
- •Глава 1
- •1.1. Агрегативный комплекс средств неразрушающего контроля. Условное обозначение приборов
- •1.2. Разрушающий и неразрушающий контроль
- •1.3. Классификация дефектов в сталях
- •Глава 2
- •2.1. Общие сведения о ферромагнетизме
- •2.2. Намагничивание вещества (материала)
- •1[100] – Вдоль ребра куба; 2[110] –вдоль диагонали грани; 3[111] – вдоль пространственной диагонали.
- •2.3. Намагничивание тела
- •Глава 3
- •3.1. Классификация магнитных методов контроля
- •3.2. Области применения магнитных методов контроля
- •3.1. Классификация магнитных методов контроля
- •3.3. Магнитные характеристики конструкционных сталей и чугунов
- •3.4. Магнитная дефектоскопия
- •3.4.1. Расчет магнитостатических полей рассеяния поверхностных дефектов
- •3.4.2. Анализ экспериментальных исследований по выявлению полей дефектов
- •Глава 4
- •4.1. Индукционные преобразователи
- •4.2. Пондеромоторные преобразователи
- •4.3. Феррозондовые преобразователи
- •4.4. Магниторезистивые преобразователи
- •4.5. Магнитные порошки как индикаторы магнитных полей
- •4.6. Магнитные ленты (магнитоносители) как промежуточные носители информации о магнитном рельефе
- •Глава 5
- •Глава 5
- •Глава 6
- •6.1. Виды, способы и схемы намагничивания при магнитопорошковом контроле.
- •6.1.1.Циркулярный вид намагничивания.
- •Определение необходимой силы тока при циркулярном намагничивании
- •6.1.2. Продольное (полюсное) намагничивание
- •6.1.3. Комбинированное намагничивание
- •6.1.4. Намагничивание во вращающемся магнитном поле
- •6.2. Выбор рода тока.
- •6.3. Размагничивание объекта контроля
- •6.3.1. Способы размагничивания
- •6.3.1. Оценка качества размагничивания объекта
- •6.4. Источники намагничивающих и размагничивающих полей
- •6.5. Методика магнитопорошкового контроля
- •Структурная схема дефектоскопа для мпд
- •6.6. Магнитные пасты и суспензии
- •6.7. Способы изготовления дефектограмм
- •6.8. Контрольные образцы для проверки качества порошков и
- •6.9. Особенности контроля флуоресцентным порошком.
- •6.10. Автоматические и полуавтоматические установки для мпд
- •6.11. Техника безопасности
- •7. Определение топографии и градиента магнитного поля дефекта
- •7.1. Градуировка ллм
- •8. Сущность магнитографического метода контроля
- •8.1. Требования к намагничивающим устройствам
- •8.2. Свойства магнитоносителя
- •8.3. Запись магнитного рельефа на ленту
- •8.4. Преобразование магнитного отпечатка в электрический сигнал.
- •8.5. Щелевая функция воспроизводящей головки
- •8.6. Форма выходного сигнала
- •8.7. Дефектоскопы для магнитографического контроля
- •8.8. Магнитографический контроль ферромагнитных объектов
- •8.9. Анализ суперпозиции полей, записываемых на магнитную ленту в процессе мгк стыковых сварных соединений
- •8.10. Поле выпуклости шва
- •8.11. Топография поля дефекта на поверхности соединения, выполненного сваркой плавлением
- •8.12. Суперпозиция полей, записываемых на магнитную ленту, в процессе магнитографического контроля
- •8.13. Отстройка от мешающих факторов в магнитной дефектоскопии. Повышение чувствительности и разрешающей способности метода
- •8.14. Устройства для магнитографического контроля различных объектов
- •Повышение селективности контроля
- •Обобщенная структурная схема индукционного дефектоскопа
- •Основные уравнения электромагнитных волн
- •Связь сигналов первичных преобразователей с параметрами объекта контроля Контроль цилиндрических изделий преобразователями с однородным полем
- •Определение эдс измерительной обмотки проходного втп с учетом параметров контролируемого цилиндра
- •Контроль труб и неферромагнитных биметаллических цилиндров
- •Контроль цилиндрических объектов проходными преобразователями с неоднородным полем
- •Дефектоскопия вихретоковыми методами. Решение этих задач.
- •Чувствительность проходных преобразователей к дефектам кругового цилиндра.
- •Чувствительность проходных преобразователей к дефектам трубы 210
- •Втп с импульсным возбуждением
- •Влияние скорости движения преобразователя относительно ок
- •Контролируемые параметры и мешающие факторы
- •1. Применение специальных конструкций преобразователей.
- •2. Двухпараметровые способы отстройки от мешающих факторов.
- •3. Способы стабилизации и вариации режима контроля
- •8. Остаточный ресурс работы ферромагнитного объекта
8.8. Магнитографический контроль ферромагнитных объектов
Согласно ГОСТ 25225-82, контролю магнитографическим методом подлежат объекты с толщиной стенки до 25 мм (при одностороннем подходе). Минимальная глубина обнаруживаемых дефектов составляет 2…5% от толщины при отсутствии выпуклости шва. При наличии валика шва в его корне могут быть обнаружены протяжные дефекты сплошности глубиной 8-10% и локальные 15-18%. Если в дефектоскопе отсутствует частотный анализатор сигналов, то глубина залегания дефекта не определяется. При этом ориентируются на дефект внутренней поверхности по отношению к магнитоносителю, поскольку вследствие наибольшей удаленности от ленты его выявляемость наихудшая. Если же дефект находится на меньшей глубине, то амплитуда сигнала, обусловленная им, будет больше и при контроле происходит перебраковка изделия.
8.9. Анализ суперпозиции полей, записываемых на магнитную ленту в процессе мгк стыковых сварных соединений
При намагничивании шва в поперечном направлении в процессе МГК стыковых сварных соединений на магнитную ленту в основном записывается суперпозиция магнитных полей следующих видов:тангенциальная составляющая внешнего (намагничивающего) поля, поля валика шва и поля дефекта:
.
Полями, обусловленными термическими и структурными неоднородностями, неоднородностями химического состава и поверхностными неровностями при контроле сварных соединений, выполненных автоматической сваркой под слоем флюса, в объектах из низкоуглеродистых и низколегированных сталей можно пренебречь.
Проанализируем каждое из указанных полей отдельно, а затем их суперпозицию в зависимости от размеров выпуклости шва и координат расположения дефектов.
8.10. Поле выпуклости шва
Расчет поля валика шва выполним для случая полубесконечного тела, чтобы исключить влияние внутренней поверхности изделия на величину поля валика.
Постановка задачи.
На поверхности полубесконечной плиты выполнен сварной шов. Высота выпуклости шва С, ширина В. Магнитные проницаемости материалов плиты и шва одинаковы. Объект, окруженный воздухом, намагничивается однородным постоянным магнитным полем, направленным перпендикулярно плоскости симметрии шва. Необходимо произвести расчет поля валика шва на поверхности сварного соединения.
Рис. Выбор системы координат при расчете поля выпуклости шва
Примем допущения, что поверхность выпуклости шва в плоскости перпендикулярной продольной оси шва хорошо описывается параболой. Введем прямоугольную систему координат Х, У,Z, как показано нарисунке.
Рис. Аппроксимация поверхности выпуклости шва
Высоту С усиления шва разделим на
равных частей плоскостями параллельными
поверхности плиты.
При достаточно большом nповерхность усиления шва с достаточно большой точностью можно аппроксимировать некоторой ломанной поверхностью АВСДЕ .... На ней криволинейные участки поверхности шва, заключенные между соседними параллельными горизонтальными плоскостями заменены плоскостями параллельными и перпендикулярными поверхности плиты.
Если внешнее поле направлено параллельно
поверхности плиты, то на всех плоскостях
ломаной поверхности перпендикулярных
,
возникнут «магнитные заряды». На
плоскостях, параллельных поверхности
плиты магнитные заряды от внешнего
магнитного поля не возникают, так как
поле направлено параллельно этим граням.
«Магнитные заряды» здесь возникают
только от вторичного поля заряженных
граней и настолько малы, что их действием
можно пренебречь. Если суммировать
напряженности магнитных полей,
обусловленных «магнитными зарядами»
всех граней, то можно определить
напряженность магнитного поля,
обусловленного выпуклостью шва, в
произвольной точке пространства, в том
числе у поверхности сварного соединения.
Суммирование легче производить попарно
от «магнитных зарядов», расположенных
на двух гранях между соседними
параллельными плоскостями. В этом случае
можно воспользоваться известными
формулами Зацепина- Щербинина для
расчета поля ленточного диполя, а при
достаточно большомn–линейного диполя.
Тангенциальная составляющая поля валика шва может быть определена из выражения:
,
где
-
линейная плотность магнитных зарядов.
Расчетный характер изменения тангенциальной составляющей поля валика шва на поверхности сварного соединения показан на рисунке:
Рис. Изменение тангенциальной составляющей поля выпуклости шва на поверхности сварного соединения:
С1, С2,С3– высота выпуклости шва.
Из рисунка видно, что тангенциальная
составляющая поля валика шва на всей
поверхности шва, за исключением участков
у его краев, направлена навстречу
внешнему полю, имеет вид U-образной
кривой, ветви которой направлены вверх,
а минимум расположен в плоскости
симметрии шва. На некотором расстоянии
от краев шва Нвалика шва меняет знак, а затем, по мере
удаления от краев, убывает, асимптотически
приближаясь к оси Х.
В местах перехода от края шва к основному
металлу в реальных сварных соединениях
имеется сопряжение по некоторому радиусу
r. В этих местах принятая
расчетная схема не соответствует
действительности. Поэтому на приведенных
выше графиках точки кривых, соответствующих,
исключены из рассмотрения.
Экспериментальную проверку полученных результатов производили с помощью ленточных локальных магнитоносителей, проградуированных в однородном магнитном поле соленоида. Тангенциальную составляющую поля валика шва определяли как разность тангенциальной составляющей результирующего поля на поверхности сварного соединения и тангенциальной составляющей внешнего поля на поверхности неферромагнитного образца - копира. Образец-копир изготавливали следующим образом. Вначале на поверхность плиты наносили раствор гипса, а после получения формы ее заполняли пластилином, который охлаждали до +3 °С. Полученный слепок использовали как образец – копир. Получено хорошее качественное совпадение результатов расчета и эксперимента.
=
-
Рис. Характер изменения тангенциальных составляющих поля выпуклости шва, результирующего поля и внешнего поля на поверхности сварного соединения