Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Калин Физическое материаловедение Том 3 2008.pdf
Скачиваний:
1179
Добавлен:
16.08.2013
Размер:
31.94 Mб
Скачать

Федеральное агентство по образованию Российской Федерации

МОСКОВСКИЙ ИНЖЕНЕРНО-ФИЗИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ (ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ)

ФИЗИЧЕСКОЕ

МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ

В шести томах

Под общей редакцией Б. А. Калина

Том 3

Методы исследования структурно-фазового состояния материалов

Рекомендовано ИМЕТ РАН в качестве учебника для студентов высших учебных заведений,

обучающихся по направлению «Ядерные физика и технологии» Регистрационный номер рецензии 180

от 20 ноября 2008 года МГУП

Москва 2008

УДК 620.22(075) ББК 30.3я7 К17

ФИЗИЧЕСКОЕ МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ: Учебник для вузов: В 6 т.

/Под общей ред. Б.А. Калина. – М.: МИФИ, 2008. ISBN 978-5-7262-0821-3

Том 3. МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРНО-ФАЗОВОГО СОСТОЯНИЯ

МАТЕРИАЛОВ/ Н.В. Волков, В.И. Скрытный, В.П. Филиппов, В.Н. Яльцев. –

М.: МИФИ, 2008. – 808 с.

Учебник «Физическое материаловедение» представляет собой 6-томное издание учебного материала по всем учебным дисциплинам базовой материаловедческой подготовки, проводимой на 5–8 семестрах обучения студентов по кафедре Физических проблем материаловедения Московского инженерно-физического института (государственного университета).

Том 3 содержит учебные материалы по темам: «Дифракционные методы исследования материалов», «Электронные и ионные методы исследования материалов», «Ядерно-физические методы исследования материалов»,

Учебник предназначен для студентов, обучающихся по специальности «Физика конденсированного состояния», и аспирантов, специализирующихся в области физики конденсированных сред и материаловедения, и может быть полезен молодым специалистам в области физики металлов, твердого тела и материаловедения.

Учебник подготовлен в рамках Инновационной образовательной программы.

ISBN 978-5-7262-0821-3

ISBN 978-5-7262-0977-7 (т. 3)

©Московский инженерно-физический институт (государственный университет), 2008

ОГЛАВЛЕНИЕ

 

Основные условные обозначения и сокращения ...............................

9

Предисловие к тому 3............................................................................

17

Глава 8. ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЙ .........

19

8.1. Физика рентгеновских лучей .....................................................

19

8.1.1. Волновые и корпускулярные свойства............................

20

8.1.2. Получение рентгеновских лучей ....................................

23

8.1.3. Формула Вульфа–Брэгга ..................................................

24

8.1.4. Синхротронное рентгеновское излучение .....................

29

8.1.5. Непрерывный рентгеновский спектр

 

(тормозное рентгеновское излучение) .............................

34

8.1.6. Характеристический рентгеновский спектр ..................

38

8.2. Взаимодействие рентгеновских лучей с веществом ...............

50

8.2.1. Коэффициенты ослабления рентгеновских лучей .........

51

8.2.2. Фотоэлектрическое (или истинное атомное)

 

поглощение ......................................................................

53

8.2.3. Рассеяние рентгеновских лучей ......................................

61

8.2.4. Особенности рассеяния электронов ...............................

73

8.2.5. Особенности рассеяния нейтронов .................................

75

8.3. Рентгенотехника и способы регистрации

 

рентгеновского излучения .........................................................

78

8.3.1. Рентгеновские трубки .....................................................

78

8.3.2. Монохроматоры, рентгеновская оптика .........................

82

8.3.3. Методы регистрации рентгеновских лучей ...................

91

8.4. Интерференция рентгеновских лучей .....................................

114

8.4.1. Структурный анализ как преобразование Фурье ...........

115

8.4.2. Интерференционная функция .........................................

123

8.4.3. Анализ интерференционной функции ............................

125

8.4.4. Интерференционное уравнение ......................................

126

8.4.5. Фактор формы кристалла ................................................

127

8.4.6. Геометрическая интерпретация

 

интерференционного уравнения ......................................

128

8.4.7. Уширение дифракционных линий ..................................

134

8.4.8. Структурный множитель .................................................

137

8.4.9. Множитель Лоренца для моно- и поликристаллов .......

143

8.4.10. Температурный множитель ...........................................

150

8.4.11. Множитель поглощения ...............................................

153

8.4.12. Множитель повторяемости ...........................................

155

3

8.4.13. Сводные формулы для интегральной интенсивности

 

дифракционных максимумов .........................................

156

8.4.14. Первичная и вторичная экстинкция в кристаллах .......

156

8.5. Методы рентгеноструктурного анализа ...................................

160

8.5.1. Метод Лауэ .......................................................................

161

8.5.2. Метод вращения монокристалла ....................................

182

8.5.3. Этапы расшифровки атомной структуры .......................

201

8.5.4. Метод широко расходящегося пучка

 

(метод Косселя) .................................................................

208

8.5.5. Метод порошков (поликристаллов) ................................

214

8.5.6. Рентгеновская дифрактометрия поликристаллов ..........

227

8.5.7. Прецизионные методы определения периодов

 

решетки ..............................................................................

251

8.6. Рентгенографическое определение макронапряжений ..........

261

8.6.1. Классификация внутренних напряжений .......................

262

8.6.2. Принципы рентгеновского метода измерения

 

остаточных напряжений ..................................................

264

8.6.3. Методы расчета макронапряжений ................................

266

8.6.4. Учет структуры и анизотропии упругих

 

свойств поликристалла ....................................................

273

8.7. Рентгенографический анализ уширения дифракционных

 

линий ...........................................................................................

276

8.7.1. Метод аппроксимации .....................................................

279

8.7.2. Метод Стокса ....................................................................

282

8.7.3. Метод гармонического анализа формы

 

дифракционной линии .....................................................

283

8.8. Основы текстурного анализа .....................................................

292

8.8.1. Определение оси неограниченной текстуры .................

296

8.8.2. Дифрактометрия текстур прокатки с помощью

 

прямых полюсных фигур .................................................

299

8.8.3. Метод обратных полюсных фигур ................................

305

8.8.4. Функция распределения ориентаций ..............................

307

8.9. Рентгеновский фазовый анализ .................................................

313

8.9.1. Качественный фазовый анализ .......................................

313

8.9.2. Количественный фазовый анализ ...................................

319

8.10. Рентгенографический анализ твердых растворов .................

322

8.10.1. Определение типа твердого раствора ...........................

325

8.10.2. Изучение упорядочения твердых растворов ................

327

8.11. Применение дифракции электронов ......................................

331

8.11.1. Геометрия дифракционной картины ............................

333

4

Тут вы можете оставить комментарий к выбранному абзацу или сообщить об ошибке.

Оставленные комментарии видны всем.

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]