- •Глава 1.Понятие о сканирующей зондовой микроскопии 4
- •Понятие о сканирующей зондовой микроскопии
- •Определение сканирующей зондовой микроскопии
- •Основные принципы работы сзм. Система обратной связи
- •Сканирующая туннельная микроскопия
- •Принцип работы стм
- •Измерение вольт-амперных характеристик туннельного контакта
- •Система управления стм
- •Конструкции сканирующих туннельных микроскопов
- •Применение стм в нанотехнологиях
- •Атомно-силовая микроскопия
- •Принцип работы асм
- •Контактная атомно-силовая микроскопия
- •Бесконтактный режим работы асм
- •«Полуконтактный» режим колебаний кантилевера асм
- •Применение асм
- •Ближнепольная оптическая микроскопия
- •Принцип работы бом
- •«Share-force» метод контроля расстояния зонд-поверхность в бом
- •Приминение бом
- •Заключение
- •Список литературы
Контактная атомно-силовая микроскопия
Условно методы получения информации о рельефе и свойствах поверхности с помощью АСМ можно разбить на две большие группы – контактные квазистатические и бесконтактные колебательные. В контактных квазистатических методиках остриё зонда находится в непосредственном соприкосновении с поверхностью, при этом силы притяжения и отталкивания, действующие со стороны образца, уравновешиваются силой упругости консоли. При работе АСМ в таких режимах используются кантилеверы с относительно малыми коэффициентами жесткости, что позволяет обеспечить высокую чувствительность и избежать нежелательного чрезмерного воздействия зонда на образец.
В квазистатическом режиме АСМ изображение рельефа исследуемой поверхности формируется либо при постоянной силе взаимодействия зонда с поверхностью (сила притяжения или отталкивания), либо при постоянном среднем расстоянии между основанием зондового датчика и поверхностью образца. При сканировании образца в режиме Fz= const система обратной связи поддерживает постоянной величину изгиба кантилевера, а следовательно, и силу взаимодействия зонда с образцом. При этом управляющее напряжение в петле обратной связи, подающееся на Z-электрод сканера, будет пропорционально рельефу поверхности образца.
При исследовании образцов с малыми (порядка единиц ангстрем) перепадами высот рельефа часто применяется режим сканирования при постоянном среднем расстоянии между основанием зондового датчика и поверхностью (Z = const). В этом случае зондовый датчик движется на некоторой средней высоте Zсрнад образцом, при этом в каждой точке регистрируется изгиб консоли ΔZ, пропорциональный силе, действующей на зонд со стороны поверхности. АСМ изображение в этом случае характеризует пространственное распределение силы взаимодействия зонда с поверхностью.
Недостаток контактных АСМ методик - непосредственное механическое взаимодействие зонда с поверхностью. Это часто приводит к поломке зондов и разрушению поверхности образцов в процессе сканирования. Кроме того, контактные методики практически не пригодны для исследования образцов, обладающих малой механической жесткостью, таких как структуры на основе органических материалов и биологические объекты.
Бесконтактный режим работы асм
В процессе сканирования используются колебательные методики, которые позволяют уменьшить последствия механического взаимодействия зонда с исследуемой поверхностью. В бесконтактном режиме кантилевер возбуждают так, чтобы он совершал вынужденные колебания с амплитудой приблизительно 1нм. При приближении кантилевера к поверхности на него действуют вандерваальсовы силы. Градиент сил приводит к сдвигу амплитудно-частотной и фазо-частотной характеристик системы. Это обстоятельство используется для получения фазового контраста в исследованиях поверхности методом атомно-силовой микроскопии.
Система обратной связи, как правило, поддерживает постоянной амплитуду колебаний зонда, а изменение частоты и фазы в каждой точке записывается. Однако возможно установление обратной связи путём поддержания постоянной величины частоты или фазы колебаний.
Достоинства метода:
Отсутствует воздействие зонда на исследуемую поверхность
Недостатки метода:
Крайне чувствителен ко всем внешним шумам
Наименьшее латеральное разрешение
Наименьшая скорость сканирования
Функционирует лишь в условиях вакуума, когда отсутствует адсорбированный на поверхности слой воды
Попадание на кантилевер во время сканирования частички с поверхности образца меняет его частотные свойства и настройки сканирования "уходят"
В связи с множеством сложностей и недостатков метода, его приложения в АСМ крайне ограничены.
