
- •Твердотельная электроника
- •1.1. Зонная структура полупроводников
- •1.2. Терминология и основные понятия
- •1.3. Статистика электронов и дырок в полупроводниках
- •1.3.1. Распределение квантовых состояний в зонах
- •1.3.2. Концентрация носителей заряда и положение уровня Ферми
- •1.4. Концентрация электронов и дырок в собственном полупроводнике
- •1.5. Концентрация электронов и дырок в примесном полупроводнике
- •1.6. Определение положения уровня Ферми
- •1.7. Проводимость полупроводников
- •1.8. Токи в полупроводниках
- •1.9. Неравновесные носители
- •1.10. Уравнение непрерывности
- •Задача 1.2
- •1) Вычислить скорость генерации, если область обеднена подвижными носителями заряда;
- •2) Вычислить скорость генерации в области, где только концентрация неосновных носителей заряда снижена по сравнению с равновесным значением.
- •1) Установившиеся концентрации электронов и дырок после включения света;
- •2) Время релаксации системы после выключения света р и время жизни 0.
- •1) Коэффициент рекомбинации;
- •2) Избыточную концентрацию неосновных носителей заряда.
1) Вычислить скорость генерации, если область обеднена подвижными носителями заряда;
2) Вычислить скорость генерации в области, где только концентрация неосновных носителей заряда снижена по сравнению с равновесным значением.
Темп генерации с учетом Ei=Et задается формулой
(2.1)
По уровню легирования Nd=n0=71015 см–3 можно рассчитать равновесную концентрацию неосновных носителей заряда p0=ni2/Nd = 2.1105 см–3. Время жизни 0 рассчитаем как
(2.2),
т.е. 0 равно 10–7 с. Неравновесные концентрации носителей заряда равны n=n0+nn0– основных и p=p0+pp– неосновных. В первом случае, когда n,p<<ni формула (2.1) сводится к
G= 7.251016 см–3c–1, во втором случае n>>ni и p0>>p
G= 2.61011 см–3c–1.
задача 2.3
Свет падает на образец кремния, легированный донорами с концентрацией Nd=1016 см-3. При этом генерируется 1021 см-3с-1 электронно-дырочных пар. Генерация происходит равномерно по образцу. Имеется 1015 см-3 центров генерации-рекомбинации с энергией Et=Ei, поперечные сечения захвата электронов и дырок равны 10-14 см2. Рассчитать:
1) Установившиеся концентрации электронов и дырок после включения света;
2) Время релаксации системы после выключения света р и время жизни 0.
Время жизни 0 рассчитаем по формуле
(2.2)
0=10–8 с, концентрации неравновесных носителей заряда равны n=Nd=1016 см–3 и p=G0=1013 см–3.
задача 2.4
Образец арсенида галлия GaAs подвергается внешнему воздействию, в результате которого генерируется 1020 см-3c-1 электронно-дырочных пар. Уровень легирования Nd=21015 см-3, время жизни 0= 510-8 с, Т=300 К. Вычислить:
1) Коэффициент рекомбинации;
2) Избыточную концентрацию неосновных носителей заряда.
Коэффициент рекомбинации r получим из соотношения G=R=rnp. G=r(n+p)=r(n0+n+p0+p)=rn(n0+p0)=rnn0. Отсюда имеем для r =(G/n)(1/0n0)=10–8 см3c–1, избыточная концентрация электронов n=G0=51012 см–3.
задача 2.5
Концентрации электронов в однородном слаболегированном n-Si при комнатной температуре линейно спадает от 1017 см-3 при x=0 до 61016 см-3 при x=2 мкм и все время поддерживается постоянной. Найти плотность тока электронов при отсутствии электрического поля. Подвижность при данном уровне легирования считать =1000 см2В-1с-1
При наличии градиента концентраций плотность диффузионного тока jдиф=qD(n/x)= qn/(kT/q)(n/x)=825 А/см2
задача 2.6
Вычислить относительное изменение проводимости /0 при стационарном освещении с интенсивностью I=51015 см-2с -1 в германии. Коэффициент поглощения =100 см-1, толщина образца много меньше -1. Рекомбинация происходит на простых дефектах, время жизни 0=210 -4 с, равновесная концентрация электронов n0=1015см-3.
В стационарном случае имеем: G= p/0 и G=I, поэтому p=I т.е. p=1016 см–3. /0=p(n+p)/(n0n)=0.15