Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

МЭТ-2

.pdf
Скачиваний:
34
Добавлен:
15.02.2016
Размер:
773.04 Кб
Скачать

621.315.4/61(075)

 

№ 3931-2

М 545

 

 

МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

ГОСУДАРСТВЕННОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ПРОФЕССИОНАЛЬНОГО ОБРАЗОВАНИЯ

ТАГАНРОГСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ РАДИОТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ

===========================================

==

КАФЕДРА технологии МИКРО- И НАНОЭЛЕКТРОННОЙ АППРАТУРЫ

МЕТОДИЧЕСКОЕ ПОСОБИЕ

МАТЕРИАЛЫ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ

ЧАСТЬ 2

Конспект лекций

Для студентов специальностей 210200, 210600

Таганрог 2006

УДК 621.315.4/61:621.38(075.8)+621.38.002.3(075.8)

Составители: О.Н. Негоденко, С. П. Мирошниченко.

Методическое пособие «Материалы электронной техники» Часть 2. Конспект лекций. Таганрог: Изд-во ТРТУ, 2006, 47 c.

Табл. 3. Ил. 42. Библиогр.: 14 назв.

В пособии приводятся основные физические явления в полупроводниках и активных диэлектриках, описываются их электрические, физико-химические и механические свойства. Методическое пособие предназначено для изучения курса «Материалы электронной техники» студентами специальностей 210200, 210600, а также может быть полезно студентам других специальностей.

Рецензент Е. Т. Замков, кандидат технических наук, доцент кафедры КЭС, ТРТУ.

ВВЕДЕНИЕ

Целью курса является изучение физической сущности явлений, протекающих в электро-радио материалах (ЭРМ), их свойств, областей использования и правил выбора. ЭРМ называются материалы и компоненты, несущие электрическую нагрузку или электрическую совместно с механической. Остальные материалы, несущие только механическую нагрузку, называются конструкционными материалами. Конечно, радиоинженер должен знать как ЭРМ, так и конструкционные материалы. Некоторые ЭРМ, например, пластмассы, являются одновременно и конструкционными материалами. Такие конструкционные материалы как стали, цветные металлы и их сплавы рассмотрены в приводимой ниже литературе, но в курсе ЭРМ не рассматриваются. Поскольку авторами и другими преподавателями ТРТУ ранее был издан ряд учебных пособий по отдельным разделам курса, материал этих разделов не включен в курс лекций (рекомендуется изучать изданные раннее пособия).

Научно-технический прогресс в области радиоэлектроники, прежде всего, связан с разработкой и использованием новых материалов. Надежность РЭА, быстродействие, экономичность, расширение области рабочих температур, стойкость к ударам, излучениям определяются не столько схемой и конструкцией РЭА, сколько использованными материалами и технологией.

14. ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ МАТЕРИАЛЫ

14.1. Электропроводность полупроводников

Различают электропроводность собственную и примесную. Собственная электропроводность наблюдается у чистых п/п, примесная – у п/п с примесями. Т.к. ширина запрещённой зоны для п/п относительно большая (< 2-3 эВ), то под действием слабого электрического поля электроны не могут перейти из заполненной (валентной) зоны в зону проводимости. Этот переход электронов может быть осуществлён за счёт тепловой энергии, энергии света, корпускулярного излучения. При температуре абсолютного нуля п/п является изолятором, т.к. все его электроны находятся в заполненной зоне. При температуре, большей температуры абсолютного нуля, средняя энергия атомов равна 3/2КТ (К - постоянная Больцмана, Т- абсолютная температура). При комнатной температуре этой энергии недостаточно, чтобы перевести электроны в зону проводимости:

Однако всегда имеется некоторое количество атомов, обладающих энерги-

ей, большей ΔЕ, и способных сообщить электрону энергию, достаточную для выхода в зону проводимости.

T1 T2

N

T2>T1

 

 

T1 >T2

3

к T1

E

2

3

кT2

 

 

2

 

E

Рис.1

На рис.1 представлены кривые распределения электронов по энергиям. По оси абсцисс отложены значения энергии теплового движения атомов, по оси ординат число атомов, обладающих данной энергией. Количество атомов, име-

ющих энергию больше ΔЕ, соответствует заштрихованным областям. С повышением температуры Т число таких атомов увеличивается. Однако, чем

больше электронов будет заброшено энергией теплового движения в зону проводимости, тем больше будет вероятность рекомбинации, т.е. их обратного перемещения. Поэтому при любой температуре устанавливается определённое количество электронов в зоне проводимости как результат динамического равновесия между процессами ионизации атомов и рекомбинацией:

3

 

E

 

 

n = A × T 2e

 

 

 

 

 

2KT

 

 

 

где А - коэффициент, равный 1016

см− 3град

3

для германия и

2

4×1016 см− 3град32 для кремния. Из этой формулы следует, что при Т=293К для германия n = 1013 см− 3 , для кремния n = 1,27 × 1010 см− 3

Особенностью п/п является то, что в создании электрического тока участвуют не только электроны, а и так называемые дырки.

На рис.2 показаны зонные диаграммы. Для твёрдых тел за счёт взаимного влияния соседних атомов друг на друга энергетические уровни расщепляются на множество уровней, которые и составляют зону проводимости и валентную

зону. Ширина запрещённой зоны ΔЕ располагается между крайними уровнями валентной зоны и зоны проводимости. Посреди запрещённой зоны прохо-

дит уровень Ферми Efc.

Под ним понимают тот уровень, вероятность заполнения которого равна

½. Уровень Ферми представляет собой химический потенциал, т.е. свободную

энергию в расчёте на один электрон, способный участвовать в создании проводимости. Уровень Ферми определяется из условия постоянства количества электронов в кристалле независимо от распределения их по энергиям.

Т=0 Т>0(=300K)

Зона

проводимости

Е fc Е

Уровни валентной

зоны

Рис.2

Из рис.2 видно, что при Т = 0 все электроны находятся в валентной зоне. При Т > 0 часть электронов переход в зону проводимости. Свободное квантовое состояние, которое покинул электрон, называют дыркой. Это квантовое

состояние может быть занято как электронами соседних уровней, так и электронами других атомов. Дырки ведут себя подобно частице с положительным зарядом, равным заряду электрона. При помещении п/п в электрическое поле электроны будут перемещаться в направлении, противоположном направлению напряжённости электрического поля, а дырки – в направлении поля. Об-

щая проводимость γ = γ э + γ д = qμ nn + qμ p p , где γ э - электронная проводимость, γ д - дырочная проводимость, μ n и μ p - подвижности электронов и

дырок, n и p - концентрации электронов и дырок. В чистом (собственном) п/п ni = pi, тогда γ = qni n + μ p ).

В примесном п/п находятся примеси, которые делятся на примеси замещения и примеси внедрения. Примеси нарушают периодичность кристалла и образуют в энергетическом спектре п/п дополнительные уровни, расположенные в запрещённой зоны, что показано на рис.3

 

Т=0

Т>0(=300K)

Т=0

Т>0(=300K)

fn

Еg

 

 

Еfn

fc

 

Е

Е fc

 

 

 

 

 

Е

 

 

 

 

Еfn

 

 

 

Рис.3

 

 

Примеси, создающие дополнительные уровни вблизи дна зоны проводимости, называются донорными (рис. 3а) примесями, создающие дополнительные

уровни вблизи потолка валентной зоны, называются акцепторными. Efп – уровень Ферми для примесного п/п. С ростом температуры положение Efп меняет-

ся. Для Ge и Si элементы 5 группы таблицы Менделеева - донорные, 3 группы - акцепторные. В случае наличия донорных примесей тепловой переброс электронов с донорных уровней в зону проводимости более вероятен, чем переход

электронов из валентной зоны, т.к. Ε д < < Ε . При этом число электронов в

зоне проводимости больше числа дырок в валентной зоне. Такая проводимость называется электронной, а полупроводник - полупроводником п- типа. Общая проводимость.

γ = nin+ pip+nnn ≈ nnn.

При наличии акцепторных примесей под действием теплового движения переход электронов из валентной зоны на уровни примесей (рис.36) более вероятен, чем переход электронов в свободную зону. Такая проводимость называется дырочной, а п/п - полупроводником р-типа. Общая проводимость

γ = nin+ pip+pnp ≈ pnp.

Если в п/п вводится ряд примесей, создающих донорные или акцепторные уровни, проводимость определяется подвижностью и концентрацией из-

быточных носителей заряда, т.е. γ = qμnизб · nизб или γ = qμpизб·pизб. Элементы 5 и 3 групп таблицы Менделеева являются в Ge и Si примесями

замещения. Примеси внедрения также изменяют тип проводимости п/п. Атомы щелочных металлов (Li, Na, K, Pb, Cs) легко отдают валентные электроны и являются донорами.

Атомы металлоидов обычно являются акцепторами (O2). Другие металлы могу создавать как донорные, так и акцепторные уровни. Тепловые дефекты в Ge и Si могут создавать два уровня: внедрившийся в междоузлие атом действует как донор, а оставшийся пустой узел, как акцептор.

14.2. Влияние температуры на электропроводность полупроводников

В отличие от металлов в п/п наблюдается сильная зависимость концентрации носителей заряда и их подвижности от температуры, а т.к.

γ = qμ (T )n(T ), проводимость сильно зависит от температуры.

Характер зависимости проводимости от температуры определяется строе-

нием п/п, количеством и типом примесей, структурными дефектами. Для собln n

ственного полупроводника зависимость концентрации носителей заряда от температуры имеет вид, показанный на рис.4. С увеличением температуры концентрация носителей заряда возрастает. Для примесного п/п с одним типом примесей зависимость концентрации носителей заряда от температуры представлена на рис.5.

ln n n n

 

 

n n

в2

 

а2

N3>N2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

в1

б1

N2>N1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

α

 

 

 

 

 

 

а1

 

 

 

 

 

β

в

б

N1

 

β

 

 

 

α

 

 

 

 

 

 

а

 

0

Рис.4

1

0

Рис.5

1

 

Т

 

 

Т

 

 

 

 

 

 

 

 

 

При низких температурах поставщиком носителей заряда являются атомы примесей, т.к. они легче ионизируются Ε п < Ε - участки аб, а1б1, а2б2.

На участках бв, б1в1, примесные атомы уже ионизированы, но энергии на хватает для ионизации собственных атомов п/п. Это участок истощения. Наклон участка, определяемого ионизацией примесей, зависит от концентрации

примесей N1, N2, N3 – с ростом концентрации примесей их энергия ионизации уменьшается, т.к. уменьшается расстояние между атомами, увеличивается

их взаимодействие (рис.6). При очень высоких концентрациях примесей N3 концентрация носителей заряда не зависит от температуры. Такой п/п называется вырожденным.

При высоких температурах ионизируются собственные атомы п/п, примесный п/п становится собственным. При ионизации атомов примесей получаются или только электроны или только дырки, а при ионизации собственных атомов п/п получаются и электроны, и дырки.

Зависимость подвижности носителей заряда от температуры в общем случае имеет вид, который показан на рис.7.

 

Е Твердое жидкое Газ

μ М

 

N3>N2>N1

ЗЗ

тело

 

 

N1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

N2

ВЗ

 

 

 

N3

 

 

 

 

 

ч 0

ч

 

1

 

Рис.6

 

Рис.7

Т

При низких температурах происходит рассеяние носителей заряда на ионах примесей. С ростом температуры расстояние между ионами увеличивается, подвижность возрастает. Затем при высоких температурах происходит рассеяние носителей заряда на тепловых колебаниях атомов в решётке. С ростом температуры амплитуда колебаний возрастает, подвижность падает. С увеличением концентрации примесей подвижность уменьшается и максимум в тем-

пературной зависимости μ смещается в область более низких температур. Подвижность носителей заряда с учётом механизма рассеяния представляется в виде:

1

=

1

+

1

μ

 

μ т

 

μ п

где μ п - подвижность при рассеянии на ионах примеси, μ т - подвижность

при рассеянии на тепловых колебаниях атомов в решётке. Для атомарных п/п (Si, Ge) μ п (T ) » T 32 , а μ т (T ) » T − 32 .

Тогда,

μ1 = a × T − 32 + b × T 32

где а и b – коэффициенты пропорциональности.

Степень ±3/2- не у всех п/п (она может быть от ±1/2 до ±3).

С учётом выше сказанного, графики зависимости проводимости от температуры для собственного и примесного п/п-ов получаются такими, как показаны на рис.8 и рис.9.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ln γ

 

 

 

ln γво

 

 

n

 

 

 

 

 

 

 

 

n

 

в

3

n

ео

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

б1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

N

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ln γоп

β

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

в

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

n оп

 

 

 

А

 

 

β

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

α

 

б

 

А

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

Рис.8

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

0

 

 

Рис.9

1

 

 

 

 

 

T

 

 

 

 

 

 

 

 

 

T

Для собственного п/п: γ

=

γ ос × e

Ε

 

 

 

 

 

 

 

2KT

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Для примесного п/п: γ =

γ

ос × e

− Ε

+ γ оп × e

Ε п

 

 

 

 

 

 

2KT

KT

 

 

 

 

 

 

Отсюда, как и для диэлектриков, энергия ионизации собственных атомов D E = 2k × tgβ , а энергия ионизации атомов примесей D E = k × tgα .

Таким образом, по графикам зависимости γ от Т определяют энергию ионизации атомов примесей и собственных атомов полупроводника.

15. ФАКТОРЫ, ВЛИЯЮЩИЕ НА ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ МАТЕРИАЛ

15.1. Влияние сильного электрического поля на проводимость полупроводников

Закон Ома в дифференциальной форме имеет вид:

Закон Ома сохраняется, если γ не зависит от напряженности поля Е. В общем случае

то есть, поле влияет на подвижность и концентрацию носителей заряда. На электрон, находящийся в электрическом поле, действует сила

где m* - масса электрона; а – ускорение.

Так как F = q × E, то, приравнивая два выражения для силы F, получим, что

Добавочная скорость на длине свободного пробега электрона равна

где τ – время свободного пробега электрона. Учитывая статистическое распределение электронов по скоростям, средняя скорость электрона равна

Тогда подвижность

,

где l - длина свободного пробега, Va6c - абсолютная скорость электрона.

Поле влияет на l и Va6c, причем степень и характер влияния зависит от механизма рассеяния электронов, который в свою очередь, зависит от температу-

ры. При слабых полях l и Va6c меняется незначительно и μ постоянна. При сильных полях, если носители заряда рассеиваются на тепловых колебаниях

атомов решётки (высокие темратуры), l не зависит от E, a Va6c возрастает. Тогда μ падает. Если при сильных полях носители рассеиваются на ионах примеси (низкие температуры), то l растёт быстрее, чем Va6c, μ возрастает. Зависимость μ от E для германия приведена на рис. 1.