MET[1] / контрольні / 29

КОМПЛЕКСНА КОНТРОЛЬНА РОБОТА

З ДИСЦИПЛІНИ «Матеріали електронної техніки»

для студентів спеціальності 7.05080202 «Електронні системи»

напряму підготовки 6.050802 «Електронні пристрої та системи»

Варіант 29.

1. Пояснити різницю між дефектами Шоткі і дефектами Френкеля.

2. Пояснити вплив розмірних ефектів на електричні властивості тонких металевих плівок.

3. Навести енергетичну діаграму виродженого напівпровідника.

4. Записати вираз для визначення поляризованості діелектрика.

5. Дати пояснення і навести схему розвитку негативного стримера.

6. Зобразити вид кривих охолодження для розрізів I і II діаграми стану системи Ge-Si.

Діаграма стану системи Ge-Si

Розглянуто на засіданні кафедри електронних систем

пр. № 1 від «28» серпня 2012 р.

Завідувач кафедри _________ проф. Опачко І. І.