
- •Источники тока
- •Обозначение Наименование
- •5. По способу установки различают щитовые приборы, предназначенные для монтажа на приборных щитах и пультах управления, и переносные приборы.
- •6. По устойчивости к внешним условиям приборы делят на три класса:
- •Электроизмерительные приборы непосредственной оценки
- •Электромеханические приборы
- •Электроизмерительные приборы
- •Электронные аналоговые приборы
- •Цифровые измерительные приборы
- •Измерение сопротивлений
- •Регестрирующие приборы и устройства
- •Регулирующие устройства
- •Электрических схем
- •Контрольные вопросы
- •1. Введение
- •2. Порядок выполнения работы
- •3. Задание
- •4. Контрольные вопросы
- •Изучение принципа работы электронно- лучевого осциллографа
- •1. Назначение и принцип работы электронно-лучевого осциллографа
- •3. Измерение частот и фаз методом фигур Лиссажу
- •4. Выполнение работы
- •5. Контрольные вопросы
- •Определение удельного заряда электрона с помошью вакуумного диода
- •1.Теория
- •2.1. Описание схемы эксперимента
- •3. Проведение эксперимента
- •4. Задание
- •5. Контрольные вопросы
- •Закон степени 3/2
- •1. Теория релаксационного процесса в rc-цепи
- •2.Описание экспериментальной установки и методика измерения
- •3. Задание
- •4. Контрольные вопросы
- •Проницаемости материалов
- •1. Краткая теория
- •2. Описание экспериментальной установки и выполнение измерений
- •3. Задание
- •4. Контрольные вопросы
- •Расчет коэффициента передачи методом векторных диаграмм
- •Определение постоянной времени rl-цепи
- •2. Постановка задачи
- •3. Порядок выполнения работы
- •4. Контрольные вопросы
- •1. Введение
- •2. Постановка задачи
- •3. Порядок выполнения работы
- •4. Контрольные вопросы.
- •Лабораторная работа № 8 изучение магнитного поля соленоида
- •1. Введение
- •2. Постановка задачи
- •3. Порядок выполнения работы
- •4. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 9 изучение затухающих колебаний в контуре
- •1. Введение
- •При малом затухании: . (8)
- •2. Постановка задачи
- •3. Порядок выполнения работы
- •4. Контрольные вопросы
- •1. Введение
- •2. Постановка задачи
- •3. Порядок выполнения работы
- •4. Контрольные вопросы
2. Описание экспериментальной установки и выполнение измерений
2.1. Описание сменной платы
На сменной плате установлен разборный
плоский конденсатор
и измерительное сопротивление
.
Принципиальная схема, собранная на
сменной плате, приведена на рис. 2.
Нижняя обкладка разборного конденсатора неподвижно закреплена на плате. Верхняя обкладка съемная и крепится с помощью прижимающей пластины и двух винтов. Исследуемый материал зажимается между верхней и нижней обкладками конденсатора.
2.2. Выполнение измерений
Для определения емкости конденсатора
в точку А схемы (рис. 2) подают переменное
напряжение от звукового генератора, а
общую шину генератора подключают к
точке С. К точке В подключают вход У
осциллографа, а к точке F– общую шину осциллографа. При таком
подключении определяют.
Для измерения амплитуды напряжения
генератора (
)
вход У осциллографа переключается к
точке Е.
С учетом входных емкостей кабеля и
осциллографа
,
выходного сопротивления
и паразитных емкостей монтажа
схема изменения имеет вид, представленный
в рисунке 3.
В этой схеме
100
пФ,
=1
МОм. Величина измерительного сопротивления
5,1
кОм. Поэтому влияние входного сопротивления
можно пренебречь. При этом ошибка
измерения
не превысит 0,5 %. Сопротивление переменному
току входной емкости на частотах не
выше 10 кГц не превышает 200 кОм, что вносит
ошибку измерения не более 2,5%. Поэтому
до частот 10 кГц для расчетов коэффициентов
передачи и измеряемой емкости можно
пользоваться формулой (4).
Измерение сопротивления Rпроизводится омметром между точками В и С.
Учет паразитной емкости монтажа выполняется с помощью набора образцов с различной площадью диэлектрика в области перекрытия пластин и известной толщиной диэлектрической прослойки. Площади диэлектрических пластин различны благодаря вырезанным в них отверстиям различной конфигурации. Емкость полученного сложного конденсатора может быть рассчитана как сумма параллельно включенных конденсаторов с диэлектрической и вакуумной прослойками:
, (5)
где
– общая площадь отверстий в данной
пластине диэлектрика.
Преобразовав это выражение, получаем:
. (6)
Как видно из формулы (6), емкость
конденсатора линейно уменьшается с
ростом отверстий
и при значении равном площади обкладки
конденсатора становится равной:
, (7)
Площадь перекрытия пластин
указана на плате. Расстояние между
обкладками
совпадает с толщиной пластины диэлектрика
и измеряется с помощью микрометра.
Для нахождения
строят график зависимости емкости от
площади отверстий
.
График представляет собой прямую линию
(см. рис. 4). Экстраполируя прямую в точку
,
получим значение
,
входящее в формулу (7). Следовательно
для расчета
получим формулу:
. (8)
Искомое значение емкости конденсатора с прослойкой из неизвестного материала получается вычитанием паразитной емкости из значения емкости, полученной по формуле (4):
. (9)
Зная емкость конденсатора с прослойкой, можно определить диэлектрическую проницаемость материала по формуле (2).