
- •Количественный анализ
- •III.3.1. Хроматограмма как источник сведений о количественном составе анализируемой смеси
- •III.3.2. Выбор и измерение основных количественных параметров хроматографических пиков
- •III.3.2.2. Возможные погрешности при измерении вручную параметров хроматографических пиков
- •III.3.3. Основные методы количественного анализа
- •111.3.3.1. Метод абсолютной градуировки
- •III.3.3.2. Метод внутренней нормализации
- •III.3.3,3. Метод внутреннего стандарта
- •III.3.4. Развитие методов количественной интерпретации хроматограмм сложных смесей
- •III.3.5.1. Анализ систем с известными коэффициентами распределения
III.3.2.2. Возможные погрешности при измерении вручную параметров хроматографических пиков
Общие для всех графических способов расчета источники погрешностей связаны с необходимостью измерения одного или нескольких отрезков на хроматограмме: высоты пика, ширины его на определенной высоте и расстояния от точки ввода пробы (или от пика несорбирующегося газа) до вершины интересующего хроматографического пика.
Рис. 111.21. Зависимость относительной погрешности измерения площади хроматографического пика от времени удерживания для пиков с одинаковой площадью
Так, при определении площади пика умножением высоты на ширину в какой-либо точке высоты необходимо выполнить четыре операции: продолжить базовую линию хроматограммы под пиком, измерить высоту пика по линейке, помещаемой перпендикулярно основанию пика, определить точку высоты, в которой будет производиться замер ширины пика, и измерить ширину пика в найденной точке высоты по линейке, помещенной параллельно основанию пика.
При
расчете площади пика по формуле
к
отмеченным
неопределенностям прибавляются
неопределенности, связанные
с проведением касательных и измерением
h′
и
ωb.
Общая
погрешность в определении площади
определяется при этом статистической
суммой погрешностей, допускаемых при
выполнении
всех перечисленных операций.
Экспериментально показано, что измерения, выполненные в острой вершине треугольника, менее точны, чем в сглаженной вершине пика. В свою очередь, при использовании для расчета площади формулы S=hω0,5 общая относительная погрешность ∆S/S больше для очень острых или, наоборот, очень пологих пиков, чем для пиков промежуточной остроты. А острота пика (отношение его высоты к основанию) для данной колонки и для одинаковых количеств одного и того же вещества в условиях изотермической хроматографии определяется его временем удерживания и скоростью диаграммной ленты.
Суммарное воздействие вероятных вкладов каждой из отмеченных частных погрешностей измерения пиков одинаковой площади, но разной формы определяет следующую зависимость погрешности ∆S/S от времени удерживания (рис. 111.21). Видно, что наименьшие погрешности характерны при измерении площадей пиков с отношением высоты к полуширине в пределах 3—5 [44, с. 236].
При прочих равных условиях наибольшая точность измерения площади обеспечивается при умножении высоты пика на его полуширину или на ширину, измеренную на расстоянии 1/е (округленно 1/3) высоты от основания.
Графические способы количественной расшифровки хроматограмм по произведениям высот пиков на время удерживания или только по высотам пиков включают операции проведения нулевой линии и измерения высоты (или высоты и времени удерживания). Естественно ожидать, что погрешности при этих измерениях будут значительно меньшими, чем в случаях, разобранных выше.
Уже отмечалось, что суммарная погрешность измерения снижается при увеличении длин интересующих отрезков. Простой расчет показывает, что если расстояния на хроматограмме измеряются линейкой с ценой деления в 1 мм без использования при считывании результатов специальной оптики, относительная погрешность ∆L/отн при уменьшении длины измеряемого расстояния / увеличивается в следующем ряду:
L, мм 200 100 50- 10
∆Loтн. % 0.25 0,5 1,0 5,0
Рис. 111.22. Выполнение дополнительных построений на. хроматограмме и измерение высоты и полуширины гауссова пика
С целью сведения к минимуму случайных погрешностей и стандартизации техники измерения необходимых отрезков на хроматограммах при их графической обработке рекомендуется придерживаться следующих правил.
Все необходимые дополнительные построения (продолжение нулевой линии хроматограммы под пиком, опускание перпендикуляров из вершин пиков к нулевой линии и т. п.) выполнять остро отточенным жестким карандашом без нажима.
Линейные отрезки длиной более 10 мм измерять метрической линейкой с четкой шкалой с точностью до десятых долей миллиметра. Отрезки длиной менее 10 мм рекомендуется измерять с точностью до 0,1 мм с помощью измерительной лупы.
Для учета влияния толщины ограничивающих линий измерения следует проводить от внешней до внутренней границы пересечений, как показано на рис. 111.22.