
- •Основные характеристики
- •Pn/pin фотодиоды
- •Физические принципы
- •Элементарная теория p-n перехода
- •Равновесные и неравновесные концентрации носителей заряда
- •Контактная разность потенциалов
- •Барьерная емкость
- •Вольтамперная характеристика
- •Фототок и принцип суперпозиции токов
- •Механизмы рекомбинации избыточных носителей заряда
- •Излучательная рекомбинация
- •Оже рекомбинация
- •Рекомбинация по механизму Шокли-Рида-Холла
- •Квантовая эффективность
Барьерная емкость
Удельная барьерная емкость pn-перехода определяется выражением C=dQ/dV, где dQ – дифференциальное приращение плотности заряда, вызванное малым приращением изменения приложенного напряжения. Для несимметричных резких переходов удельная емкость
, (70)
где знак – соответствует прямому смещению p+n – переходу, а знак + соответствует обратному смещению. Обозначение p+ соответствует случаю, когда p-область легирована значительно сильнее (скажем NA=1020 см-3) чем n-область (ND=1016 см-3). В этом случае распространение области пространственного заряда в p-область ничтожно мало и основное распространение области пространственного заряда осуществляется в n-области pn-перехода.
Вольтамперная характеристика
В стационарном случае уравнения непрерывности носителей заряда имеют вид (36)-(37), которые при отсутствии генерации носителей и квазинейтральных областях pn-перехода (E≈0) приобретают вид:
(71)
.
(72)
Решения уравнений (71)-(72) с граничными условиями (52)-(53) при условии pn(x=∞) и np(x=-∞) имеют вид:
(73)
, (74)
где введены характерные длины Ln=(Dnτn)1/2 и Lp=(Dpτp)1/2.
Диффузионная длина представляет собой характерное расстояние, на котором избыточная концентрация зарядов в полупроводнике уменьшается в e раз при условии, что время жизни неосновных носителей заряда является постоянной величиной во всем объеме рассматриваемого полупроводника. В общем случае время жизни неосновных носителей заряда τ является локальным параметром и может меняться при переходе от одной области полупроводника в другую. Соответственно, диффузионная длина также может быть локальным параметров в зависимости от технологии изготовления того или иного полупроводникового прибора.
В результате плотность диффузионного тока дырок при x=xn может быть записана в виде
. (75)
Аналогично, рассматривая p-область, получим плотность электронного тока
. (76)
Общий ток через переход равен сумме токов из выражений (75)-(76):
, (77)
. (78)
Выражение (64) представляет собой известную формулу Шокли, описывающую вольтамперную характеристику идеального pn-перехода. При прямом смещении ток диода экспоненциально возрастает. При обратном смещении плотность тока насыщается и стремится к постоянной величине J0 (рис.9).
Рис.9. Вольтамперная характеристика (ВАХ) идеального pn-перехода.
Такая вольтамперная характеристика действительно имеет место в случае высококачественных Ge диодов, но в случае использования других полупроводников (более широкозонных чем Ge), например, Si или GaAs, обратный ток диодов, изготовленных из этих материалов не насыщается при увеличении обратного смещения и монотонно увеличивается по мере увеличения напряжения смещения, хотя сами величины обратного тока на много порядков меньше, чем в случае Ge-диодов. В этом случае процессы генерации и рекомбинации электронно-дырочных пар в обедненной области pn-перехода играют намного более существенную роль, чем в случае Ge-диодов.