- •Барсуков в. А. Конспект лекций
- •Исторический очерк.
- •Виды поверхностей и размеров.
- •Интервалы номинальных размеров
- •Примеры изображения полей допусков
- •Квалитеты
- •Поля допусков
- •Предпочтительные поля допусков.
- •Посадки
- •Основные отклонения, принятые в системах iso и сэв
- •Предельные отклонения размеров с неуказанными допусками гост 25670 – 83
- •Поля допусков несопрягаемых размеров
- •Обозначение предельных отклонений и посадок на чертежах
- •Выбор посадок и области их применения
- •Расчёт и выбор посадок с зазором
- •Примерные области применения некоторых рекомендуемых посадок с зазором
- •Выбор посадок с натягом
- •Выбор переходных посадок
- •Лекция 8 Допуски и посадки подшипников качения: классы точности, поля допусков, обозначения на чертежах. Выбор посадок подшипников.
- •Классы точности подшипников
- •Лекция 9, 10 Отклонения формы и расположения поверхностей изделий. Система их нормирования и обозначения на чертежах
- •Ι. Отклонения формы
- •II. Отклонения расположения поверхностей
- •III. Суммарные допуски формы расположения
- •Зависимый и независимый допуск формы или расположения.
- •Чистовые значения отклонений формы и расположения (ст сэв 636 – 77)
- •Обозначение на чертежах допусков формы и расположения поверхностей.
- •Обозначение зависимых допусков
- •Лекция 11 Шероховатость поверхности. Система копирования и обозначения на чертежах. Волнистость поверхности.
- •Обозначение шероховатости на чертежах
- •Лекция 12 и 13
- •Лекция 14, 15, 16.
- •Лекция 17.
- •Лекция 18.
- •Лекция 19.
- •Лекция 20.
- •Лекция 21.
- •Лекция 22.
- •Лекция 23. Универсальные измерительные средства. Их классификация, основные метрологические показатели. Выбор форм контроля и измерительных средств.
- •А. Основная
- •В. Дополнительная
Поля допусков
Поле допусков в системах ISO и СЭВ образуется сочетанием одного из основных отклонений с допуском по одному из квалитетов.
В соответствии с этим правилом поле допуска обозначают буквой основного отклонения и номером квалитета: например, для отверстия Н6, D11; для вала h6, d11, u8.
Поле допуска начинается от горизонтальной линии, определяемой основным отклонением. Второе предельное отклонение, ограничивающее данное поле допуска, определяется по допуску принятого квалитета и основному отклонению.

0
0
















0
0
EI(ei) – основные отклонения ES(es) – основные отклонения
ES(es) = EI(ei) + Т EI(ei) = ES(es) + Т.
На практике второе отклонение определять не приходится ибо оба отклонения приведены в таблицах стандарта СЭЕ СТ СЭВ 144 – 75.
В этом стандарте приведены поля допусков и рекомендуемые посадки для диапазонов размеров менее 1 мм, 1 – 500 мм, 500 – 3150 мм.
Ряды полей допусков для размеров менее 1 мм характеризуется большим набором полей допусков и смещением их в сторону более точных квалитетов по сравнению с основными рядами полей допусков для размеров от 1 до 500 мм. Это отражает более высокие точностные требования в приборостроении.
Для размеров выше 500 до 3150 мм установлено сокращённое число полей допусков, они смещены в сторону более грубых квалитетов по сравнению с рядами полей допусков для размеров 1 – 500 мм.
Предпочтительные поля допусков.
В соответствии с рекомендацией ISO и практикой всех стран – членов СЭВ, в стандарте СТ СЭВ 144 – 75 из основных рядов полей допусков для размеров от 1 – 500 мм выделены предпочтительные поля допусков.
Они обеспечивают 90 – 95 % посадок общего применения.
Использование предпочтительных полей допусков способствует повышению уровня унификации изделий, сокращает номенклатуру размерных режущих инструментов и калибров, создаёт благоприятные условия для кооперирования и организации централизованного производства для всех стран-членов СЭВ стандартного режущего инструмента и калибров на специализированных предприятиях (продукция которых имеет повышенное качество и в 3 –5 раз дешевле продукции инструментальных цехов машиностроительных заводов).
Для размеров менее 1 мм и более 500 мм предпочтительные поля допусков не выделены, но в информационном приложении к СТ СЭВ 144 – 75 даны рекомендации по применению полей допусков в различных интервалах размеров менее 1 мм и рекомендуемые посадки во всех диапазонах размеров менее 1 мм, 1 – 500, 500 – 3150.
В отдельных технических обоснованных случаях может возникнуть необходимость в применении полей допусков, не вошедших в основные ряды.
С целью упорядочения выбора таких полей допусков и соответствующих им числовых значений предельных отклонений в СТ СЭВ 144 – 75 установлены дополнительные поля допусков и отверстий в приложение к стандарту.
Следует отметить, что предпочтительные поля допусков в таблицах стандарта заштрихованы встречной штриховкой, а их обозначения обведены жирной рамкой.
