
- •Часть 3
- •7.2. Вольт - амперная характеристикаp-n-перехода
- •7.3. Классификация и основные параметры полупроводниковых диодов
- •7.4. Диодные ограничители
- •Пример расчета диодного ограничителя
- •7.5. Выпрямители на диодах
- •7.6. Стабилизаторы напряжения на диодах
- •Пример расчета стабилизатора
- •Решение
- •Глава 8 биполярные транзисторы
- •8.1. Классификация и принцип действия биполярных транзисторов
- •8.2. Эквивалентные представления биполярных транзисторов для статического режима
- •8.3. Эквивалентные представления биполярных транзисторов для режима малого переменного сигнала
- •8.4. Частотные свойства биполярных транзисторов
- •8.5. Статические характеристики, номинальные и предельные параметры биполярных транзисторов при различных схемах включения
- •8.6. Составной биполярный транзистор
- •Глава 9 тиристоры
- •9.1. Классификация тиристоров
- •9.2. Диодные тиристоры
- •9.3. Триодные тиристоры
- •Глава 10 полевые транзисторы
- •10.1. Классификация и основные особенности полевых транзисторов
- •10.2. Характеристики и параметры полевых транзисторов с управляющимpn-переходом
- •10.3. Характеристики и параметры мдп-транзисторов
- •10.4. Типовые схемы включения полевых транзисторов и их параметры
- •10.5. Сравнение полевых и биполярных транзисторов
- •Глава 11 оптоэлектроника
- •11.1. Классификация оптоэлектронных приборов
- •11.2. Полупроводниковые излучатели
- •11.3. Полупроводниковые приемники излучения
- •11.3.1. Фоторезисторы
- •11.3.2. Фотодиоды
- •11.3.3. Фототранзисторы
- •11.3.4. Фототиристоры
- •11.4. Оптроны
11.3.2. Фотодиоды
Фотодиод – это фотоприемник, принцип действия которого основан на фотогальваническом эффекте и фоточувствительный элемент которого имеет структуру полупроводникового диода.
Упрощенная структура фотодиода изображена на рис. 11.18. Пусть излучение воздействует в направлении перпендикулярном плоскости pn-перехода. В результате поглощения фотонов вn- базе возникают электронно-дырочные пары (фотоносители). Фотоносители диффундируют в глубьn- области. Ширинаn- области такова, что основная доля созданных излучением фотоносителей не успевает рекомбинировать вn- области и доходит до границыpn- перехода.
|
Рис. 11.18 |
Электроны и дырки разделяются электрическим полем pn-перехода напряженностьюЕ0, при этом дырки переходят вp- область, а электроны не могут преодолеть поле перехода и скапливаются у границыpn-перехода вn- области. Таким образом, ток фотоносителей черезpn-переход обусловлен дрейфом неосновных носителей – дырок.
Сравним принципы действия обычного выпрямительного диода и фотодиода.
Когда
поток излучения отсутствует
,
диод и фотодиод находятся в равновесном
состоянии, при этом диффузионная
составляющая тока черезpn-переход
– тока основных носителей – равна
дрейфовой составляющей тока неосновных
носителей. В обычном диоде равновесие
нарушается при приложении кpn-переходу
прямого напряжения (плюс кp-области,
минус кn-области), в
результате чего снижается внутренний
потенциальный барьер. Равновесие в
потоках носителей через переход
нарушается в пользу диффузионной
составляющей тока, которая при достаточно
большом прямом напряжении определяет
значение тока черезpn-переход.
Дрейфовая составляющая тока черезpn-переход в выпрямительном
диоде является фактически паразитной
и должна быть минимально возможной.
В фотодиоде pn-переход разделяют созданные излучением фотоносители. Это приводит к снижению внутреннего потенциального барьера в фотодиоде (аналогично приложению прямого напряжения в обычном диоде). Важно подчеркнуть, что в фотодиоде равновесие под действием излучения нарушается в пользу дрейфовой составляющей тока черезpn-переход, а диффузионная составляющая в фотодиоде является паразитной составляющей тока черезpn-переход.
Дрейфовый
поток фотоносителей (дырок и электронов)
образует фототок
.
Дырки заряжаютp-
область положительно относительноn-
области, а электроны заряжаютn-
область отрицательно по отношению кp-
области. Возникшая таким образом разность
потенциалов, называемая фотоЭДСЕФ,
снижает внутренний потенциальный барьер
до значения
.
Очевидно, что
должно быть меньше
,
так как разделение фотоносителей
возможно только при наличии некоторого
потенциального барьера. Уменьшение
высоты потенциального барьера и
соответственно напряженности
электрического поля вpn-переходе
ухудшает разделительные свойстваpn-перехода.
Для обеспечения высокой чувствительности к излучению необходимо, чтобы в фотодиоде диффузионная составляющая тока была минимальной. Поэтому фотодиод работает или вообще без внешнего напряжения (фотогальванический режим), или при обратном внешнем напряжении (фотодиодный режим).
Фотогальванический режим характеризуется отсутствием источника внешнего напряжения в цепи фотодиода (рис. 11.19), т.е. фотодиод работает генератором фотоЭДС. |
|
Рис. 11.19 |
При работе в этом режиме фотодиод называют фотоэлементом.
При этом ток фотодиода:
, (11.1)
где
- ток фотоносителей (фототок);
- напряжение на диоде;
- сопротивление нагрузки;
- токpn-перехода,
описываемый выражением (8.7) для
вольтамперных характеристик
идеализированногоpn-
перехода.
При
разомкнутой внешней цепи ()
из выражения (11.1) имеем
,
откуда легко получить напряжение на
переходе при холостом ходе, которое
равно фотоЭДС:
. (11.2)
При
коротком замыкании в нагрузке ()
ток фотодиода
.
В фотодиодном режиме работы последовательно с фотодиодом включается источник обратного напряжения (рис. 11.20).
В этом режиме потенциальный барьер
возрастает, и ток через переход
|
|
Рис. 11.20 |
будет определяться
током
,
который протекает в отсутствие излучения.
Ток фотодиода при этом
. (11.3)
В
общем случае при любой полярности
напряжения ток фотодиода описывается
выражением (11.1). Это выражение представляет
собой зависимость тока фотодиода
от напряжения на фотодиоде
при разных значениях потока излучения
,
т.е. является уравнением семейства
вольтамперных характеристик фотодиода
(рис. 11.21).
|
Семейство ВАХ фотодиода расположено в I,IIIиIVквадрантах.
Квадрант I– это не
рабочая область для фотодиода: в этом
квадранте кpn-
переходу прикладывается прямое
напряжение и диффузионная составляющая
тока полностью подавляет фототок
( |
Рис. 11.21 |
Фотоуправление током через диод становится невозможным.
Квадрант
III– это область работы
фотодиода в фотодиодном режиме. Кpn-переходу прикладывается
обратное напряжение. Следует подчеркнуть,
что в рабочем диапазоне обратных
напряжений фототок практически не
зависит от величины обратного напряжения
и сопротивления нагрузки. ВАХ нагрузочного
резисторапредставляет собой прямую линию,
уравнение которой имеет вид
,
где
- напряжение источника обратного
напряжения;
- обратное напряжение на фотодиоде;
- фототок, являющийся током нагрузки.
Ток
можно определить по точке пересечения
ВАХ фотодиода при заданном потоке
излучения
и ВАХ нагрузочного резистора. Таким
образом, в фотодиодном режиме при
заданном потоке излучения
фотодиод является источником тока
по отношению к внешней цепи. Значение
тока
от параметров внешней цепи (
,
)
практически не зависит.
Квадрант IV(в укрупненном виде представленный на рис. 11.22) семейства ВАХ фотодиода соответствует фотогальваническому режиму работы фотодиода.
|
По точкам пересечения ВАХ с осью
напряжения можно определить значения
фотоЭДС
|
Рис. 11.22 |
Промежуточные
значения сопротивления нагрузки
определяются линиями нагрузки, которые
при разных значениях
выходят из начала координат под разными
углами. При заданном значении потока
излучения по ВАХ фотодиода можно выбрать
оптимальный режим работы фотодиода в
фотогальваническом режиме. Под оптимальным
режимом в данном случае понимают выбор
такого сопротивления нагрузки
,
при котором в нагрузку будет передаваться
наибольшая электрическая мощность. Для
потока
оптимальному режиму соответствует
линия нагрузки
,
поскольку электрическая мощность,
численно равная площади заштрихованного
прямоугольника с вершиной в точкеА,
где пересекаются линии
и
,
будет максимальной
.
Для кремниевых фотодиодов при оптимальной
нагрузке значение напряжения на фотодиоде
равно 0,35 – 0,4 В.
Световой
характеристикой фотодиода называется
зависимость фототока
от потока излучения
.
В фотодиодном режиме и в рабочем диапазоне
значений потока излучения
эта характеристика практически линейна
(рис. 11.23). Это говорит о том, что практически
все фотоносители доходят доpn-перехода
и принимают участие в образовании
фототока.
|
|
Рис. 11.23 |
Рис. 11.24 |
В
фотогальваническом режиме световые
характеристики представляются
зависимостями либо тока короткого
замыкания
от потока излучения
(рис. 11.24, кривая 1), либо фотоЭДС
от потока излучения
(рис. 11.24, кривая 2). При больших потоках
излучения
закон изменения этих зависимостей
существенно отличается от линейного.
Для функции
появление нелинейности связано прежде
всего с ростом падения напряжения на
объемном сопротивлении базы фотодиода.
Снижение фотоЭДС
объясняется уменьшением высоты
потенциального барьера при накоплении
избыточного заряда электронов вn-
области и дырок вp-
области. Как следствие этого процесса,
полеpn-перехода хуже
разделяет фотоносители, и рост фотоЭДС
при увеличении потока излучения
замедляется.
Спектральная характеристика фотодиода – это зависимость фототока (обычно в относительных единицах) от длины волны падающего на фотодиод светового потока (рис. 11.25).
|
Рис. 11.25 |
Коротковолновая
граница спектра
фотодиода зависит от толщины облучаемой
базы и от скорости поверхностной
рекомбинации. Уменьшая толщину базы и
скорость рекомбинации, можно сдвигать
коротковолновую границу в сторону
уменьшения длины волны. Длинноволновая
граница спектра
определяется шириной запрещенной зоны
используемого материала.
Быстродействие
фотодиода при работе в фотодиодном
режиме определяется скоростью нарастания
фототока при включении излучения и
скоростью спада фототока при выключении
излучения. При включении излучения
фототок изменяется по закону
,
а при выключении излучения – по закону
,
где
- время пролета неосновных носителей вn- базе. Для кремния
.
Быстродействие
фотодиода при работе в фотогальваническом
режиме определяется скоростью нарастания
фотоЭДС
при включении излучения и скоростью
спада фотоЭДС
при выключении излучения. При включении
излучения фотоЭДС изменяется по закону
,
а при выключении излучения – по закону
,
где
- постоянная времени жизни избыточных
носителей.
Кроме
того, частотные свойства фотодиодов
характеризуются частотной зависимостью
чувствительности от частоты изменения
интенсивности потока излучения.
Чувствительность
является важнейшим параметром любого
фотоприемника, в том числе и фотодиода.
В общем случае чувствительность
фотоприемника отражает изменение
электрического состояния на выходе
фотоприемника при подаче на его вход
единичного оптического сигнала. До
определенной степени этот параметр
можно считать аналогичным коэффициенту
усиления в приборах с электронной
проводимостью. В соответствии с
характеризующим параметром излучения
различают чувствительность фотоприемника
к потоку излучения, к световому потоку,
к облученности и к освещенности. В
зависимости от измеряемого электрического
параметра на выходе фотоприемника
различают токовую и вольтовую
чувствительность. Чувствительность
фотоприемника не есть постоянная
величина, и зависит от параметров
излучения. Для учета этой зависимости
вводят понятия статической и динамической
дифференциальной чувствительности.
Статическая чувствительность определяется
отношением постоянных значений входной
и выходной величин. Дифференциальная
чувствительность равна отношению малых
приращений этих величин. Чувствительность
зависит от длины волны падающего
излучения. Поэтому различают интегральную
и монохроматическую зависимость.
Интегральная чувствительность – это
чувствительность фотоприемника к
нехроматическому излучению заданного
спектрального состава. Монохроматическая
чувствительность – это чувствительность
фотоприемника к хроматическому излучению.
Таким образом, дифференциальная токовая
чувствительность фотодиода к
монохроматическому световому потоку
может быть найдена в соответствии с
выражением
.
Вид зависимости
чувствительности
Значение
|
|
Рис. 11.26 |
Расширение частотного диапазона фотодиода без снижения его чувствительности возможно в p-i-n- структурах. Вp-i-n- диодеi- область заключена между областями вp- типа и вn- типа и имеет удельное сопротивление в 106раз больше, чем сопротивление этих областей. При достаточно больших обратных напряжениях сильное однородное поле распространяется на всюi- область. Поскольку эта область может быть сделана достаточно широкой, такая структура создает основу для получения быстродействующего и чувствительного фотоприемника. Повышение быстродействия обусловлено тем, что процесс диффузии через базу, характерный для обычной структуры фотодиода, вp-i-n- диоде заменяется дрейфом носителей черезi- область в сильном электрическом поле.
Повысить быстродействие до 10-10с и выше позволяют фотодиоды со структурой металл – полупроводник (фотодиоды Шоттки).
Еще одним типом быстродействующих фотодиодов являются лавинные фотодиоды, использующие эффект лавинообразного размножения носителей.