n переход протекает дрейфовый ток, ток неос-
новных носителей заряда. Такой ток называют обратным, а поскольку он связан с неосновными носителями заряда, которые возникают за счет тер-
могенерации, то его называют тепловым током и обозначают I0 т.е.:
Ip n Iобр Iдиф Iдр Iдр |
I0 . |
(8) |
Этот ток мал по величине I0 |
Iдиф , так как связан с неосновными |
носителями заряда, концентрация которых мала по сравнению с концен-
трацией основных носителей заряда. Таким образом, p n переход облада-
ет односторонней проводимостью.
При обратном смещении концентрация неосновных носителей заряда на границе перехода несколько снижается по сравнению с равновесной.
Это приводит к диффузии неосновных носителей заряда из глубины p и n
областей к границе p n перехода. Достигнув ее, неосновные носители за-
ряда попадают в сильное электрическое поле и переносятся через p n пе-
реход, где становятся основными носителями заряда. Данное явление, на-
27

зывается экстракцией. Экстракция и создает обратный ток p n перехода – ток неосновных носителей заряда. Величина обратного тока сильно зави-
сит: от температуры окружающей среды, а также материала полупровод-
ника.
Температурная зависимость обратного тока определяется формулой:
|
Т Т0 |
|
I0 Т |
I0 Т0 2 Т* , |
(9) |
где Т0 - номинальная температура, Т - фактическая температура, Т* - тем-
пература удвоения теплового тока:
Т |
* |
|
5 6 |
С, |
Si |
. |
|
|
|
|
|
С, |
Ge |
||
|
|
8 10 |
|
|
Тепловой ток кремниевого перехода много меньше теплового тока перехода на основе германия (на 3-4 порядка). Это связано с величиной k
(у кремния больше ширина запрещенной зоны, следовательно, меньшая концентрация неосновных носителей заряда при фактической температуре
Т ) материала.
Таким образом, мы установили, что главное свойство p n перехода
–это его односторонняя проводимость.
2.1.2.Вольт – амперная характеристика полупроводникового диода
Полупроводниковым диодом называется прибор с одним ходом, имеющий два омических вывода (см. рис. 4а). На рис. 4б приведено
условное графическое обозначение (УГО) полупроводникового диода для электрических схем. Одна из областей p n структуры p , называется эмиттером или анодом (данное название используется более часто), другая область n , называется базой или катодом.
28

а) б)
Рис. 4. Структура (а) и условное графическое обозначение (б) полупроводникового диода
На рис. 5 изображена статическая вольт – амперная характеристика
(ВАХ) полупроводникового диода. Здесь же пунктиром показана теорети-
ческая ВАХ электронно-дырочного перехода, определяемая формулой Шоттки:
I I0 еxp U Т 1 . |
(10) |
Рис. 5. ВАХ полупроводникового диода (штрихом изображена
теоретическая ВАХ)
29

Кремниевые диоды имеют существенно меньшее значение обратного тока по сравнению с германиевыми вследствие более низкой концентрации неосновных носителей заряда, поэтому обратная ветвь ВАХ у кремниевых диодов при данном масштабе практически сливается с осью абсцисс.
Одним из наиболее важных параметров является дифференциальное сопротивление диода, представляющее собой отношение приращения на-
пряжения на диоде к вызванному им приращению тока:
rдиф dU Т .
dI I
В том случае, когда обратное напряжение диода превышает опреде-
ленное критическое значение, наблюдается резкий рост обратного тока (рис. 6). Данное явление называется пробоем диода.
Пробой диода может возникнуть в двух случаях.
1. В результате действия сильного электрического поля в p n пере-
ходе. Такой пробой называется электрическим. Он может быть лавинным -
кривая 1, или туннельным - кривая 2 (см. рис. 6).
2. В результате разогрева p n перехода при протекании тока боль-
шого значения и при недостаточном отводе тепла (рис. 6 кривая 3). Такой пробой называется тепловым пробоем.
Рис. 6. Пробой полупроводникового диода
30