3. Определение чувствительности фотоэлемента.

1. Используя данные первого этапа работы произвести расчёт интегральной чувствительности μ для различных измерений по формуле (6).

2. Рассчитать среднее значение <μ> интегральной чувствительности.

4. Нахождение распределения освещённости вокруг лампы накаливания:

1. Включив лампу, установить её на нулевом делении круговой шкалы. Отметить показания микроамперметра n.

2. Поворачивая лампу вокруг вертикальной оси через равные угловые интервалы, например 30˚, отмечать показания микроамперметра.

3. По полученным значениям n, зная цену деления микроамперметра в люксах E₀, найти освещённость для различных положений лампы. Результаты опыта и расчётные данные занести в таблицу.

   0˚

   30˚

   60˚

   90˚

   120˚

   150˚

   180˚

   210˚

   240˚

   270˚

   300˚

   330˚

   N

   E

4. В полярной системе координат вычертить распределение освещённости в зависимости от расположения нити лампы. Для этого центр проградуированного круга, через который проходит вертикальная ось вращения лампы, принять за нуль системы координат. Отложить от начала координат против часовой стрелки под углами 0˚, 30˚, 60˚,… радиус-векторы, на которых отметить в определённом масштабе соответствующие освещённости. Соединить концы полученных отрезков плавной кривой, которая будет являться кривой распределения освещённости вокруг лампы.

Контрольные вопросы

1. Что называют источником света?

2. Что такое световой поток?

3. Что такое освещённость поверхности?

4. Что такое сила света источника?

5. Каким прибором можно измерить освещённость поверхности?

6. Что такое фотоэффект? Виды фотоэффекта.

7. Объяснить принцип работы и устройство вентильного фотоэлемента?

8. Как проградуировать фотоэлемент для использования его в качестве люксметра?

9. Как в лабораторных условиях определить освещённость поверхности?

10. Что называется интегральной чувствительностью фотоэлемента, спектральной чувствительностью? Как определить интегральную чувствительность фотоэлемента в эксперименте?