- •Компонентная база радиоэлектронных средств
- •Компонентная база радиоэлектронных средств. Методические указания к лабораторным работам/ – Одесса: Одесская национальная морская академия, 2010. – 113 с.
- •Введение
- •Лабораторная работа №1
- •Теоретические знания
- •Классификация резисторов
- •Параметры постоянных резисторов
- •Обозначение и маркировка постоянных резисторов
- •Р 1-4-0,5-10 кОм ± 1% а-б-в ожо.467.157ту
- •4. Основные конструкции постоянных резисторов
- •Методика расчета резистивного делителя напряжения
- •Контрольные вопросы
- •Теоретические знания
- •Классификация конденсаторов
- •Параметры постоянных конденсаторов
- •3 Система условных обозначений конденсаторов
- •4 Основные конструкции конденсаторов постоянной емкости
- •5 Характеристика и использование некоторых типов конденсаторов постоянной емкости
- •6 Частотные rc-фильтры
- •6.1 Rc-фильтр высоких частот
- •6.2 Rc-фильтр низких частот
- •Контрольные вопросы
- •Теоретические знания
- •2 Дроссели высокой частоты
- •3 Трансформаторы
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа №4 исследование полупроводниковых диодов
- •Лабораторная схема
- •Задание к лабораторной работе
- •Теоретические знания
- •Образование электронно-дырочного перехода
- •Вольтамперная характеристика р-п перехода
- •Полупроводниковые диоды
- •Влияние внешних факторов на вах реальных диодов
- •3.2 Классификация диодов
- •Параметры и применение исследуемых типов диодов
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 5 Исследование статических параметров биполярных транзисторов
- •Лабораторные схемы
- •Домашнее задание
- •Задание к лабораторной работе
- •Теоретические знания
- •1 Структура и основные режимы работы биполярного транзистора
- •2 Работа транзистора в активном режиме
- •3 Сравнение различных схем включения транзистора
- •4 Модель Эберса-Молла
- •5 Малосигнальные параметры биполярного транзистора
- •6 Статические характеристики биполярного транзистора
- •7 Работа транзистора в импульсном режиме
- •8 Основные параметры биполярных транзисторов
- •9 Классификация биполярных транзисторов
- •10 Система обозначений биполярных транзисторов
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 6 Исследование статических параметров униполярных транзисторов
- •Лабораторные схемы
- •Домашнее задание
- •Задание к лабораторной работе
- •Теоретические знания
- •1 Структура и принцип работы униполярного транзистора с управляющим р-п переходом
- •2 Структура и принцип работы униполярного транзистора с изолированным затвором
- •4 Малосигнальные параметры униполярных транзисторов
- •5 Основные схемы включения униполярных транзисторов и особенности их применения
- •6 Основные параметры униполярных транзисторов
- •7 Классификация униполярных транзисторов
- •8 Система обозначений униполярных транзисторов
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа №7 исследование топологии толстопленочных интегральных микросхем
- •Лабораторная схема
- •Домашнее задание
- •Задание к лабораторной работе
- •Теоретические знания
- •Основные определения
- •Классификация интегральных микросхем
- •Корпуса и маркировка имс
- •Изготовление и проектирование толстопленочных имс
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Содержание
- •Компонентна база радіоелектроних засобів
- •65029, М. Одеса, вул. Дідріхсона, 8
- •Publish@ma.Odessa.Ua
Вольтамперная характеристика р-п перехода
Если к р-п переходу, находящемуся в термодинамическом равновесии, приложить электрическое поле Е+ , направленное противоположно диффузионному ЕДиф (плюсом к полупроводнику р-типа, а минусом к полупроводнику п-типа), то высота потенциального барьера понизится на величину приложенного напряжения U+, а ширина области пространственного заряда уменьшится (рис.4.2 б):
(4.6)
Такое смещение называют прямым. В этом случае, все большее число основных носителей заряда смогут преодолеть потенциальный барьер и попасть в соседнюю область, где они являются неосновными носителями заряда. Это приводит к появлению относительно большого тока через р-п переход. Таким образом, через р-п переход происходит инжекция неосновных носителей заряда в область, примыкающую к р-п переходу. Ту область, в которую происходит инжекция неосновных носителей заряда, называют базой. В тоже время обратный процесс переноса неосновных носителей заряда из базы останется незначительным.
Тогда полный ток через р-п переход при прямом смещении будет равен:
(4.7)
где Js – обратный ток насыщения.
Из этого выражения следует, что при прямом смещении ток через р-п переход резко возрастает с увеличением приложенного напряжения.
Если к р-п переходу, находящемуся в термодинамическом равновесии, приложить электрическое поле Е- , направленное вдоль диффузионного ЕДиф (минусом к полупроводнику р-типа, а плюсом к полупроводнику п-типа), то высота потенциального барьера повысится на величину приложенного напряжения U- (рис.4.2 б). Ширина области пространственного заряда увеличится согласно (4.6), при замене в этом выражении U+ на –U-.
Такое смещение называют обратным. В этом случае, основные носители заряда не смогут преодолеть потенциальный барьер и попасть в соседнюю область. В тоже время для неосновных носителей заряда потенциальный барьер вообще отсутствует. Несновные носители под действием электрического поля втягиваются в область р-п перехода и проходя через него попадают в соседнюю область. Происходит так называемая экстракция неосновных носителей заряда. При этом через р-п переход будет протекать незначительный обратный ток, поскольку концентрация неосновных носителей в области базы незначительна.
Тогда полный ток через р-п переход при обратном смещении будет равен:
(4.8)
Обратный ток насыщения Js имеет тепловое происхождение и значительно зависит от температуры:
(4.9)
где Dn, μn, Ln – коэффициент диффузии, подвижность и диффузионная длина электронов в полупроводнике п-типа, соответственно;
Dр, μр, Lр – коэффициент диффузии, подвижность и диффузионная длина дырок в полупроводнике р-типа соответственно;
ρn, ρр - удельное сопротивление полупроводника п-типа и р-типа, соответственно;
ni – концентрация собственных носителей заряда в полупроводнике.
Зависимость тока от величины приложенного к р-п переходу напряжения называют вольтамперной характеристикой (ВАХ) перехода (рис.4.3). Таким образом, выражения (4.7) и (4.8) описывают ВАХ р-п перехода соответственно при прямом и обратном смещении. Как следует из рис.4.4 на ВАХ р-п перехода можно выделить три параметра перехода: обратный токJs и обратное UОбри прямое UПр падение напряжения. Таким образом, р-п переход обладает выпрямляющими свойствами, т.е. проводит ток в одном направлении. Однако, при повышении напряжения на обратносмещенном р-п переходе может возникнуть его пробой.
Под пробоем р-п перехода подразумевают резкое возрастание тока в нем при больших обратных напряжениях. Существует три вида пробоя: туннельный (зенеровский), лавинный и тепловой.
Туннельный пробой в обратносмещенном переходе связан с туннелированием носителей заряда через тонкий потенциальный барьер. При этом резко возрастает ток обратносмещенного р-п перехода.
Лавинный пробой происходит в толстых обратносмещенных р-п переходах, когда возникает ударная ионизация и лавинное размножение носителей заряда.
Тепловой пробой обусловлен разогревом р-п перехода при прохождении обратного тока в условиях, когда тепловыделение не компенсируется теплоотводом. На ВАХ возникает участок с отрицательным дифференциальным сопротивлением и чаще всего р-п переход выходит из строя.
Лавинный и туннельный пробой используются при создании определенных типов диодов: стабилитронов, туннельных и лавинно-пролетных диодов.